[發明專利]電子照相方式的圖像形成裝置及用于圖像形成裝置的除電部件

有效

• 申請號: 201880001195.8
• 申請日: 2018-01-12
• 公開（公告）號: CN108713170B
• 公開（公告）日: 2021-01-12
• 發明（設計）人: 坂戶伸吾;田中作白;小林清高;豬谷広佳;渡部卓兒;林英理子
• 申請（專利權）人: 京瓷辦公信息系統株式會社
• 主分類號: G03G21/06
• 分類號: G03G21/06
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 周善來;李雪春

在圖像形成裝置中，關于利用交流阻抗法從預先規定的頻率范圍的科爾?科爾圖得到的除電部件(27)的內部阻抗(Z1)的電阻成分(Ra)和除電部件(27)的接觸阻抗(Z2)的電阻成分(Rb)，內部阻抗(Z1)的電阻成分(Ra)為將根據預定的計算式計算出的計算電阻值乘以根據除電部件(27)的線速度與感光體(21)的線速度的比率計算出的第一確定值得到的值，所述計算電阻值是用于在用感光體(21)和除電部件(27)的接觸寬度除以感光體(21)的線速度得到的除電時間期間將感光體(21)的除電前電位降低到規定的除電后電位所需要的除電部件(27)的直流電阻值，并且接觸阻抗(Z2)的電阻成分(Rb)為將所述計算電阻值乘以根據所述比率計算出的第二確定值得到的值。

技術領域

本發明涉及電子照相方式的圖像形成裝置及除電部件。

背景技術

在電子照相方式的圖像形成裝置中，在帶電的感光體上形成靜電潛影后，將用調色劑顯影得到的所述感光體上的調色劑像轉印到薄片體上，并通過除電裝置去除殘留于所述感光體的電荷。作為所述除電裝置的一個例子，已為公眾所知的有使接地的除電部件與感光體接觸從而去除感光體的電荷的構成(例如，參照專利文獻1)。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利公開公報特開平01-154186號

發明內容

本發明要解決的技術問題

但是，在除電部件與感光體接觸的結構中，有時所述除電部件的內部電阻等電特性對除電性能產生影響。但是，不僅是除電部件的內部電阻，有時除電部件的接觸電阻也對除電性能產生影響。

本發明的目的在于提供通過也考慮接觸電阻從而能夠提高除電性能的圖像形成裝置以及在所述圖像形成裝置中使用的除電部件。

解決技術問題的技術方案

本發明的一個方式的圖像形成裝置，其包括感光體和除電部件，所述除電部件電接地并配置為與所述感光體的表面接觸且可轉動，關于利用交流阻抗法從預先規定的頻率范圍的科爾-科爾圖得到的所述除電部件的內部阻抗的電阻成分和接觸阻抗的電阻成分，所述內部阻抗的電阻成分為將計算電阻值乘以第一確定值得到的值以下，根據預定的計算式計算出所述計算電阻值，根據所述除電部件的線速度與所述感光體的線速度的比率計算出所述第一確定值，所述計算電阻值是用于在除電時間期間將所述感光體的除電前電位降低到預定的除電后電位所需要的所述除電部件的直流電阻值，用所述感光體和所述除電部件的接觸寬度除以所述感光體的線速度得到所述除電時間，所述接觸阻抗的電阻成分為將所述計算電阻值乘以第二確定值得到的值以下，根據所述比率計算出所述第二確定值，當設所述內部阻抗的電阻成分為Ra，設所述接觸阻抗的電阻成分為Rb，設所述計算電阻值為R21，設所述比率為Sr時，根據下述計算式(2)計算出所述內部阻抗的電阻成分Ra，根據下述計算式(3)計算出所述接觸阻抗的電阻成分Rb，

[數學式2]

Ra≤R21×3×{1+(|1-Sr|×1.9)}…(2)

[數學式3]

Rb≤R21×1.2×{1+(|1-Sr|×1.9)}…(3)

發明效果

按照本發明，能夠提供通過也考慮接觸電阻從而能夠提高除電性能的圖像形成裝置以及在所述圖像形成裝置中使用的除電部件。

附圖說明

圖1是表示本發明第一實施方式的圖像形成裝置的結構的圖。

圖2是用于說明本發明第一實施方式的圖像形成裝置的圖像形成部的主要部分的圖。