[發(fā)明專利]用于鈔票驗(yàn)證的編碼聚合物基材有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880015247.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-03-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111164613B | 公開(公告)日: | 2023-08-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 納比爾·勞安迪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 光譜系統(tǒng)公司 |
| 主分類號(hào): | G06K19/02 | 分類號(hào): | G06K19/02 |
| 代理公司: | 上海天翔知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31224 | 代理人: | 劉粉寶;高迷想 |
| 地址: | 美國(guó)羅得島*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 鈔票 驗(yàn)證 編碼 聚合物 基材 | ||
1.一種用以鑒定物品的方法,包括:
提供包括聚合物基材的物品,所述聚合物基材包括聚合物材料和摻雜材料,所述聚合物基材對(duì)可見光譜輻射是透明的,所述聚合物材料和摻雜材料被配置成發(fā)射輻射通過(guò)所述聚合物基材,并且所述摻雜材料能夠吸收和散射至少一個(gè)特定波長(zhǎng)的輻射以便產(chǎn)生包含所述發(fā)射的輻射的波長(zhǎng)的光譜帶中的缺口圖案的光譜特征;
用于由入射輻射照射所述物品,所述入射輻射的特征在于跨越包含由所述摻雜材料吸收和散射的所述至少一個(gè)特定波長(zhǎng)的波長(zhǎng)帶的波長(zhǎng)的光譜帶,所述聚合物基材吸收和散射入射輻射的輻射以便在所述入射輻射的波長(zhǎng)的光譜帶中產(chǎn)生光譜特征,并且發(fā)射具有所述產(chǎn)生的光譜特征的輻射透過(guò)所述聚合物基材;
在所述輻射被發(fā)射透過(guò)所述聚合物基材后檢測(cè)所述光譜特征;以及
確定與所述光譜特征相關(guān)聯(lián)的代碼。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括
將確定的代碼與參考代碼進(jìn)行比較。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,進(jìn)一步包括
如果所述確定的代碼與所述參考代碼匹配,那么提供真實(shí)性指示。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述光譜特征是所述入射輻射的波長(zhǎng)的光譜帶的吸收和散射圖案。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中所述入射輻射的波長(zhǎng)的光譜帶包括可見光。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中所述入射輻射的波長(zhǎng)的光譜帶包括不可見電磁輻射。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述聚合物材料是雙向取向的聚丙烯。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述摻雜材料能夠吸收和散射多個(gè)特定波長(zhǎng)的輻射以產(chǎn)生所述光譜特征。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中吸收的和散射的多個(gè)特定波長(zhǎng)的輻射在所述多個(gè)特定波長(zhǎng)的每一個(gè)處具有不同的強(qiáng)度。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述物品是貨幣。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,進(jìn)一步包括
用不透明層覆蓋所述聚合物基材。
12.一種用于鑒定物品的系統(tǒng),包括:
包括聚合物基材的物品,所述聚合物基材包括聚合物材料和摻雜材料,所述聚合物基材對(duì)可見光譜輻射是透明的,所述聚合物材料和摻雜材料被配置成發(fā)射輻射通過(guò)所述聚合物基材,并且該摻雜材料能夠吸收和散射至少一個(gè)特定波長(zhǎng)的輻射以便產(chǎn)生包括所述發(fā)射的輻射的波長(zhǎng)的光譜帶中的缺口圖案的光譜特征;
用于由入射輻射照射所述物品的輻射源,所述入射輻射的特征在于跨越包括由所述摻雜材料吸收和散射的所述至少一個(gè)特定波長(zhǎng)的波長(zhǎng)帶的波長(zhǎng)的光譜帶,聚合物基材吸收和散射所述入射輻射的輻射以便在所述入射輻射的波長(zhǎng)的光譜帶中產(chǎn)生光譜特征,并將發(fā)射具有所述產(chǎn)生的光譜特征的輻射透過(guò)所述聚合物基材;和
被配置用以在所述輻射被發(fā)射透過(guò)所述聚合物基材后檢測(cè)所述光譜特征的傳感器。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng),進(jìn)一步包括
用于確定與所述光譜特征相關(guān)聯(lián)的代碼的計(jì)算設(shè)備。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的系統(tǒng),其中所述計(jì)算設(shè)備被配置用以比較所述確定的代碼與參考代碼以根據(jù)所述確定的代碼與所述參考代碼的比較確定所述物品是否真實(shí)。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng),其中所述光譜特征是所述入射輻射的波長(zhǎng)的光譜帶的吸收和散射圖案。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于光譜系統(tǒng)公司,未經(jīng)光譜系統(tǒng)公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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G06K19-04 .按形狀特征區(qū)分的
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