[實用新型]干涉儀檢具

有效

• 申請號: 201822233056.8
• 申請日: 2018-12-28
• 公開（公告）號: CN209656251U
• 公開（公告）日: 2019-11-19
• 發明（設計）人: 姚新宇;林根;夏禮錕;劉琴;陳芳婷
• 申請（專利權）人: 福建福光光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 35100 福州元創專利商標代理有限公司
• 代理人: 蔡學俊;陸帥<國際申請>=<國際公布>=

本實用新型涉及一種干涉儀檢具，包括圓臺，圓臺下中部設置定位插柱，圓臺上中部設置立柱，圓臺外周設置有限位槽，避免檢具使用過程中轉動，圓臺、定位插柱、立柱同軸心，且直徑依次遞減，立柱上端設置鏡片放置面，為便于鏡片檢測時的拿取，提高檢查效率，鏡片放置面的左右兩側銑扁形成避讓臺階面，避讓臺階面位于定位面下方，定位面前面設置有定位塊，定位塊內側設置中部向外拱形成V型定位面，V型定位面包括左右對稱設置的兩個內端相連接的斜面，兩個斜面外端的直線距離小于其所檢測的鏡片的外徑，立柱直徑大于所檢測的鏡片的外徑，本檢具結構簡單，設計合理，操作使用方便，通用性強，提高了檢查效率，降低了生產成本。

技術領域

本實用新型涉及一種用于球面鏡片檢測的干涉儀檢具。

背景技術

球面鏡片亞斯/局部面精度是光學成像的重要指標，在鏡片研磨完成后需使用干涉儀進行抽檢，當不良比例超標時需對整批次產品進行全檢確認，在干涉儀上檢測時，需使用干涉儀檢具進行定位。傳統干涉儀檢具采用圓周定位，即治具內孔稍大于鏡片外徑（通常為0.1-0.2mm）。這樣的檢具通用性差，鏡片外徑差異大于0.5mm時，定位效果差，易平移，亞斯成像位置偏移，同時，生產加工時，需針對不同型號鏡片需更換不同型號檢具，更換頻率高，影響檢查效率，檢具數量多，也會造成生產管理的浪費和治工具成本的提高。

發明內容

本實用新型的目的是針對以上不足之處，提供了一種干涉儀檢具。

本實用新型解決技術問題所采用的方案是，一種干涉儀檢具，包括圓臺，圓臺下中部設置定位插柱，圓臺上中部設置立柱，圓臺外周設置有限位槽，圓臺、定位插柱、立柱同軸心，且直徑依次遞減，立柱上端設置鏡片放置面，鏡片放置面的左右兩側銑扁形成避讓臺階面，避讓臺階面位于定位面下方，定位面前面設置有定位塊，定位塊內側設置中部向外拱形成V型定位面。

進一步的，V型定位面包括左右對稱設置的兩個內端相連接的斜面，兩個斜面之間的夾角為120度。

進一步的，兩個斜面外端的直線距離小于其所檢測的鏡片的外徑，立柱直徑大于所檢測的鏡片的外徑。

進一步的，兩個斜面的連接端設置過渡圓角。

進一步的，限位槽位于立柱后側。

進一步的，定位面上設置有保護層。

進一步的，保護層為黑毛紙。

與現有技術相比，本實用新型具有以下有益效果：結構簡單，設計合理，操作使用方便，通用性強，提高了檢查效率，降低了生產成本。

附圖說明

下面結合附圖對本實用新型專利進一步說明。

圖1為本檢具的結構示意圖一；

圖2為本檢具的結構示意圖二。

圖中：1-圓臺、2-定位插柱、3-立柱、4-鏡片放置面、5-定位塊、6-避讓臺階面、7-保護層、8-限位槽、9-V型定位面。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型進一步說明。

如圖1-2所示，一種干涉儀檢具，包括圓臺，圓臺下中部設置定位插柱，圓臺上中部設置立柱，圓臺外周設置有限位槽，避免檢具使用過程中轉動，圓臺、定位插柱、立柱同軸心，且直徑依次遞減，立柱上端設置鏡片放置面，為便于鏡片檢測時的拿取，提高檢查效率，鏡片放置面的左右兩側銑扁形成避讓臺階面，避讓臺階面位于定位面下方，定位面前面設置有定位塊，定位塊內側設置中部向外拱形成V型定位面。

在本實施例中，V型定位面包括左右對稱設置的兩個內端相連接的斜面，兩個斜面之間的夾角為120度。