[發(fā)明專利]測量二次電池用電極中的孔隙分布的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880014563.2 | 申請(qǐng)日： | 2018-05-29 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN110352347B | 公開（公告）日： | 2022-04-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 韓正勛 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 株式會(huì)社LG化學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N23/207 | 分類號(hào)： | G01N23/207;G01N1/30;G01N1/04;H01M4/13;H01M4/02;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京鴻元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11327 | 代理人： | 黃麗娟;張?jiān)浦?/td> |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測量 二次 電池 用電 中的 孔隙 分布 方法 | ||
1.一種測量二次電池用電極中的孔隙分布的方法，該方法包括：
制備包含電極活性物質(zhì)、粘合劑和導(dǎo)電物質(zhì)的二次電池用電極；
通過將包含硅的聚合物浸漬到所述二次電池用電極中來用所述包含硅的聚合物填充所述二次電池用電極內(nèi)部的孔隙；
用染色物質(zhì)對(duì)所述粘合劑染色；
通過用離子研磨裝置的離子束照射所述二次電池用電極來制備電極橫截面樣品；
通過使用能量分散X射線光譜儀檢測所述粘合劑中的所述染色物質(zhì)和所述電極橫截面樣品上存在的硅；以及
通過分析映射有由能量分散X射線光譜儀檢測到的所述染色物質(zhì)的點(diǎn)和硅的點(diǎn)的圖像來計(jì)算所述粘合劑的面積比并確定孔隙分布，
所述能量分散X射線光譜儀的能量分辨率為5.9keV以上且為136keV以下并且最小檢測極限為0.1重量％。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述包含硅的聚合物包括選自聚二甲基硅氧烷、聚硅氧烷、聚硅烷和聚硅氮烷中的一種或多種。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述染色物質(zhì)包含鋨化合物和釕化合物中的至少一種。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述離子束是氬離子束。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述離子研磨裝置的離子束電流為100μA以上且為250μA以下。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述離子研磨裝置的放電電流為250μA以上且為450μA以下。
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