[實用新型]一種極片檢測裝置

有效

• 申請號: 201822007579.0
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN209680575U
• 公開（公告）日: 2019-11-26
• 發明（設計）人: 張俊峰;葉長春;黃家富
• 申請（專利權）人: 廣州超音速自動化科技股份有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36;B21D1/02
• 代理公司: 44288 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙)
• 代理人: 楊艷;韓丹<國際申請>=<國際公布>=<

1.一種極片檢測裝置，其特征在于：包括第一整平機構、第一輸送機構、第一檢測機構、翻轉機構、第二輸送機構、第二整平機構和第二檢測機構；所述第一整平機構用于整平極片；所述第一檢測機構用于檢測經所述第一整平機構整平的所述極片朝上表面的外觀是否合格；所述第一輸送機構用于接收經所述第一整平機構整平的所述極片，并將該極片向所述翻轉機構的方向輸送；所述翻轉機構包括第一負壓吸附結構、第一脫料件、第一輸送帶和第一驅動結構；所述第一輸送帶用于接收所述第一輸送機構輸送的極片；所述第一負壓吸附結構用于將所述第一輸送帶接收的極片吸附在所述第一輸送帶上；所述第一負壓吸附結構還形成有弧形導向面；所述第一驅動結構用于帶動所述第一輸送帶沿所述弧形導向面的延伸方向運動；所述第一脫料件用于在所述極片隨所述第一輸送帶運動至所述弧形導向面的下側時，導引所述極片向遠離所述第一輸送帶的方向運動以使所述極片脫離所述第一負壓吸附結構的吸附；第二輸送機構用于接收脫離所述第一輸送帶的極片，并將該極片向所述第二整平機構的方向輸送；所述第二整平機構用于將接收到所述極片整平；所述第二檢測機構用于檢測經所述第二整平機構整平的所述極片朝上表面的外觀是否合格。

2.如權利要求1所述的極片檢測裝置，其特征在于：所述第一脫料件固定在所述弧形導向面上，并具有導向部；所述導向部凸出于經過所述弧形導向面下側的第一輸送帶外表面；所述導向部形成有第一脫料導向面；所述第一脫料導向面沿所述弧形導向面的延伸方向延伸，并用于與極片靠近所述第一輸送帶的一面活動貼合。

3.如權利要求2所述的極片檢測裝置，其特征在于；所述第一脫料導向面從其靠近所述弧形導向面上側的一側至另一側逐漸向遠離所述第一輸送帶的方向傾斜。

4.如權利要求1所述的極片檢測裝置，其特征在于：所述第一負壓吸附結構包括第一殼體、第一吸附孔、第二吸附孔和第一抽氣機；所述第一殼體具有吸附腔，并形成有所述弧形導向面；所述第一抽氣機用于抽取所述吸附腔內的氣體；所述第一吸附孔開設在所述弧形導向面上，并連通所述吸附腔和外部；所述第二吸附孔開設在所述第一輸送帶上；所述第一輸送帶繞設在所述弧形導向面上，并封罩所述第一吸附孔。

5.如權利要求1所述的極片檢測裝置，其特征在于：所述第一驅動結構包括第一支架、第一旋轉電機、第一輸送輥和第二輸送輥，所述第一輸送輥和所述第二輸送輥分別樞接在所述第一支架的上下兩側；所述第一旋轉電機的輸出軸與所述第二輸送輥傳動連接；所述第二輸送輥上固定有傳動帶齒；所述第一輸送帶為齒式輸送帶，并繞設在所述第一輸送輥和所述傳動帶齒上。

6.如權利要求1所述的極片檢測裝置，其特征在于：所述第一整平機構包括第二支架、第一擠壓輥、第二擠壓輥和第二旋轉電機；所述第二擠壓輥樞接在所述第二支架上，所述第二旋轉電機用于帶動所述第二擠壓輥轉動；所述第一擠壓輥樞接在所述第二支架上，并位于所述第二擠壓輥上方；所述第一擠壓輥和所述第二擠壓輥配合用于擠壓極片。

7.如權利要求1所述的極片檢測裝置，其特征在于：所述第一檢測機構包括光照組件、攝像機和計算機；所述光照組件用于給經所述第一整平機構整平的極片提供光源；所述攝像機用于獲取該極片的外觀信息，并發送至所述計算機。

8.如權利要求1所述的極片檢測裝置，其特征在于：所述極片檢測裝置還包括粉塵清除機構，所述粉塵清除機構用于清除所述第二輸送機構輸送的極片朝上表面的灰塵；所述粉塵清除機構包括第三支架、第二殼體、直線驅動結構、毛刷輥、彈塵輥、第二抽氣機和旋轉驅動結構；所述第二殼體可上下運動地安裝在所述第三支架上；所述直線驅動結構用于帶動所述第二殼體運動；所述第二殼體形成有具有下開口的腔體；所述毛刷輥樞接在所述腔體內；所述旋轉驅動結構用于帶動所述毛刷輥旋轉；所述彈塵輥安裝在所述腔體內，并與所述毛刷輥的刷絲相接觸；所述第二抽氣機用于抽取所述腔體內的氣體。