[實(shí)用新型]一種電學(xué)性能測試設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201822013074.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN209311529U | 公開(公告)日: | 2019-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 滕俊杰;李素敏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 滕俊杰 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京科家知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 陳娟 |
| 地址: | 河南省許昌*** | 國省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 固定夾塊 電學(xué)性能測試 固定臺(tái) 操作臺(tái) 本實(shí)用新型 固定塊 底座 夾具 測試設(shè)備 測試效率 夾緊固定 左右兩側(cè) 上端 傳統(tǒng)的 電機(jī)箱 測試 | ||
1.一種電學(xué)性能測試設(shè)備,其特征在于,包括底座(1)、操作臺(tái)(3)、第一連接塊(8)、第一固定塊(11)、第二固定塊(12)和第三連接塊(14),所述底座(1)上設(shè)有第一凹槽(2),所述操作臺(tái)(3)設(shè)置在第一凹槽(2)內(nèi),所述操作臺(tái)(3)上設(shè)有固定臺(tái)(5),所述固定臺(tái)(5)的左右兩側(cè)上均設(shè)有多個(gè)電機(jī)箱(6),所述固定臺(tái)(5)的上側(cè)上設(shè)有多個(gè)第二凹槽(19),多個(gè)所述第二凹槽(19)的上端均設(shè)有第一固定夾塊(21)和第二固定夾塊(26),且多個(gè)所述第一固定夾塊(21)的左側(cè)和多個(gè)第二固定夾塊(26)的右側(cè)上均設(shè)有第四連接塊(20),多個(gè)所述第一固定夾塊(21)的右側(cè)和多個(gè)第二固定夾塊(26)的左側(cè)上均設(shè)有放置槽(25),且所述第一固定夾塊(21)的右側(cè)上放置槽(25)的兩側(cè)和多個(gè)第二固定夾塊(26)的左側(cè)上放置槽(25)的兩側(cè)上分別設(shè)有插槽(23)和插桿(24),多個(gè)所述電機(jī)箱(6)內(nèi)均設(shè)有微型伺服電機(jī)(27),多個(gè)所述第二凹槽(19)內(nèi)均設(shè)有兩個(gè)轉(zhuǎn)軸(28),且兩個(gè)轉(zhuǎn)軸(28)的一端分別與對(duì)應(yīng)的微型伺服電機(jī)(27)的輸出端轉(zhuǎn)動(dòng)連接,兩個(gè)轉(zhuǎn)軸(28)的另一端上均設(shè)有螺紋(29),多個(gè)所述第二凹槽(19)內(nèi)均設(shè)有兩個(gè)連接滑動(dòng)塊(30),且多個(gè)所述連接滑動(dòng)塊(30)上均設(shè)有兩個(gè)滑孔(32)和軸承(33),且兩個(gè)所述滑孔(32)內(nèi)均設(shè)有固定滑桿(31),且兩個(gè)所述固定滑桿(31)的一端分別與第二凹槽(19)的左右兩側(cè)固定連接,所述軸承(33)的內(nèi)環(huán)上設(shè)有螺紋(29),且多個(gè)所述軸承(33)與多個(gè)轉(zhuǎn)軸(28)的另一端通過螺紋(29)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電學(xué)性能測試設(shè)備,其特征在于,所述操作臺(tái)(3)的下側(cè)通過多個(gè)支撐桿(4)與第一凹槽(2)的底部固定連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電學(xué)性能測試設(shè)備,其特征在于,所述第一固定塊(11)設(shè)置在底座(1)上,所述第二固定塊(12)的背側(cè)通過第一固定桿(13)與第一固定塊(11)的前側(cè)固定連接,且所述第二固定塊(12)的下側(cè)上設(shè)有兩個(gè)滑軌(17),所述第三連接塊(14)設(shè)置兩個(gè),且兩個(gè)所述第三連接塊(14)的上側(cè)均通過兩個(gè)滑塊(18)分別與兩個(gè)滑軌(17)滑動(dòng)連接,兩個(gè)所述第三連接塊(14)的下側(cè)上均設(shè)有多個(gè)檢測針頭(15)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電學(xué)性能測試設(shè)備,其特征在于,所述第一連接塊(8) 設(shè)置兩個(gè),且兩個(gè)所述第一連接塊(8)的一端均通過連接座(7)與底座(1)的上側(cè)固定連接,且兩個(gè)所述第一連接塊(8)的另一端上均與第二連接塊(9)的左側(cè)固定連接,所述第二連接塊(9)的前側(cè)通過多個(gè)第二固定桿(16)與顯示器(10)的背側(cè)固定連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電學(xué)性能測試設(shè)備,其特征在于,多個(gè)所述第一固定夾塊(21)、多個(gè)第二固定夾塊(26)和多個(gè)第四連接塊(20)上均設(shè)有連接固定螺孔(22),且多個(gè)所述第一固定夾塊(21)、多個(gè)第二固定夾塊(26)和多個(gè)第四連接塊(20)上的連接固定螺孔(22)相互對(duì)應(yīng)。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
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G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





