[實用新型]測距裝置

有效

• 申請號: 201822077392.8
• 申請日: 2018-12-11
• 公開（公告）號: CN209356678U
• 公開（公告）日: 2019-09-06
• 發明（設計）人: 王栗
• 申請（專利權）人: 深圳市大疆創新科技有限公司
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08
• 代理公司: 北京勵誠知識產權代理有限公司 11647
• 代理人: 趙爽

1.一種測距裝置，其特征在于，所述測距裝置包括測距模組及掃描模組，所述測距模組用于向所述掃描模組發射光脈沖序列，所述掃描模組用于改變所述光脈沖序列的傳輸方向后出射，經探測物反射回的光脈沖序列經過所述掃描模組后入射至所述測距模組，所述測距模組用于根據反射回的光脈沖序列確定所述探測物相對所述測距裝置的距離和/或方向；

所述測距模組包括光源、光路改變元件和探測器；所述光路改變元件位于所述光源的出射光路上并用于將所述光源的出射光路和所述探測器的接收光路合并，所述光路改變元件包括基材和形成在所述基材上的反射膜，所述反射膜上開設有通光孔，所述基材對應所述通光孔處的區域設置為透光區；

所述光源包括發射電路，所述發射電路發射的光脈沖序列穿過所述透光區及所述通光孔后出射；

經探測物反射回的光脈沖序列被所述反射膜反射后由所述探測器接收，所述探測器用于根據接收的光脈沖序列確定所述探測物相對所述測距模組的距離和/或方向。

2.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述反射膜設置在所述基材背向所述光源的一側。

3.根據權利要求2所述的測距裝置，其特征在于，所述基材包括相背的第一面和第二面，所述第一面與所述光源相對，所述第二面與所述探測器相對。

4.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述光路改變元件還包括形成在所述透光區上的減反膜。

5.根據權利要求4所述的測距裝置，其特征在于，所述減反膜設置在所述透光區面向所述光源的一側和/或設置在所述透光區背向所述光源的一側。

6.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述發射電路用于發射具有預定偏振方向的光脈沖序列，所述透光區上設置有偏振透過膜，所述偏振透過膜用于透射具有所述預定偏振方向的光脈沖序列。

7.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述發射電路用于發射偏振方向平行于反射面的光脈沖序列，所述反射面為所述光脈沖序列入射至所述基材的入射光路和所述光脈沖序列經所述基材反射后的反射光路所在的平面。

8.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述測距模組還包括準直元件，所述準直元件位于所述光路改變元件背向所述光源的一側，所述準直元件用于準直所述發射電路發射的光脈沖序列，以及用于將經探測物反射回的光脈沖序列匯聚至所述探測器。

9.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述掃描模組包括運動的光學元件，用于改變來自所述測距模組的光脈沖序列的傳播方向后出射。

10.根據權利要求9所述的測距裝置，其特征在于，所述光學元件包括相對設置的第一光折射元件和第二光折射元件，所述第一光折射元件和所述第二光折射元件均包括相背的非平行的一對表面；

所述掃描模組還包括用于驅動所述第一光折射元件與所述第二光折射元件以不同的速度和/或方向旋轉的驅動模塊。

11.根據權利要求10所述的測距裝置，其特征在于，所述光學元件還包括與所述第一光折射元件以及所述第二光折射元件并列設置的第三光折射元件，所述第三光折射元件包括相背的非平行的一對表面；

所述驅動模塊還用于驅動所述第三光折射元件繞轉動軸轉動。

12.根據權利要求1所述的測距裝置，其特征在于，所述測距裝置為激光雷達。