[實用新型]同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201822124802.X
• 申請日: 2018-12-18
• 公開（公告）號: CN209134505U
• 公開（公告）日: 2019-07-19
• 發(fā)明（設計）人: 劉志清
• 申請（專利權）人: 敦南科技（無錫）有限公司
• 主分類號: H04N1/028
• 分類號: H04N1/028
• 代理公司: 北京商專永信知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11400
• 代理人: 高之波

本實用新型提供了同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊，包括殼體，安裝在殼體上的傳感器，位于傳感器上方的柱狀透鏡，位于柱狀透鏡上方且呈傾斜布置的半反射鏡，位于半反射鏡上方的玻璃，放置在玻璃上的掃描物，位于半反射鏡側部的光源。本實用新型提供的同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊，光源發(fā)射的光經(jīng)過半反射鏡折射到掃描物表面，折射光垂直地照射掃描物，掃描物影像再反射依次經(jīng)過半反射鏡、柱狀透鏡到達傳感器，掃描物表面可清楚呈現(xiàn)出來，不受表面反光影響，掃描效果更加清楚易分辨，達到同軸光的原理，解決了掃描物的表面因反光而存在影像不清晰的問題，可達到反射光照射型接觸式影像傳感器模塊所達不到的垂直光照射掃描的功能。

技術領域

本實用新型涉及傳感器模塊技術領域，尤其涉及同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊。

背景技術

如圖1所示的為現(xiàn)有技術中的反射光照射型接觸式影像傳感器模塊，使用45度角的反射光去照射掃描物，掃描物經(jīng)反射光照射后再傳送到接觸式影像傳感器，如果掃描物是亮面金屬，通常會因為反射光45度角的照射問題，導致無法掃描到掃描物的正表面，導致掃描物的表面因反光而存在影像不清晰的問題。目前反射光照射型接觸式影像傳感器模塊無法達到垂直光照射，只能側邊45度角照射，導致掃描物的表面因45度角反射光照射無法掃描清楚，同軸光照射是利用90度角的照射方式，可以改善因光源照射角度的不同而造成影像不清晰的問題。

有鑒于此，有必要對現(xiàn)有技術中的傳感器模塊予以改進，以解決上述問題。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的在于公開同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊，光源發(fā)射的光經(jīng)過半反射鏡折射到掃描物表面，折射光垂直地照射掃描物，掃描物影像再反射依次經(jīng)過半反射鏡、柱狀透鏡到達傳感器，掃描物表面可清楚呈現(xiàn)出來，不受表面反光影響，掃描效果更加清楚易分辨，避免造成誤判，達到同軸光的原理，解決了掃描物的表面因反光而存在影像不清晰的問題，可達到反射光照射型接觸式影像傳感器模塊所達不到的垂直光照射掃描的功能。

為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊，包括殼體，安裝在殼體上的傳感器，位于傳感器上方的柱狀透鏡，位于柱狀透鏡上方且呈傾斜布置的半反射鏡，位于半反射鏡上方的玻璃，放置在玻璃上的掃描物，位于半反射鏡側部的光源；所述光源發(fā)射的光經(jīng)過半反射鏡折射到掃描物表面，掃描物影像再反射經(jīng)過半反射鏡再經(jīng)過柱狀透鏡到達傳感器。

在一些實施方式中，所述半反射鏡傾斜角度為30-60°。

在一些實施方式中，所述半反射鏡傾斜角度為45°。

在一些實施方式中，所述光源呈豎直布置。

在一些實施方式中，所述光源為LED陣列光源。

在一些實施方式中，所述光源與半反射鏡間設有擴散板。

在一些實施方式中，還包括PCB基板，所述傳感器設置在PCB基板上。

在一些實施方式中，所述傳感器為感測晶片。

與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的有益效果是：本實用新型提供的同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊，光源發(fā)射的光經(jīng)過半反射鏡折射到掃描物表面，折射光垂直地照射掃描物，掃描物影像再反射依次經(jīng)過半反射鏡、柱狀透鏡到達傳感器，掃描物表面可清楚呈現(xiàn)出來，不受表面反光影響，掃描效果更加清楚易分辨，避免造成誤判，達到同軸光的原理，解決了掃描物的表面因反光而存在影像不清晰的問題，可達到反射光照射型接觸式影像傳感器模塊所達不到的垂直光照射掃描的功能。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術中的反射光照射型接觸式影像傳感器模塊的結構示意圖；

圖2為本實用新型所示的同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊的結構示意圖；

圖3為本實用新型所示的同軸光照射型接觸式影像傳感器模塊的結構示意圖。