[實用新型]一種觸摸屏光學檢測系統

有效

• 申請號: 201822255765.6
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN209570496U
• 公開（公告）日: 2019-11-01
• 發明（設計）人: 景磊
• 申請（專利權）人: 上海帆聲圖像科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/958
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及一種觸摸屏光學檢測系統，包括照明裝置和成像裝置，成像裝置包括第一成像裝置和第二成像裝置；所述光源發出的光經準直鏡組準直后，被第一反射鏡通過光路連接通道反射入成像裝置；第一分光鏡將入射的光反射至待測樣品，經待測樣品散射的光通過第一分光鏡入射至第一鏡組，然后光經第二分光鏡透射至第二鏡組，以及反射至第二反射鏡，第二鏡組匯聚的光進入第一工業相機成像；第二反射鏡將光線反射至第三鏡組，第三鏡組匯聚的光進入第二工業相機成像。本實用新型可對觸控IC的Sensor層和Driver層分別成像，提高了測試精度和生產效率，增加了通用性。

技術領域

本實用新型涉及一種觸摸屏檢測系統，尤其涉及一種觸摸屏光學檢測系統。

背景技術

優良的觸控體驗使得觸摸屏深入消費級電子產品領域，成為重要的人機交互手段。常規的觸控屏包括玻璃蓋板、OCA粘接層和觸控IC，觸控IC包括Sensor層、透明樹脂和Driver層。在實際的生產制作過程中，因為上層玻璃蓋板的接觸和下部元件的擠壓，觸控IC經常會折斷、嚴重變形從而降低觸摸屏的感應效果。因此，觸控類產品在大規模量產時都需要對觸控IC的Sensor和Driver兩層電路進行檢測分析，防止出現斷線等不良。

近來，無接觸、判斷精度高、客觀化的機器視覺測量方式越來越受到生產廠商的青睞，主要的機器視覺測量系統有兩種，一種是將光源發出的光經光路調節照射到待測樣品，經散射后的光最終被成像物鏡收集進入工業相機成像分析。此系統在實際測試時，因為需要分析觸控IC的上下兩個表面的sensor和driver兩層電路線的缺陷，需要調整調節旋鈕分別對待測觸控IC的兩個面成像，調節過程需要反復旋轉才能得到相應較清晰的像，導致誤差大，生產效率較低。另一種是利用環形的LED光源發出的多角度光線經待測樣品反射，被物鏡收集處理后進入工業相機。該方案需要采用大景深的成像鏡頭才能同時拍攝清楚觸控IC的Sensor和Driver兩層，拍攝的圖片因為景深的緣故會將周圍的雜質、氣泡等拍攝入圖片，往往造成算法分析的過檢，使得生產成本增加。上下兩層Sensor和Driver層相對的深度不同，鏡頭實際收集的光線強度也會不同，增大了算法處理的難度；觸摸屏尺寸的差異，使得該光學檢測系統的通用性降低。因此，急需一種測試精度高、算法簡單、生產效率高、通用性強的觸摸屏光學檢測系統。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是提供一種測試精度和生產效率高及通用性強的觸摸屏光學檢測系統。

為解決上述技術問題，本實用新型的技術方案是：包括照明裝置和成像裝置，所述照明裝置包括光源、準直鏡組和第一反射鏡；所述成像裝置包括第一成像裝置、第二光路連接裝置和第二成像裝置，第一成像裝置包括第一分光鏡、第一鏡組、第二分光鏡、第二鏡組和第一工業相機，第二成像裝置包括第二反射鏡、第三鏡組和第二工業相機。

照明裝置和成像裝置之間設有第一光路連接通道，所述光源發出的光經準直鏡組準直后，被第一反射鏡通過第一光路連接通道反射入成像裝置。

所述第一分光鏡將經第一光路連接通道入射的光反射至待測樣品，經待測樣品散射的光通過第一分光鏡入射至第一鏡組，對光路整形的第一鏡組設于第一分光鏡和第二分光鏡之間，光經第二分光鏡透射至第二鏡組，以及反射至第二反射鏡，第二鏡組匯聚的光最終進入設于第一成像裝置端部的第一工業相機成像。

所述第二光路連接通道連通第一成像裝置和第二成像裝置，第二分光鏡和第二反射鏡設于第二光路連接通道兩側，使經第二分光鏡反射的光通過第二光路連接通道入射至第二反射鏡；第二反射鏡將光線反射至第三鏡組，第三鏡組匯聚的光最終進入設于第二成像裝置端部的第二工業相機成像。

作為優選的技術方案，所述光源是同軸光源。

作為優選的技術方案，所述反射鏡是棱鏡。

作為優選的技術方案，所述待測樣品是觸控屏，觸控屏包括玻璃蓋板、OCA粘接層和觸控IC，所述觸控IC包括Sensor層、透明樹脂和Driver層。