[實(shí)用新型]一種光學(xué)檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201821889472.7
• 申請(qǐng)日: 2018-11-16
• 公開（公告）號(hào): CN208887671U
• 公開（公告）日: 2019-05-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林沛沅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 九驊科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01D21/00
• 分類號(hào): G01D21/00
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯;任默聞

一種光學(xué)檢測(cè)裝置，用以檢測(cè)一待測(cè)物，其包含：一光源、一調(diào)光器及一圖像感測(cè)模組。該光源、該調(diào)光器、該取像鏡頭及該圖像感測(cè)模組，被配置成，該光源產(chǎn)生的一光線，通過該調(diào)光器、該待測(cè)物，并照射至該圖像感測(cè)模組，以使該圖像感測(cè)模組擷取一圖像，而且該調(diào)光器設(shè)置于該待測(cè)物及該光源之間。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型關(guān)于一種光學(xué)檢測(cè)裝置，尤其關(guān)于一種能夠調(diào)制光線以進(jìn)行多次曝光的光學(xué)檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

圖1顯示現(xiàn)有穿透式測(cè)試架構(gòu)的光學(xué)測(cè)試裝置的示意圖。圖1為一般穿透式測(cè)試架構(gòu)，如圖1所示，光學(xué)測(cè)試裝置100用以測(cè)試一待測(cè)物130，其包含一光源140、一取像鏡頭120及一圖像感測(cè)器110。待測(cè)物130、光源140、取像鏡頭120及圖像感測(cè)器110被配置成，光源140產(chǎn)生的一光線，該光線照射待測(cè)物130、取像鏡頭120及圖像感測(cè)器110，以使圖像感測(cè)器110擷取一圖像150。然而，如圖1所示，由于光源140或待測(cè)物130特性或鏡頭周邊光亮等因素，使得圖像感測(cè)器110所擷取到的圖像150，其亮度Ia、Ib、Ic等差異甚大，圖像150的不同區(qū)域Ia、Ib及Ic會(huì)產(chǎn)生有亮度差異的問題，其中位于中間的區(qū)域Ia亮度最高，這樣不利于光學(xué)分析或圖像分析。

一般視覺系統(tǒng)多數(shù)會(huì)采均勻?qū)ΨQ的方式針對(duì)代測(cè)物提供所需光源；或者利用圖像感測(cè)器以對(duì)稱方式進(jìn)行電子或軟件增益，以得到亮度較為均勻的測(cè)試畫面以利分析。

然而，現(xiàn)有的方式遇到亮度分布較為不規(guī)則不對(duì)稱或亮度明暗相當(dāng)極端等條件時(shí)通常很難取的最佳的效果，特別是在此情況下作電子或軟件增益將亮度放大時(shí)也同時(shí)會(huì)將信噪比降低即造成圖像雜訊放大圖像品質(zhì)不佳等。

實(shí)用新型內(nèi)容

依據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例，提供一種光學(xué)檢測(cè)裝置，用以檢測(cè)一待測(cè)物，其包含：一光源、一調(diào)光器及一圖像感測(cè)模組。該光源、該調(diào)光器及該圖像感測(cè)模組被配置成，該光源產(chǎn)生的一光線，該光線照射至該調(diào)光器、該待測(cè)物、該圖像感測(cè)模組，以使該圖像感測(cè)模組擷取一圖像，而且該調(diào)光器用以調(diào)制該光線。

于一實(shí)施例中，該調(diào)光器，設(shè)置于該待測(cè)物及該光源之間，且用以調(diào)制照射至該待測(cè)物后的該光線的強(qiáng)度。

于一實(shí)施例中，該圖像感測(cè)模組包含一取像鏡頭及一圖像感測(cè)器，其中該光線穿過該取像鏡頭后，照射至該圖像感測(cè)器，以使該圖像感測(cè)器擷取該圖像。

于一實(shí)施例中，該調(diào)光器為一被動(dòng)式調(diào)光器且包含一光遮蔽部及一透光部，以使該光線的一部分通過該透光部，且該光遮蔽部遮蔽該光線的另一部分。

于一實(shí)施例中，該調(diào)光器為一主動(dòng)式調(diào)光器，而且用于接受一指令，以調(diào)整讓該光線通過的孔徑尺寸、穿透率、數(shù)量及位置的至少其一。

于一實(shí)施例中，光學(xué)檢測(cè)裝置更包含一計(jì)算機(jī)。該計(jì)算機(jī)耦接于該圖像感測(cè)模組，適于分析該圖像，并且依據(jù)該圖像的多個(gè)區(qū)域的亮度，產(chǎn)生該指令以控制該調(diào)光器。

依據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例，提供一種光學(xué)檢測(cè)裝置，適用于執(zhí)行多次曝光方法，以對(duì)一待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè)，該光學(xué)檢測(cè)裝置包含一光源、一調(diào)光器及一圖像感測(cè)模組。該光源、該調(diào)光器及該圖像感測(cè)模組被配置成，該光源產(chǎn)生的一光線，該光線照射至該調(diào)光器、該待測(cè)物、該圖像感測(cè)模組，以使該圖像感測(cè)模組擷取一圖像。該調(diào)光器用以調(diào)制該光線，以針對(duì)該圖像的一第一區(qū)域及一第二區(qū)域，分別給予不同的曝光時(shí)間長(zhǎng)度，并且該圖像感測(cè)模組被多次曝光，用以擷取多次曝光后的一圖像。

于一實(shí)施例中，該調(diào)光器用以使該光線的一部分在一第一曝光時(shí)間長(zhǎng)度通過該調(diào)光器，藉以被擷取成該圖像的該第一區(qū)域；使該光線的另一部分在一第二曝光時(shí)間長(zhǎng)度通過該調(diào)光器，藉以被擷取成該圖像的該第二區(qū)域。