[發明專利]用于檢查資產的方法和裝置有效
| 申請號: | 201880014486.0 | 申請日: | 2018-02-08 |
| 公開(公告)號: | CN110352346B | 公開(公告)日: | 2022-04-26 |
| 發明(設計)人: | 克拉克·亞歷山大·本多爾 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/89 |
| 代理公司: | 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 張豐豪 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 檢查 資產 方法 裝置 | ||
1.一種用于檢查資產的裝置(101),所述裝置(101)包括:
探頭(102),所述探頭包括:
具有第一視場的第一圖像傳感器(171)和具有第二視場的第二圖像傳感器(172),所述第一圖像傳感器和所述第二圖像傳感器被配置成獲得立體圖像,
一個或多個檢查模式光發射器(160),所述一個或多個檢查模式光發射器被配置成在檢查模式期間提供所述資產的照明,以及
紋理圖案投射系統(168),所述紋理圖案投射系統用于將紋理圖案(166)投射于所述資產上,所述紋理圖案投射系統(168)包括
一個或多個測量模式光發射器(165),所述一個或多個測量模式光發射器被配置成在測量模式期間提供所述資產的照明,
紋理圖案(166),所述紋理圖案定位成靠近所述一個或多個測量模式光發射器(165),以及
紋理圖案投射 光學系統(167),所述紋理圖案投射 光學系統用于將所述紋理圖案(166)投射到所述資產上,其中所述紋理圖案(166)位于所述一個或多個測量模式光發射器(165)與所述紋理圖案投射 光學系統(167)之間;以及
探頭電子器件,其包括一個或多個處理器以及存儲器且構造成:
接收在檢查模式中獲取的第一立體圖像,第一立體圖像包括由第一圖像傳感器獲取的第一視場圖像和由第二圖像傳感器獲得第二視場圖像;確定所述第一立體圖像中所述資產是否處于預定觸發位置;如果確定所述資產處于所述預定觸發位置,則保存所述第一立體圖像;接收在測量模式中獲取的第二立體圖像,第二立體圖像包括由第一圖像傳感器和第二圖像傳感器獲取的相應圖像;保存所述第二立體圖像;
其中,確定所述圖像中所述資產是否處于預定觸發位置的步驟包括:識別所述第一視場圖像中的所述預定觸發位置;識別所述第二視場圖像中的第一匹配的觸發位置;確定所述預定觸發位置與所述第一匹配的觸發位置之間的差異值;確定所述差異值與前一圖像的差異值之間的變化是否超過預定閾值;如果所述變化未超過所述預定閾值,那么接收另外的第一立體圖像;以及如果所述變化超過所述預定閾值,那么保存接收到的第一立體圖像。
2.如權利要求1所述的裝置(101),所述裝置還包括用于所述第一圖像傳感器(171)的第一光學系統(121),所述第一光學系統(121)包括第一棱鏡(123)。
3.如權利要求1所述的裝置(101),其中所述紋理圖案投射系統(168)位于所述一個或多個檢查模式光發射器(160)與所述第一圖像傳感器( 171 ) 和所述第二圖像傳感器(172)之間。
4.如權利要求1所述的裝置(101),其中所述紋理圖案(166)是沉積在位于所述一個或多個測量模式光發射器(165)的頂部上的玻璃窗上的不透明圖案。
5.如權利要求4所述的裝置(101),其中所述紋理圖案(166)是點的半隨機布置。
6.如權利要求1所述的裝置(101),其中所述一個或多個檢查模式光發射器(160)是白色發光二極管(161、162)。
7.如權利要求1所述的裝置(101),其中所述一個或多個測量模式光發射器(165)是單色發光二極管。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于通用電氣公司,未經通用電氣公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201880014486.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





