[發明專利]多孔體質量檢查裝置和多孔體的質量的檢查方法

在審

• 申請號: 201880010485.9
• 申請日: 2018-02-12
• 公開（公告）號: CN110268244A
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 鄭惠美;姜景文;楊栽春
• 申請（專利權）人: 株式會社LG化學
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08;G01N27/04
• 代理公司: 北京鴻元知識產權代理有限公司 11327
• 代理人: 李琳;陳英俊

1.一種多孔體質量檢查裝置，包括：

測量部，用于測量多孔體與氣體擴散層之間的接觸電阻；

加壓部，用于對所述多孔體上的壓敏變色基材加壓；

圖像繪制部，用于基于經加壓的所述壓敏變色基材的變色區域計算所述壓敏變色基材與所述多孔體之間的接觸面積；

傳送部，用于傳送所述多孔體和所述壓敏變色基材；以及

運算部，用于基于所述接觸電阻和所述接觸面積執行所述多孔體與所述氣體擴散層之間的界面接觸電阻的運算。

2.根據權利要求1所述的多孔體質量檢查裝置，其中，所述運算部通過下面的等式1執行界面接觸電阻的運算：

[等式1]

ICR＝R_BP|GDL×AC_actual

其中，ICR是所述多孔體與所述氣體擴散層之間的界面接觸電阻，R_BP|GDL是所述多孔體與所述氣體擴散層之間的接觸電阻，AC_actual是基于經加壓的所述壓敏變色基材的所述變色區域所計算的所述壓敏變色基材與所述多孔體之間的接觸面積。

3.根據權利要求1所述的多孔體質量檢查裝置，其中，所述測量部包括上面設置有氣體擴散層的固定器和接觸電阻測量傳感器。

4.根據權利要求1所述的多孔體質量檢查裝置，其中，所述加壓部包括壓敏變色基材傳送輥和壓力輥。

5.根據權利要求4所述的多孔體質量檢查裝置，其中，所述加壓部通過所述壓力輥對通過所述傳送輥穩定放置在所述多孔體上的所述壓敏變色基材加壓至預定壓力。

6.根據權利要求5所述的多孔體質量檢查裝置，其中，所述預定壓力對應于與燃料電池堆中的所述氣體擴散層接觸的所述多孔體的壓力。

7.根據權利要求1所述的多孔體質量檢查裝置，其中，所述圖像繪制部包括用于分別從所述多孔體收集經加壓的所述壓敏變色基材的收集部和用于掃描所收集的所述壓敏變色基材的所述變色區域的掃描儀。

8.根據權利要求1所述的多孔體質量檢查裝置，其中，所述測量部包括用于測量所述多孔體的厚度的計量傳感器。

9.根據權利要求1所述的多孔體質量檢查裝置，還包括用于測量所述多孔體重量的重量測量部。

10.根據權利要求9所述的多孔體質量檢查裝置，其中，所述重量測量部包括由彈性體支撐的托盤，在所述托盤中堆疊和容納所述多孔體。

11.根據權利要求1所述的多孔體質量檢查裝置，還包括產品選擇部，所述產品選擇部包括真空吸附部。

12.根據權利要求1所述的多孔體質量檢查裝置，包括顯示部，用于輸出所述接觸電阻、所述接觸面積和所述界面接觸電阻中的一個或多個。

13.一種多孔體的質量的檢查方法，包括以下步驟：

測量多孔體與氣體擴散層之間的接觸電阻；

對穩定放置在所述多孔體上的壓敏變色基材加壓至預定壓力；

基于經加壓的所述壓敏變色基材的變色區域計算所述壓敏變色基材與所述多孔體之間的接觸面積；和

基于所述接觸電阻和所述接觸面積執行所述多孔體與所述氣體擴散層之間的界面接觸電阻的運算。