[實用新型]一種粒子分析儀及其光學(xué)采集模塊有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201822211005.5 | 申請日: | 2018-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN209280527U | 公開(公告)日: | 2019-08-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐進(jìn)禮;祁昌春;曹雯 | 申請(專利權(quán))人: | 常州必達(dá)科生物科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/14 | 分類號: | G01N15/14 |
| 代理公司: | 蘇州智品專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32345 | 代理人: | 唐學(xué)青 |
| 地址: | 213022 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 流動室 光學(xué)采集模塊 單片透鏡 粒子分析儀 聚焦光斑 反射鏡 熒光收集效率 整體光學(xué)結(jié)構(gòu) 本實用新型 反射鏡反射 調(diào)試難度 高靈敏度 系統(tǒng)裝配 雜光信號 非共軸 復(fù)雜度 信噪比 串?dāng)_ 光路 光軸 光源 | ||
1.一種粒子分析儀的光學(xué)采集模塊,所述粒子分析儀包括流動室,所述流動室具有相對的第一側(cè)和第二側(cè),其特征在于,所述光學(xué)采集模塊包括位于流動室的第一側(cè)的反射鏡和位于流動室的第二側(cè)的單片透鏡,所述流動室的多個光源經(jīng)反射鏡反射后對應(yīng)形成非共軸的多個聚焦光斑,所述多個聚焦光斑經(jīng)單片透鏡后對應(yīng)形成多個與單片透鏡的光軸呈不同傾斜角的光束。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述粒子分析儀的光學(xué)采集模塊,其特征在于,所述反射鏡具有背向流動室的前表面和朝向流動室的后表面,所述前表面為鍍有反射膜的曲率球面,所述后表面為平面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述粒子分析儀的光學(xué)采集模塊,其特征在于,所述單片透鏡為與反射鏡共軸的平凸透鏡或球鏡。
4.一種粒子分析儀,其特征在于,所述粒子分析儀包括流動室和光學(xué)系統(tǒng),所述光學(xué)系統(tǒng)包括光學(xué)采集模塊,所述光學(xué)采集模塊為權(quán)利要求1至3任意一項所述的光學(xué)采集模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的粒子分析儀,其特征在于,所述光學(xué)系統(tǒng)還包括分光探測模塊,所述分光探測模塊用于對經(jīng)單片透鏡聚焦后形成的光束進(jìn)行分光和探測。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的粒子分析儀,其特征在于,所述分光探測模塊包括沿光路方向設(shè)置的多個分光探測組件,每個分光探測組件包括二向分色鏡和光電探測器,照射至二向分色鏡的第一波長范圍的光束透射該二向分色鏡并被對應(yīng)的光電探測器探測到,照射至二向分色鏡的第二波長范圍的光束被二向分色鏡反射至下一個分光探測組件并再次被分光和探測。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的粒子分析儀,其特征在于,所述多個分光探測組件沿光路方向依次編號并劃分為奇數(shù)分光探測組件和偶數(shù)分光探測組件,所述奇數(shù)分光探測組件并排設(shè)置,所述偶數(shù)分光探測組件并排設(shè)置,光束在奇數(shù)分光探測組件和偶數(shù)分光探測組件之間來回反射、以及被不同的奇數(shù)分光探測組件和不同的偶數(shù)分光探測組件進(jìn)行分光和探測。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的粒子分析儀,其特征在于,所述分光探測組件還包括帶通濾光片和聚焦透鏡,所述帶通濾光片和聚焦透鏡沿透射二向分色鏡的第一波長范圍的光束的光路方向依次布置在二向分色鏡和光電探測器之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的粒子分析儀,其特征在于,所述分光探測模塊還包括沿光路方向設(shè)置的至少一個全反鏡,所述全反鏡用于將光束反射至下一個分光探測組件的二向分色鏡或下一個全反鏡。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的粒子分析儀,其特征在于,所述分光探測模塊還包括準(zhǔn)直透鏡,所述準(zhǔn)直透鏡沿光路方向布置在單片透鏡和多個分光探測組件之間。
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