[實用新型]一種高精輪廓度輔助測量治具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201822269461.5
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN209512818U
• 公開（公告）日: 2019-10-18
• 發(fā)明（設計）人: 陳偉華;賀林;劉新泉;陳海平
• 申請（專利權）人: 金德精密配件（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01B21/20
• 分類號: G01B21/20
• 代理公司: 蘇州創(chuàng)元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 馬明渡;吳雯玨

本實用新型涉及一種高精輪廓度輔助測量治具，用于輪廓度待檢測零件的輔助測量，待檢測零件包括一零件主體，該零件主體上具有一待檢測輪廓度的圓弧，所述零件主體上間隔設有第一通孔和第二通孔；輔助測量治具包括一基板，基板上設有第一磁體、第二磁體、第三磁體、第一定位凸起以及第二定位凸起，第一磁體、第二磁體以及第三磁體依次間隔固定排列在基板上，第一定位凸起設于第一磁體和第二磁體之間，且靠近第一磁體，所述第二定位凸起設于第二磁體和第三磁體之間，且靠近第三磁體，第一定位凸起和第二定位凸起分別與所述待檢測零件的第一通孔和第二通孔一一對應設置；基板將待檢測零件在X軸、Y軸以及Z軸方向上定位。

技術領域

本實用新型涉及一種輔助測量治具，特別涉及一種用于檢測打印機零件輪廓度的輔助測量治具。

背景技術

總所周知，一般零件加工完成后都要對其進行檢測，檢測其是否符合標準。現(xiàn)有的打印機通紙部件，在加工完畢后，要求對零件的輪廓度進行嚴格管控。目前通常采用三次元測量儀對其進行測量，主要通過三位取點來進行測量的一種儀器，其原理是將被測物體置于三次元測量空間，然后儀器要先對被測物體進行基準點查找，找到基準點后，再獲取被測物體上各測點的坐標位置，根據這些點的空間坐標值，經計算求出被測物體的幾何尺寸，形狀和位置。

以往，采用這種方式測量時，通常需要人工將被測零件放置在三次元測量空間中，找到基準點后，然后通過人工操作手柄進行取點測量。每測量完后，進行下一個相同零件測量時，由于通過人工放置零件，并且零件質量較輕，每次放置的位置肯定會有偏差，導致測試時又需要重新找基準點，而且每次放置的位置不同，再加上人工操作手柄取點，就會給測量帶來較大誤差。

鑒于此，提供一種高精輪廓度輔助測量治具，便成為本實用新型所要研究的課題。

發(fā)明內容

本實用新型的目的在于：提出一種高精輪廓度輔助測量治具，用于輔助測量，將基準點固定，從而可以解決現(xiàn)有技術測量誤差較大的問題。

為達到上述目的，本實用新型采用的技術方案是：一種高精輪廓度輔助測量治具，

用于輪廓度待檢測零件的輔助測量，所述待檢測零件包括一零件主體，該零件主體上具有一待檢測輪廓度的圓弧，所述零件主體上間隔設有第一通孔和第二通孔；

所述輔助測量治具包括一基板，所述基板上設有第一磁體、第二磁體、第三磁體、第一定位凸起以及第二定位凸起，所述第一磁體、第二磁體以及第三磁體依次間隔固定排列在基板上，所述第一定位凸起設于第一磁體和第二磁體之間，且靠近第一磁體，所述第二定位凸起設于第二磁體和第三磁體之間，且靠近第三磁體，所述第一定位凸起和第二定位凸起分別與所述待檢測零件的第一通孔和第二通孔一一對應設置；

定義水平方向垂直的兩個方向分別為X軸方向和Y軸方向，定義豎直的方向為Z軸方向；在裝配狀態(tài)下，所述待檢測零件安置在所述基板上，所述基板上的第一定位凸起穿設在零件主體的第一通孔中，所述基板上的第二定位凸起穿設在零件主體的第二通孔中，以將待檢測零件在X軸、Y軸方向上定位，所述第一磁體、第二磁體以及第三磁體均位于零件主體的下方，用于吸附所述待檢測零件，以將待檢測零件在Z軸方向上定位。

上述技術方案中的有關內容解釋如下：

1、上述方案中，所述基板的平面度為0.02mm。

2、上述方案中，所述零件主體大體呈弧形，且所述零件主體的兩自由端，一者設有一圓形孔，另一者設有一橢圓孔，所述的圓形孔和橢圓孔為所述待檢測零件的基準。

3、上述方案中，所述零件主體具有圓弧的一側面上，沿圓弧均勻間隔設有三個鉤爪。

4、上述方案中，對應所述鉤爪，所述基板上設有讓位通孔，以將零件主體貼合安置在所述基板上。

5、上述方案中，所述輔助測量治具安置于三次元測量空間中的固定位置