[實用新型]毫米波/太赫茲波成像設備

有效

• 申請號: 201822275858.5
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN209296949U
• 公開（公告）日: 2019-08-23
• 發明（設計）人: 趙自然;游燕;金穎康;馬旭明;解歡
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司;清華大學
• 主分類號: G01V8/10
• 分類號: G01V8/10
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 張啟程

1.一種毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，包括準光學組件、毫米波/太赫茲波探測器陣列和斬波器，

所述準光學組件包括：

多面體轉鏡，所述多面體轉鏡的每個側面分別設置有反射板，所述多面體轉鏡能夠繞其轉動軸線轉動，以使得多個反射板輪流用作第一反射板來接收并反射第一被檢對象位于第一視場不同位置的部分自發輻射或反射回來的毫米波/太赫茲波波束；多個所述反射板中的與所述第一反射板相鄰的另一反射板用作第二反射板來接收并反射第二被檢對象位于第二視場不同位置的部分自發輻射或反射回來的毫米波/太赫茲波波束；和

第三反射板，所述第三反射板適應于將來自所述第二反射板的毫米波//太赫茲波反射到所述斬波器上；

所述斬波器位于所述第一反射板的反射波路和所述第三反射板的反射波路上，所述斬波器被配置成在任一時刻僅來自所述第一反射板的毫米波/太赫茲波或僅來自所述第三反射板的毫米波/太赫茲波反射或透射到所述毫米波/太赫茲波探測器陣列，所述斬波器繞其中心軸線轉動以使來自所述第一反射板和所述第三反射板的毫米波/太赫茲波交替地由所述毫米波/太赫茲波探測器陣列接收；以及

所述毫米波/太赫茲波探測器陣列適用于接收來自所述準光學組件的波束。

2.根據權利要求1所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，所述準光學組件還包括聚焦透鏡，所述聚焦透鏡位于所述斬波器和所述毫米波/太赫茲波探測器陣列之間。

3.根據權利要求1所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，所述準光學組件還包括第一聚焦透鏡和第二聚焦透鏡，所述第一聚焦透鏡位于所述第一反射板和所述斬波器之間，所述第二聚焦透鏡位于所述第二反射板和所述第三反射板之間。

4.根據權利要求1所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，還包括吸波材料，所述吸波材料適用于吸收經由所述斬波器反射的來自所述第一反射板的毫米波/太赫茲波，以及經由所述斬波器透射的來自所述第三反射板的毫米波/太赫茲波。

5.根據權利要求1所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，所述多面體轉鏡的所述反射板的數量為m個，其中，6≥m≥3。

6.根據權利要求5所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，m個所述反射板與所述轉動軸線均是平行的。

7.根據權利要求5所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，m個所述反射板與所述轉動軸線之間的角度沿著所述多面體轉鏡的旋轉方向遞增或遞減。

8.根據權利要求1所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，所述斬波器包括至少一個葉片。

9.根據權利要求8所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，多個所述葉片等間隔地圍繞所述中心軸線設置。

10.根據權利要求1所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，還包括殼體，所述準光學組件和所述毫米波/太赫茲波探測器陣列位于所述殼體內，所述殼體的相對側壁上分別設置有供來自所述第一被檢對象的波束穿過的第一窗口和供來自所述第二被檢對象的波束穿過的第二窗口。

11.根據權利要求1所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，還包括適用于驅動所述多面體轉鏡轉動的第一驅動裝置。

12.根據權利要求1所述的毫米波/太赫茲波成像設備，其特征在于，還包括適用于驅動所述斬波器轉動的第二驅動裝置。