[實用新型]一種芯片測試分選設備

有效

• 申請號: 201822031692.2
• 申請日: 2018-12-05
• 公開（公告）號: CN209222673U
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 游詩勇
• 申請（專利權）人: 福建福順半導體制造有限公司
• 主分類號: B07C7/04
• 分類號: B07C7/04
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

本實用新型提供一種芯片測試分選設備。所述芯片測試分選設備包括支撐機構；進料機構；分選機構，所述分選機構滑動連接于所述支撐機構，第二平板與所述支撐機構互相抵觸，第一凸塊固定連接于所述第二平板的頂部，第二立柱的一端固定連接于所述第二平板背離所述第一凸塊的底端，第一立柱固定連接于所述第二立柱，一個第一平板固定連接于所述第二立柱的另一端，一個所述第一平板通過第一彈簧固定連接于另一塊所述第一平板，腳撐焊接于靠近所述第二立柱的所述第一平板的側壁；檢測機構；第四平板，所述第四平板滑動連接于所述支撐機構；芯片。本實用新型提供的芯片測試分選設備具有能夠通過腳踩實現對芯片的篩分、從而提高工作效率的優點。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，尤其涉及一種芯片測試分選設備。

背景技術

芯片測試分選設備是指一種能夠完成對芯片的測試、篩選出不合格芯片，從而實現對芯片的分選。

然而現有的芯片測試分選設備，在篩分不合格芯片時，拿取不便，工作效率低。

因此，有必要提供一種新的芯片測試分選設備解決上述技術問題。

實用新型內容

本實用新型解決的技術問題是提供一種能夠通過腳踩實現對芯片的篩分、從而提高工作效率的芯片測試分選設備。

為解決上述技術問題，本實用新型提供的芯片測試分選設備包括：支撐機構；進料機構，所述進料機構滾動連接于所述支撐機構；分選機構，所述分選機構滑動連接于所述支撐機構，所述分選機構包括第一立柱、腳撐、第一平板、第一彈簧、第二立柱、第一凸塊和第二平板，所述第二平板與所述支撐機構互相抵觸，所述第一凸塊固定連接于所述第二平板的頂部，所述第二立柱的一端固定連接于所述第二平板背離所述第一凸塊的底端，所述第一立柱固定連接于所述第二立柱，且所述第一立柱垂直于所述第二立柱，一個所述第一平板固定連接于所述第二立柱的另一端，一個所述第一平板通過所述第一彈簧固定連接于另一塊所述第一平板，所述腳撐焊接于靠近所述第二立柱的所述第一平板的側壁；檢測機構，所述檢測機構固定連接于所述支撐機構；第四平板，所述第四平板滑動連接于所述支撐機構；芯片，所述芯片與所述第一凸起互相抵觸。

優選的，所述支撐機構包括工作臺、支撐柱和擋板，所述擋板滑動連接于所述第一立柱，所述支撐柱焊接于所述擋板的兩側，所述工作臺焊接于所述支撐柱，且所述擋板的頂端焊接于所述工作臺的底端。

優選的，所述進料機構包括進料口和滾珠，所述進料口開設于所述工作臺的側壁，所述滾珠滾動連接于所述工作臺。

優選的，所述檢測機構包括燈泡、電池、電線和第二凸塊，所述電池固定連接于所述工作臺的側壁，所述電線電性連接所述第一凸塊，所述燈泡通過所述電線電性連接于所述電池，所述第二凸塊通過所述電線電性連接于所述燈泡。

優選的，所述第二凸塊固定連接于限位機構，所述限位機構包括第三平板、手把、限位塊和第二彈簧，所述第三平板固定連接于所述第二凸塊，所述限位塊貫穿并滑動連接于所述第三平板延伸并固定連接于所述工作臺的頂部，且所述第三平板通過所述第二彈簧固定連接于所述工作臺的頂部，所述手把固定連接于所述第三平板的頂部。

優選的，所述芯片設于所述工作臺的內部，所述第四平板滑動連接于所述工作臺，所述芯片的外側壁與所述第四平板的內側壁互相抵觸，且所述工作臺的頂部、所述芯片的頂部均開設有凹槽。

與相關技術相比較，本實用新型提供的芯片測試分選設備具有如下有益效果：