[實用新型]可讀取晶片信息的晶片儲存裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201822011396.6
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN209045504U
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 丁婧婧;王毅
• 申請（專利權(quán)）人: 揚州揚杰電子科技股份有限公司
• 主分類號: H01L21/67
• 分類號: H01L21/67;H01L21/673
• 代理公司: 揚州市蘇為知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32283
• 代理人: 周全;陶得天

可讀取晶片信息的晶片儲存裝置。涉及晶片儲存設(shè)備領(lǐng)域。提出了一種結(jié)構(gòu)精巧、穩(wěn)定性好且使用方便，使用后可在對晶片進行穩(wěn)定承托的同時，方便的識別出晶片的類型，從而有效避免對晶片后續(xù)加工帶來困擾的可讀取晶片信息的晶片儲存裝置。包括箱體、顯示器、檢測探頭、電池、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動組件和承托組件，所述顯示器固定連接在箱體外，從而顯示出檢測結(jié)果，所述檢測探頭可旋轉(zhuǎn)的連接在箱體內(nèi)，所述電池固定連接在箱體的底部；所述驅(qū)動套筒的側(cè)壁呈上小下大的錐面狀。本實用新型可對晶片的類型進行高效的識別，從而避免了因晶片類型錯誤而對后續(xù)加工帶來困擾的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及晶片儲存設(shè)備領(lǐng)域。

背景技術(shù)

在現(xiàn)代晶圓工廠中通常利用晶片盒對同一類型的多個晶片進行存儲、轉(zhuǎn)運，在使用過程中，由于不同類型晶片的加工工藝不同，因此，若一個晶片盒中混入了個別不同類型的晶片，則將直接導(dǎo)致該晶片在后續(xù)加工中報廢，嚴(yán)重的將污染該晶片盒中的所有晶片，更嚴(yán)重的則將面臨整條生產(chǎn)線上的晶片被污染，給晶片的后續(xù)加工帶來了極大的影響。

現(xiàn)有技術(shù)中解決辦法是將晶片逐個送入專門的機臺上進行檢測，操作時間極長長，操作步也較為驟繁瑣，需要多個部門協(xié)同工作，極為麻煩。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型針對以上問題，提出了一種結(jié)構(gòu)精巧、穩(wěn)定性好且使用方便，使用后可在對晶片進行穩(wěn)定承托的同時，方便的識別出晶片的類型，從而有效避免對晶片后續(xù)加工帶來困擾的可讀取晶片信息的晶片儲存裝置。

本實用新型的技術(shù)方案為：包括箱體、顯示器、檢測探頭、電池、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動組件和承托組件，所述顯示器固定連接在箱體外，從而顯示出檢測結(jié)果，所述檢測探頭可旋轉(zhuǎn)的連接在箱體內(nèi)，所述電池固定連接在箱體的底部；

所述承托組件包括頂板、底板、同步帶和三根立柱，所述頂板固定連接在箱體的內(nèi)壁的頂部，所述底板固定連接在箱體內(nèi)壁的底部，所述立柱的頂端與頂板鉸接、且立柱的底端與底板鉸接，三根所述立柱均豎直設(shè)置、且三根立柱的間距相等，所述立柱上固定連接有若干承托座，每個所述承托座的頂面上均固定連接有與立柱同軸心的驅(qū)動套筒，晶片放入后邊緣與驅(qū)動套筒相貼合；所述立柱的底部固定連接有帶輪，所述同步帶呈環(huán)狀、且繞設(shè)在三個帶輪上；所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動組件連接在箱體內(nèi)、且用于驅(qū)動其中一根立柱旋轉(zhuǎn)。

所述驅(qū)動套筒的側(cè)壁呈上小下大的錐面狀。

所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動組件包括電機和一對傳動齒輪，其中一所述立柱為主動立柱，所述電機固定連接在箱體中、且與電池相連接，其中一個傳動齒輪固定連接在電機的輸出軸上，另一個傳動齒輪固定連接在主動立柱上，一對傳動齒輪相嚙合。

所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動組件包括輸出電機，其中一所述立柱為主動立柱，所述輸出電機固定連接在頂板上、且與主動立柱同軸心，所述主動立柱的底端與底板鉸接、且頂端與輸出電機的輸出軸固定相連。

本實用新型使用時，可先開啟檢測探頭，使其對準(zhǔn)其中一個晶片，再開啟旋轉(zhuǎn)驅(qū)動組件，使得該晶片在立柱以及驅(qū)動套筒的影響下帶動晶片繞自身軸心旋轉(zhuǎn)，從而使得檢測探頭在拍攝完一圈該晶片后判斷出晶片的類型，并體現(xiàn)在顯示器上；此后，可驅(qū)使檢測探頭向上或向下翻轉(zhuǎn)，從而對準(zhǔn)下一個晶片，并在拍攝完一圈后將晶片的類型體現(xiàn)在顯示器上。最后，操作人員即可在顯示屏上方便、直觀的看到儲存裝置中所有晶片的類型，從而可方便、高效的找出與其他類型不一致的晶片，使得晶片無需再逐個送入專門的機臺上進行檢測，再實現(xiàn)了對晶片的臨時儲存的同時，可對晶片的類型進行高效的識別，從而避免了因晶片類型錯誤而對后續(xù)加工帶來困擾的問題。

附圖說明

圖1是本案的結(jié)構(gòu)示意圖，

圖2是圖1的俯視圖，

圖3是圖1的A-A向剖視圖，

圖4是圖2是B-B向剖視圖；