[實用新型]新型多路諧振頻率測試系統

有效

• 申請號: 201822253548.3
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN209417150U
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 沈小鋒
• 申請（專利權）人: 常州中策儀器有限公司
• 主分類號: G01R23/02
• 分類號: G01R23/02;G01R31/34;H04R29/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及一種新型多路諧振頻率測試系統，包括主控制單元、顯示單元、鍵控單元、信號源、多路模擬開關、多組調幅控制電路、若干功放及測量通道，所述顯示單元、鍵控單元分別與主控制單元相連，所述主控制單元分別與多路模擬開關、多組調幅控制電路、功放及測量通道相連，所述信號源通過多路模擬開關與多組調幅控制電路相連，所述多組調幅控制電路與若干功放及測量通道相連。本實用新型能在手機用微型揚聲器和微型振動電機老化的同時對其每一路同時進行F0測量，每個通道的F0不用再分時測量，測試時間極短，極大的提高了測試效率和老化的準確性。

技術領域

本實用新型涉及一種測試儀器，尤其涉及一種新型多路諧振頻率測試系統。

背景技術

由于手機用微型揚聲器和微型振動電機工作時的諧振頻率F0即使同一批次產品其F0也會有差異，因此在某些需要通過F0對微型揚聲器和微型振動電機進行精確調控的中高端手機應用中，其諧振頻率F0就需要進行逐個測定。

實用新型內容

本實用新型的目的是，在原有的多路F0測試電路基礎上，設計了一種新型多路諧振頻率測試系統，能在手機用微型揚聲器和微型振動電機老化的同時對其每一路同時進行F0測量，每個通道的F0不用再分時測量，測試時間極短，極大的提高了測試效率和老化的準確性。

本實用新型是通過如下技術方案實現的：一種新型多路諧振頻率測試系統，包括主控制單元、顯示單元、鍵控單元、信號源、多路模擬開關、多組調幅控制電路、若干功放及測量通道，所述顯示單元、鍵控單元分別與主控制單元相連，所述主控制單元分別與多路模擬開關、多組調幅控制電路、功放及測量通道相連，所述信號源通過多路模擬開關與多組調幅控制電路相連，所述多組調幅控制電路與若干功放及測量通道相連。

其中，本實用新型對功放及測量通道進行了設計，所述功放及測量通道包括從控制器、掃頻電路、調幅控制電路、多路模擬開關電路、功放電路、電壓差分電路、電流差分電路、轉換電路、電壓增益變換電路、電流增益變換電路及雙通道同步模數轉化電路，所述從控制器分別與主控制單元、雙通道同步模數轉化電路、電壓增益變換電路、電流增益變換電路、掃頻電路、調幅控制電路及多路模擬開關電路相連，所述調幅控制電路分別與多組調幅控制電路、多路模擬開關電路相連，所述掃頻電路與多路模擬開關電路相連，所述多路模擬開關電路與功放電路相連，所述功放電路依次通過電流差分電路、轉換電路、電流增益變換電路與雙通道同步模數轉化電路相連，功放電路依次通過電壓差分電路、轉換電路、電壓增益變換電路與雙通道同步模數轉化電路相連。

在本實用新型一較佳實施例中，所述多路模擬開關包括兩個多路模擬開關，所述多組調幅控制電路包括A組通道調幅控制電路及B組通道調幅控制電路，其中一個多路模擬開關通過A組通道調幅控制電路與10組功放及測量通道相連，另外一個多路模擬開關通過B組通道調幅控制電路與另外10組功放及測量通道相連。

其中，所述A組通道調幅控制電路及B組通道調幅控制電路采用ADI的AD5443數模轉換芯片。

其中，所述主控制單元的控制器采用NXP的LPC1768處理器。

其中，所述從控制器采用NXP的LPC1114處理器。

其中，所述掃頻電路采用ADI的AD9833。

其中，所述功放模塊采用NS的LM3886TF。

其中，所述電壓差分電路采用INA146芯片，電流差分電路采用INA128芯片；所述電壓增益變換電路采用PGA112芯片，電流增益變換電路采用PGA113芯片；所述轉換電路采用ADI的AD8436真有效值轉換芯片。

其中，所述雙通道同步模數轉化電路采用TI的ADS8361雙通道同步采樣芯片。