[實用新型]光學元件反射率測量儀

有效

• 申請號: 201822058103.X
• 申請日: 2018-12-10
• 公開（公告）號: CN209167118U
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 侯睿媛;陸寅;張帥楠;戴晨;權琨琪;劉仁明;陳貴賓;卜陽
• 申請（專利權）人: 淮陰師范學院
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47;G01N21/55;G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

光學元件反射率測量儀，它涉及測量儀技術領域。光學元件反射率測量儀它包含工作臺、點光源、分光鏡、升降臺、旋轉軸、置物板、夾片、光電二極管、前置放大器、鎖相放大器、信號發射器、控制面板、信號采集系統、信號放大系統、數據分析處理系統、接收系統、顯示系統，點光源設置在工作臺的左側，升降臺上固定連接旋轉軸，旋轉軸上設置有置物板，置物板邊緣設置有夾片，光電二極管設置在置物板右側，鎖相放大器的前側表面上設置有信號發射器，控制面板設置在工作臺最右側。采用上述技術方案后，本實用新型的有益效果為：它的結構設計合理，可以對待測的光學元件的測量高度和角度進行調節，保證測量結果的精度更高，適合推廣使用。

技術領域

本實用新型涉及測量儀器技術領域，具體涉及光學元件反射率測量儀。

背景技術

光譜測量在材料的分析測試和材料的特性研究中有著重要的作用。就光學加工而言，主要是利用各種光譜測量放大來對各類光學元件進行反射率的測量。在國家許多重要的應用工程和科研實驗中，都需要大量的光學元件，而光學元件的質量是保障整個試驗成功的重要因素，所以需要對光學元件的重要行難呢過反射率進行高精度的測量。在以前，測量光學元件的反射率的主要儀器是分光光度計，這種儀器測量結果精確，且能夠測量光學元件在某個波段的透過率，但是分光光度計一般采用光電倍增管加積分球的技術手段，光電倍增管需要在 黑暗的環境中使用，造成這種儀器只能測量尺寸較小的光學元件的反射率，而不適合測量較大尺寸的光學元件，尤其不能實現在線測量。因此市面上開始出現對于光學元件反射率的測量儀。中國專利CN201620028723.7公開了一種光學元件反射率測量儀，用于光學元件反射率的測量。本實用新型的光學元件反射率測量儀采用光電二極管采集光學元件或光學標準片的反射光并轉換為電信號，電信號再經過前置放大器和鎖相放大器放大后，得到與信號光強度成正比的直流電壓信號。該儀器以測量光學標準片反射光所獲得的直流電壓信號為基準，測量待測元件反射光所獲得的直流電壓信號與基準比對，獲得待測光學元件的反射率。該實用新型雖然具有具有易于實現的優點，且能夠實現對光學元件反射率的在線測量，但是它的結構過于簡單，不能夠對待測的光學元件的測量位置進行調節，無法保證光學元件測量角度的最佳，不利于測量的結果，不適合推廣使用。

實用新型內容

本實用新型的目的在于針對現有技術的缺陷和不足，提供一種光學元件反射率測量儀，它的結構設計合理，可以對待測的光學元件的測量高度和角度進行調節，保證測量結果的精度更高，適合推廣使用。

為實現上述目的，本實用新型采用以下技術方案是：它包含工作臺1、點光源2、分光鏡3、升降臺4、旋轉軸41、置物板42、夾片421、光電二極管5、前置放大器6、鎖相放大器7、信號發射器71、控制面板8、信號采集系統9、信號放大系統10、數據分析處理系統11、接收系統12、顯示系統13，點光源2設置在工作臺1的左側，分光鏡3設置在升降臺4和點光源2之間，升降臺4上固定連接旋轉軸41，旋轉軸41上設置有置物板42，置物板42邊緣設置有夾片421，光電二極管5設置在置物板42右側，鎖相放大器7的左側設置有前置放大器6，鎖相放大器7的前側表面上設置有信號發射器71，控制面板8設置在工作臺1最右側，信號采集系統9和信號放大系統10信號連接，信號放大系統10和數據分析處理系統11電性連接，數據分析處理系統11和信號發射器71電性連接，信號發射器71和接收系統12信號連接，接收系統12和顯示系統13電性連接。

所述的升降臺4包含支撐板43、固定板44、第一伸縮架45和第二伸縮架46，支撐板43設置在固定板44上方，固定板44和支撐板43通過第一伸縮架45和第二伸縮架46固定連接。

所述的第一伸縮架45和第二伸縮架46均呈“V”形，且第一伸縮架45和第二伸縮架46中設置有螺釘461。

所述的控制面板8前側表面設置有顯示屏81，顯示屏81右下角設置有開關82。

所述的顯示系統13為顯示屏81。

所述的工作臺1下表面邊緣固定連接有支架14。