[發(fā)明專利]用于檢測至少一種流體樣品中的至少一種分析物的分析物檢測器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201880012897.6 | 申請(qǐng)日： | 2018-02-21 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN110337586B | 公開（公告）日： | 2023-03-10 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | A·特拉薩夫 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 豪夫邁·羅氏有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N27/414 | 分類號(hào)： | G01N27/414 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律師事務(wù)所 11494 | 代理人： | 岑曉東 |
| 地址： | 瑞士*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 檢測 至少 一種 流體 樣品 中的 分析 檢測器 | ||
1.一種用于檢測至少一種流體樣品(111)中的至少一種分析物的分析物檢測器(110)，所述分析物檢測器(110)包括可暴露于所述流體樣品(111)的至少一個(gè)多用途電極(112)，所述分析物檢測器(110)還包括與所述至少一個(gè)多用途電極(112)電接觸的至少一個(gè)場效應(yīng)晶體管(114)，所述分析物檢測器(110)還包括至少一個(gè)電化學(xué)測量裝置(116)，所述電化學(xué)測量裝置被配置用于使用所述多用途電極(112)執(zhí)行至少一種電化學(xué)測量，其中所述分析物檢測器(110)還包括至少一個(gè)控制器(117)，其中所述控制器(117)與所述場效應(yīng)晶體管(114)和所述電化學(xué)測量裝置(116)連接，并且其中所述控制器(117)被配置用于控制通過使用所述場效應(yīng)晶體管(114)進(jìn)行的至少一種晶體管測量，并且其中所述控制器(117)另外被配置用于控制通過使用所述電化學(xué)測量裝置(116)進(jìn)行的所述至少一種電化學(xué)測量，其中所述場效應(yīng)晶體管和所述電化學(xué)測量裝置形成所述分析物檢測器的除所述多用途電極之外的單獨(dú)部件，所述多用途電極形成所述場效應(yīng)晶體管和所述電化學(xué)測量裝置二者的一部分，且其中通過使用所述場效應(yīng)晶體管進(jìn)行的晶體管測量和通過使用所述電化學(xué)測量裝置進(jìn)行的電化學(xué)測量是不同且單獨(dú)的測量，
其中所述多用途電極(112)基于至少一種包括使用場效應(yīng)晶體管(114)的方法和至少一種包括使用電化學(xué)測量裝置(116)的其他方法參與分析檢查，其中術(shù)語“分析檢查”理解為描述對(duì)至少一種分析物的定性和/或定量檢測，
其中所述分析物檢測器(110)包括可暴露于所述流體樣品(111)的至少一個(gè)另外的電極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的分析物檢測器(110)，其中所述控制器(117)被配置用于控制通過測量所述場效應(yīng)晶體管(114)的漏極電流進(jìn)行的所述至少一種晶體管測量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的分析物檢測器(110)，其中所述控制器(117)被配置用于順序地觸發(fā)至少一種使用所述場效應(yīng)晶體管(114)的測量和所述至少一種電化學(xué)測量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的分析物檢測器(110)，其中所述控制器(117)被配置用于重復(fù)執(zhí)行所述至少一種使用所述場效應(yīng)晶體管(114)的測量和所述至少一種電化學(xué)測量的序列。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2的分析物檢測器(110)，其中所述多用途電極(112)與所述場效應(yīng)晶體管(114)的柵電極(120)電接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2的分析物檢測器(110)，其中所述多用途電極(112)至少部分地與選自所述場效應(yīng)晶體管(114)的柵電極(120)和所述場效應(yīng)晶體管(114)的溝道(126)的至少一種元件相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或2的分析物檢測器(110)，其中所述分析物檢測器(110)包括互連至少兩個(gè)導(dǎo)電電極的至少一個(gè)石墨烯層，其中所述石墨烯層可抵達(dá)所述分析物，其中所述多用途電極(112)包括由以下組成的組中的至少一種元件：所述至少兩個(gè)導(dǎo)電電極中的至少一個(gè)、所述石墨烯層。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2的分析物檢測器(110)，其中所述至少一個(gè)多用途電極(112)與所述場效應(yīng)晶體管(114)的源電極(122)或漏電極(124)之一或兩者電接觸。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或2的分析物檢測器(110)，其中所述分析物檢測器(110)包括可暴露于所述流體樣品(111)的至少一個(gè)另外的電極，所述至少一個(gè)另外的電極包括至少一個(gè)選自對(duì)電極(168)和參比電極(132)的電極，其中所述電化學(xué)測量裝置(116)被配置用于使用所述多用途電極(112)和所述另外的電極執(zhí)行所述至少一種電化學(xué)測量。
10.根據(jù)權(quán)利要求1或2的分析物檢測器(110)，其中所述多用途電極(112)包括暴露于其表面的至少一個(gè)功能部件(153)，其中所述至少一個(gè)功能部件(153)被配置用于與所述分析物相互作用。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于豪夫邁·羅氏有限公司，未經(jīng)豪夫邁·羅氏有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201880012897.6/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 至少三個(gè)至少三處操作點(diǎn)共構(gòu)鍵的鍵盤
- 至少部分地生成和/或至少部分地接收至少一個(gè)請(qǐng)求
- 至少部分地由晶片制成并且包括至少一個(gè)復(fù)制的集成電路的至少一個(gè)管芯
- 帶有至少一個(gè)通道和至少兩種液體的設(shè)備
- 包括至少一個(gè)定子和至少兩個(gè)轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)電機(jī)
- 用于生成至少一個(gè)對(duì)象的至少一個(gè)標(biāo)志的方法
- 用于生成至少一個(gè)對(duì)象的至少一個(gè)標(biāo)志的設(shè)備
- 具有至少兩個(gè)腔和至少一個(gè)轉(zhuǎn)移閥的裝置
- 至少兩個(gè)制動(dòng)襯墊和至少一個(gè)彈簧的組件
- 至少五層的光學(xué)裝置
