[實用新型]一種新型雙向反射分布函數(shù)快速測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201822193927.8
• 申請日: 2018-12-26
• 公開（公告）號: CN209513614U
• 公開（公告）日: 2019-10-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 代京京;王智勇;劉豫穎;趙思思;張景豪
• 申請（專利權(quán)）人: 北京工業(yè)大學(xué);北京空間機電研究所
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47
• 代理公司: 北京匯信合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11335
• 代理人: 孫民興

1.一種新型雙向反射分布函數(shù)快速測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：半球型測試暗室；

所述半球型測試暗室的頂部設(shè)有通光孔，所述通光孔的正上方設(shè)有測試光源；

所述半球型測試暗室的內(nèi)球面上緊密排布有多個光電探測器，所有所述光電探測器與信號處理系統(tǒng)相連；

所述半球型測試暗室內(nèi)設(shè)有四維工作轉(zhuǎn)臺，待測樣品通過樣品支撐部件安裝在所述四維工作轉(zhuǎn)臺上，所述四維工作轉(zhuǎn)臺帶動所述待測樣品水平面旋轉(zhuǎn)和垂直面旋轉(zhuǎn)。

2.如權(quán)利要求1所述的新型雙向反射分布函數(shù)快速測試系統(tǒng)，其特征在于，所述半球型測試暗室安裝在底托上構(gòu)成封閉的半球腔體。

3.如權(quán)利要求1所述的新型雙向反射分布函數(shù)快速測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試光源的光路上設(shè)有準(zhǔn)直器，所述準(zhǔn)直器對光束準(zhǔn)直后經(jīng)所述通光孔入射至所述半球型測試暗室內(nèi)的待測樣品上。

4.如權(quán)利要求1所述的新型雙向反射分布函數(shù)快速測試系統(tǒng)，其特征在于，所述四維工作轉(zhuǎn)臺帶動所述待測樣品水平面360°旋轉(zhuǎn)和垂直面180°俯仰。

5.如權(quán)利要求1所述的新型雙向反射分布函數(shù)快速測試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號處理系統(tǒng)包括：前置放大器、鎖相位放大器和計算機；

所有所述光電探測器均與所述前置放大器相連，所述前置放大器與所述鎖相位放大器相連，所述鎖相位放大器與所述計算機相連。