[實用新型]一種檢測裝置有效
| 申請號: | 201822173772.1 | 申請日: | 2018-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN209282167U | 公開(公告)日: | 2019-08-20 |
| 發明(設計)人: | 張淋;高嘉梁;湯小龍 | 申請(專利權)人: | 蘇州寶馨科技實業股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;賈允 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 防護罩 傳感機構 本實用新型 第二傳感器 第一傳感器 機械手臂 可調節 種檢測 化學處理設備 對射檢測 生產效率 下料 盲區 花籃 檢測 | ||
1.一種檢測裝置,所述檢測裝置設置在機械手(3)上,其特征在于,包括多個第一傳感機構(1)和多個第二傳感機構(2);
所述第一傳感機構(1)包括第一傳感器、第一防護罩(12)和第一支座(13),所述第一傳感器設置在所述第一防護罩(12)內,所述第一防護罩(12)可調節的設置在所述第一支座(13)上;
所述第二傳感機構(2)包括第二傳感器、第二防護罩(22)和第二支座(23),所述第二傳感器設置在所述第二防護罩(22)內,所述第二防護罩(22)可調節的設置在所述第二支座(23)上;
所述多個第一傳感機構(1)設置在機械手臂(31)的一側,所述多個第二傳感機構(2)設置在所述機械手臂(31)的另一側。
2.根據權利要求1所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述第一傳感機構(1)還包括第一開關;所述第二傳感機構(2)還包括第二開關,所述第一開關和所述第二開關均為光電感應開關。
3.根據權利要求1所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述第一防護罩(12)上設置有第一安裝孔和第一調節孔(121),所述第一傳感器設置在第一安裝孔內,所述第一調節孔(121)內設有第一螺栓(11),所述第一傳感器與所述第一螺栓(11)通過設置在所述第一防護罩(12)內的第一連接件相連,所述第一螺栓(11)能夠沿所述第一調節孔(121)移動。
4.根據權利要求1所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述第二防護罩(22)上設置有第二安裝孔和第二調節孔(221),所述第二傳感器設置在第二安裝孔內,所述第二調節孔(221)內設有第二螺栓(21),所述第二傳感器與所述第二螺栓(21)通過設置在所述第二防護罩(22)內的第二連接件相連,所述第二螺栓(21)能夠沿所述第二調節孔(221)移動。
5.根據權利要求1所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述第一傳感器和所述第二傳感器均設有發射模塊和接收模塊。
6.根據權利要求1所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述第一支座(13)上設置有第一定位槽(131),所述第一防護罩(12)設置在所述第一定位槽(131)內,所述第一防護罩(12)通過螺栓與所述第一定位槽(131)螺紋連接,所述第一防護罩(12)能夠在所述第一定位槽(131)內轉動。
7.根據權利要求6所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述第二支座(23)上設置有第二定位槽(231),所述第二防護罩(22)設置在所述第二定位槽(231)內,所述第二防護罩(22)通過螺栓與所述第二定位槽(231)螺紋連接,所述第二防護罩(22)能夠在所述第二定位槽(231)內轉動。
8.根據權利要求7所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述第一定位槽(131)與所述第一防護罩(12)一一相對應;所述第二定位槽(231)與所述第二防護罩(22)一一對應。
9.根據權利要求1所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述多個第一傳感機構(1)和所述多個第二傳感機構(2)設置在機械手(3)的底座(32)上。
10.據權利要求1或9所述的一種檢測裝置,其特征在于,所述第一傳感機構(1)為兩個,所述第二傳感機構(2)為兩個。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





