[實用新型]一種集成電路測試平臺

有效

• 申請號: 201822045142.6
• 申請日: 2018-12-07
• 公開（公告）號: CN209373048U
• 公開（公告）日: 2019-09-10
• 發明（設計）人: 朱培軒
• 申請（專利權）人: 深圳市德銘祺電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 北京科家知識產權代理事務所(普通合伙) 11427
• 代理人: 陳娟

1.一種集成電路測試平臺，包括檢測板(1)，其特征在于：所述檢測板(1)沿中軸線兩側對稱設置有檢測觸點(10)，所述檢測板(1)兩側設置有定位支撐件(2)，所述定位支撐件(2)由立柱(20)和調節板(22)組成，所述立柱(20)安裝在檢測板(1)四角，所述調節板(22)固定焊接在兩組立柱(20)之間，兩組所述調節板(22)通過通槽(23)連接有支撐件(3)，所述支撐件(3)由固定板(30)、壓縮彈簧(36)、按壓板(37)和導電槽(38)組成，所述固定板(30)設置有兩組且通過螺桿(31)活動設置在通槽(23)內，所述螺桿(31)上設置有螺帽(4)，兩組所述固定板(30)相對面均勻分布有引腳槽(32)，兩組所述固定板(30)相離面設置有按壓滑槽(33)，所述引腳槽(32)和按壓滑槽(33)之間隔板設置有通口(34)，所述按壓滑槽(33)內通過壓縮彈簧(36)設置有按壓板(37)，所述按壓板(37)對應于通口(34)處設置有導電槽(38)。

2.按照權利要求1所述的一種集成電路測試平臺，其特征在于：所述檢測觸點(10)和導電槽(38)通過導線(11)電性連接。

3.按照權利要求1所述的一種集成電路測試平臺，其特征在于：所述立柱(20)為中空結構且通過內六角螺栓(21)安裝在檢測板(1)四角。

4.按照權利要求1所述的一種集成電路測試平臺，其特征在于：兩組所述調節板(22)外側設置有刻度標(24)。

5.按照權利要求1所述的一種集成電路測試平臺，其特征在于：所述按壓滑槽(33)內部兩端和按壓板(37)對應處分別設置有彈簧銷柱(35)。