[實用新型]光纖宏彎損耗測試工裝及測試裝置有效
| 申請號: | 201822244572.0 | 申請日: | 2018-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN209606057U | 公開(公告)日: | 2019-11-08 |
| 發明(設計)人: | 吳磊;薛鵬鵬;鮑蒙蒙;成康康;龔海華;吳明金;江金金 | 申請(專利權)人: | 中天科技光纖有限公司;江蘇中天科技股份有限公司;江東科技有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人: | 孫芬 |
| 地址: | 226009 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 浮動板組件 底板 驅動組件 光纖宏彎損耗 本實用新型 測試工裝 測試裝置 待測光纖 繞線組件 繞線柱 測試數據 宏彎損耗 受力均勻 預設程序 自動完成 可滑動 繞圈 自動化 采集 配合 分析 | ||
1.一種光纖宏彎損耗測試工裝,用于裝夾待測光纖,其特征在于:所述光纖宏彎損耗測試工裝包括底板、至少一浮動板組件及與所述浮動板組件對應數量的驅動組件,每一所述驅動組件安裝于所述底板一側,每一所述浮動板組件可滑動的安裝于所述底板上,每一驅動組件連接于所述浮動板組件,以驅動所述浮動板組件相對于底板滑動,所述底板上設有多組直徑相同或不同的第一繞線組件,每一浮動板組件包括若干第二繞線柱,所述每一組第一繞線組件與對應的第二繞線柱配合,用于彎曲待測光纖。
2.根據權利要求1所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:每組第一繞線組件包括若干等間距排列的第一繞線柱,每一所述第一繞線組件一側凸設有一限位柱,所述限位柱用于對所述浮動板組件相對底板滑動的位置進行限定。
3.根據權利要求2所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:所述第一繞線柱遠離所述底板的一端設有延伸部,所述延伸部自所述第一繞線柱端部向外延伸,所述延伸部的直徑大于與之連接的第一繞線柱的直徑。
4.根據權利要求1所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:每一浮動板組件還包括本體及導軌,所述本體一側開設導槽,所述導軌安裝于所述底板上,所述導軌與所述導槽配合,使所述本體沿所述導軌滑動。
5.根據權利要求4所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:所述第二繞線柱等間距排列于所述本體一側,所述第二繞線柱與對應的所述第一繞線柱的直徑相等并且數量相同。
6.根據權利要求5所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:所述本體上設有多個貫穿所述本體的導向槽,所述導向槽與所述第二繞線柱一一對應并設置于所述第二繞線柱一側,所述第一繞線組件的每一第一繞線柱穿過對應的導向槽,并可在所述導向槽中滑動,所述本體上還設有一貫穿所述本體的限位槽,所述每一限位柱穿過對應的限位槽。
7.根據權利要求1所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:每一所述驅動組件包括氣缸和與所述氣缸匹配的電磁閥,所述電磁閥控制所述氣缸的打開或關閉。
8.根據權利要求1所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:所述底板兩端相對安裝有安裝底座和圈徑控制裝置,所述安裝底座用于固定光纖連接器,所述圈徑控制裝置用于控制所述待測光纖折彎處圈徑。
9.根據權利要求8所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:所述圈徑控制裝置包括固定板和連接于所述固定板一側的多個固定樁,多個所述固定樁間隔排列,以抵持所述待測光纖。
10.根據權利要求1所述的光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:所述底板背離所述第一繞線組件的一側還設有多個第一支撐件,每一所述浮動板組件背離所述底板的一側還設有一手柄,所述手柄用于手動調節所述浮動板組件的位置。
11.一種測試裝置,包括如權利要求1至10中任一項中所述光纖宏彎損耗測試工裝,其特征在于:所述測試裝置還包括測量組件、控制器及若干連接組件,每一所述連接組件一端連接于所述測量組件,另一端用于連接所述待測光纖,所述測量組件用于測量所述光纖的光功率,所述光纖宏彎損耗測試工裝用于對所述光纖進行繞圈,所述控制器通過電路分別連接并控制所述測量組件及所述光纖宏彎損耗測試工裝,用于測量所述光纖在處于平直狀態及繞圈狀態下的光功率,并計算所述光纖的宏彎損耗。
12.根據權利要求11所述的測試裝置,其特征在于:所述測量組件包括光源組件、光檢測器組件,所述光源組件用于給所述光纖提供光源產生光信號,所述光檢測器組件用于接收所述光信號并測量所述光纖的光功率。
13.根據權利要求12所述的測試裝置,其特征在于:所述光源組件包括單模光源及多模光源,分別用于給單模光纖和多模光纖提供光信號。
14.根據權利要求13所述的測試裝置,其特征在于:所述連接組件安裝于所述光纖宏彎損耗測試工裝一側,其中一所述連接組件一端連接于所述光源組件并根據所述待測光纖的種類選擇與所述單模光源或多模光源連接,另一所述連接組件一端連接于所述光檢測器組件。
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