[實用新型]用于檢測鋁箔表面質量的檢測裝置

有效

• 申請號: 201822194803.1
• 申請日: 2018-12-25
• 公開（公告）號: CN209280594U
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 殷天甲;陳海霞;陳海燕
• 申請（專利權）人: 昆山意諾福半導體包裝材料有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 32235
• 代理人: 劉振龍

1.一種用于檢測鋁箔表面質量的檢測裝置，包括不透光的箱體(1)以及位于箱體(1)上用于檢測鋁箔的臺面(2)，其特征在于，在所述的箱體(1)內部設置若干LED燈(3)，所述的臺面(2)采用透光的玻璃板制作，在所述的臺面(2)設有遮光板(4)，所述的遮光板(4)中間為透光孔(5)，在所述的箱體(1)上設有用于調節LED燈(3)亮度的調節面板(6)，所述的鋁箔覆蓋于透光孔(5)上用于檢測鋁箔上是否具有針孔。

2.根據權利要求1所述的用于檢測鋁箔表面質量的檢測裝置，其特征在于，所述的臺面(2)采用毛玻璃制作而成。

3.根據權利要求1所述的用于檢測鋁箔表面質量的檢測裝置，其特征在于，若干所述的LED燈(3)呈陣列排布。

4.根據權利要求1所述的用于檢測鋁箔表面質量的檢測裝置，其特征在于，所述的遮光板(4)采用黑色的布料制作而成。

5.根據權利要求1所述的用于檢測鋁箔表面質量的檢測裝置，其特征在于，在所述的臺面(2)上方設有可向上抬起的上蓋(7)，在所述的上蓋(7)內設有感光器(8)，在所述的上蓋(7)的側面設有顯示器(11)，在所述的上蓋(7)上設有處理器(10)，所述的處理器(10)接收感光器(8)的信號并在顯示器(11)進行顯示。

6.根據權利要求5所述的用于檢測鋁箔表面質量的檢測裝置，其特征在于，所述的上蓋(7)包括頂板(71)以及位于頂板(71)下表面向下伸出的側板(72)，所述的頂板(71)以及側板(72)之間形成工作腔(9)，所述的工作腔(9)直接遮蓋在臺面(2)上防止光線外泄。

7.根據權利要求5所述的用于檢測鋁箔表面質量的檢測裝置，其特征在于，在所述的箱體(1)底部設有行走輪(12)以及設置于行走輪(12)上的剎車裝置。