[實用新型]一種低電壓差分信號差分晶振測試裝置

有效

• 申請號: 201822058561.3
• 申請日: 2018-12-10
• 公開（公告）號: CN209878889U
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發明（設計）人: 苗志坤;雷潔;趙慧婷
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 11403 北京風雅頌專利代理有限公司
• 代理人: 李莎;李弘

1.一種低電壓差分信號差分晶振測試裝置，其特征在于，包括基板，基板上安裝有若干個用于安裝差分晶振的測試單元，測試單元包括用于固定晶振的測試夾具，測試夾具上設有與晶振管腳匹配的探針，各所述測試夾具均連接有電源輸入端、測試輸出端與測試公共端；所述基板上設有電源接口與測試公共接口，且各所述測試單元的電源輸入端并聯并與所述電源接口連接，且各測試單元的測試公共端并聯并與所述測試公共接口連接。

2.根據權利要求1所述的一種低電壓差分信號差分晶振測試裝置，其特征在于，所述基板設置為圓環形，各所述測試單元圍繞圓環的圓心均勻分布，各所述測試單元的測試輸出端設置在圓環的外邊一側。

3.根據權利要求1所述的一種低電壓差分信號差分晶振測試裝置，其特征在于，所述基板上還設有可拆卸的壓接裝置，壓接裝置通過螺栓與基板活動連接，壓接裝置底部設有與測試夾具匹配的固定槽。

4.根據權利要求3所述的一種低電壓差分信號差分晶振測試裝置，其特征在于，所述基板上設有滑動體，滑動體與基板活動連接，且可沿基板移動，滑動體上設有電連接器，滑動體移動時，電連接器的輸入端與基板上的測試輸出端分別單獨連接，電連接器的輸出端用于連接晶振測試系統。

5.根據權利要求4所述的一種低電壓差分信號差分晶振測試裝置，其特征在于，所述基板表面設有若干包括第一指示燈和第二指示燈的指示裝置，所述指示裝置的數量與測試單元相同，且各所述指示裝置分別與各所述測試單元一一對應。

6.根據權利要求5所述的一種低電壓差分信號差分晶振測試裝置，其特征在于，所述壓接裝置上設有與指示裝置匹配的供電體，所述滑動體上設有撥動所述供電體的撥片，所述撥片帶動供電體轉動，使之與所述指示裝置中的第一輸入端或第二輸入端接觸連接。