[實(shí)用新型]一種用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201822275820.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN209624393U | 公開(公告)日: | 2019-11-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張建紅;王紅球 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 同方威視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/65 | 分類號(hào): | G01N21/65 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 張啟程 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 被檢物 反斯托克斯光 波長(zhǎng) 熒光 分光鏡 拉曼檢測(cè)系統(tǒng) 本實(shí)用新型 激光 熒光干擾 激光器 透射 光譜儀接收 光譜儀 光譜分析 拉曼光譜 拉曼信號(hào) 波段 反射 采集 | ||
本實(shí)用新型公開了一種用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng),包括:激光器;分光鏡,定位成將來(lái)自所述激光器的激光向被檢物反射,并僅允許來(lái)自所述被檢物的反斯托克斯光透射通過所述分光鏡;以及光譜儀,所述光譜儀接收來(lái)自所述被檢物且透射通過所述分光鏡的反斯托克斯光,并對(duì)所述反斯托克斯光進(jìn)行光譜分析以得到所述被檢物的拉曼光譜,本實(shí)用新型通過被檢物的反斯托克斯光來(lái)識(shí)別被檢物,由于采集到的被檢物的反斯托克斯光的波長(zhǎng)小于激光的波長(zhǎng),而熒光的波長(zhǎng)大于激光的波長(zhǎng),被檢物的反斯托克斯光與熒光在不同波段,二者沒有重疊,故熒光不會(huì)對(duì)被檢物的反斯托克斯拉曼信號(hào)產(chǎn)生影響,從而就消除了熒光的干擾。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
當(dāng)一定頻率的激光照射在物質(zhì)上時(shí),物質(zhì)被激光激發(fā)以后會(huì)產(chǎn)生斯托克斯散射線和反斯托克斯散射線。其中,斯托克斯散射線是頻率比激光頻率低的、波長(zhǎng)比激光長(zhǎng)的變散射線,反斯托克斯散射線是頻率比激光頻率高的、波長(zhǎng)比激光短的變散射線。斯托克斯散射線和反斯托克斯散射線均具有可以用于識(shí)別物質(zhì)的指紋特征。
采用拉曼光譜對(duì)物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)時(shí),通常采用的是斯托克斯散射線,利用斯托克斯射線的指紋特征對(duì)物質(zhì)進(jìn)行識(shí)別。不過,斯托克斯散射線的產(chǎn)生往往會(huì)同時(shí)伴隨著熒光的產(chǎn)生。斯托克斯散射線的波長(zhǎng)大于激光的波長(zhǎng),熒光的波長(zhǎng)也大于激光的波長(zhǎng),因此在采用斯托克斯散射線對(duì)物質(zhì)進(jìn)行拉曼檢測(cè)時(shí),常常會(huì)受到熒光的干擾,并且由于熒光信號(hào)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于斯托克斯散射線的拉曼信號(hào),導(dǎo)致很多物質(zhì)由于熒光干擾而無(wú)法進(jìn)行精確地檢測(cè)。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題和缺陷的至少一個(gè)方面。
本實(shí)用新型提供一種用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng),該用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng)通過被檢物的反斯托克斯信號(hào)來(lái)識(shí)別被檢物,可以消除熒光對(duì)被檢物的拉曼信號(hào)的影響。
根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面,提供一種用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng),包括:激光器;分光鏡,定位成將來(lái)自所述激光器的激光向被檢物反射,并僅允許來(lái)自所述被檢物的反斯托克斯光透射通過所述分光鏡;以及光譜儀,所述光譜儀接收來(lái)自所述被檢物且透射通過所述分光鏡的反斯托克斯光,并對(duì)所述反斯托克斯光進(jìn)行光譜分析以得到所述被檢物的拉曼光譜。
根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例,用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng)還包括反射鏡,所述反射鏡定位成將來(lái)自所述激光器的激光反射至所述分光鏡。
根據(jù)本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例,所述分光鏡設(shè)置在所述激光器的直射光路上,所述被檢物設(shè)置在所述分光鏡的反射光路上,所述光譜儀設(shè)置在所述分光鏡的透射光路上。
根據(jù)本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例,所述反射鏡設(shè)置在所述激光器的直射光路上,所述分光鏡設(shè)置在所述反射鏡的反射光路上,所述被檢物設(shè)置在所述分光鏡的反射光路上,所述光譜儀設(shè)置在所述分光鏡的透射光路上。
根據(jù)本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例,用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng)還包括探頭,所述激光器將激光傳送給所述探頭,以便所述探頭使激光照射到所述分光鏡上,并通過所述分光鏡將激光反射至所述被檢物上以激發(fā)出所述被檢物的反斯托克斯光,所述探頭收集來(lái)自所述被檢物并透射通過所述分光鏡的反斯托克斯光,并將所述反斯托克斯光傳送給所述光譜儀。
根據(jù)本實(shí)用新型的另一個(gè)實(shí)施例,用于消除熒光干擾的拉曼檢測(cè)系統(tǒng)還包括探頭,所述激光器將激光傳送給所述探頭,以便所述探頭使激光照射到所述反射鏡上,并依次通過所述反射鏡和所述分光鏡將激光反射至所述被檢物上以激發(fā)出所述被檢物的反斯托克斯光,所述探頭收集來(lái)自所述被檢物并透射通過所述分光鏡的反斯托克斯光,并將所述反斯托克斯光傳送給所述光譜儀。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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