[實用新型]一種α、β放射性表面污染測量電路

有效

• 申請號: 201821881714.8
• 申請日: 2018-11-15
• 公開（公告）號: CN209132433U
• 公開（公告）日: 2019-07-19
• 發明（設計）人: 張連杰;花鋒;李明旭;畢仙鵬
• 申請（專利權）人: 西安中核核儀器有限公司
• 主分類號: G01T1/167
• 分類號: G01T1/167;G01T1/02
• 代理公司: 西安創知專利事務所 61213
• 代理人: 譚文琰

1.一種α、β放射性表面污染測量電路，其特征在于：包括依次相接的探測器(1)、驅動電路(2)、第一級放大電路(3-1)、第二級放大電路(3-2)、主放大器(4)、單穩態成形電路(5)和比較器電路，所述比較器電路包括用于甄別α計數脈沖的第一比較器電路(6-1)和用于甄別β計數脈沖的第二比較器電路(6-2)，所述第一比較器電路(6-1)和所述第二比較器電路(6-2)的信號輸入端均與所述單穩態成形電路(5)的信號輸出端連接。

2.按照權利要求1所述的一種α、β放射性表面污染測量電路，其特征在于：所述探測器(1)為閉氣式正比計數器LND4313。

3.按照權利要求1所述的一種α、β放射性表面污染測量電路，其特征在于：所述驅動電路(2)包括型號為3DJ8H的結型場效應管VT1，所述結型場效應管VT1的漏極經電阻R3和電阻R2與+12V電源連接；所述結型場效應管VT1的柵極經電容C8、電阻R8和電容C7后與探測器(1)的信號輸出端相接；所述結型場效應管VT1的源極分兩路，一路經電阻R11與-12V電源連接，另一路經并聯的電容C14和電容C15接地。

4.按照權利要求3所述的一種α、β放射性表面污染測量電路，其特征在于：所述第一級放大電路(3-1)包括放大器LF357BN，所述放大器LF357BN的第7引腳與+12V電源連接，所述放大器LF357BN的反相輸入端經電阻R14接地，所述放大器LF357BN的同相輸入端與所述結型場效應管VT1的漏極連接，所述放大器LF357BN的第6引腳分兩路，一路經并聯的電阻R9和電容C12后與所述放大器LF357BN的反相輸入端相連接，另一路連接電阻R4的一端；所述電阻R4的另一端分兩路，一路為第一級放大電路(3-1)的信號輸出端，另一路經并聯的電阻R18和電容C18與所述結型場效應管VT1的柵極連接，所述放大器LF357BN的第4引腳分兩路，一路與-12V電源連接，另一路經電容C16后接地；

所述第二級放大電路(3-2)包括放大器LM318N，所述放大器LM318N的反相輸入端接電阻R10的一端，所述電阻R10的另一端分兩路，一路經電容C11和電阻R6接地，另一路經電阻R12接地；所述放大器LM318N的同相輸入端分兩路，一路經電阻R15與滑動電阻R19的滑動端連接，另一路經電阻R16接地，所述放大器LM318N的第4引腳分三路，一路經電容C19后接地，另一路連接-12V電源端，第三路經滑動電阻R19與+12V電源連接；所述放大器LM318N的第6引腳分兩路，一路經并聯的電阻R7和電容C9接所述放大器LM318N的反相輸入端，另一路連接電容C13的一端，所述電容C13的另一端分兩路，一路經電阻R17接地，另一路連接接口P3的第3引腳。

5.按照權利要求4所述的一種α、β放射性表面污染測量電路，其特征在于：所述主放大器(4)包括型號為THS4281的芯片U14和型號為THS4281的芯片U15，所述芯片U14的第2引腳經電阻R43和電容C59與接口P3的第3引腳連接，所述芯片U14的第3引腳經電阻R46接地，所述芯片U14的第7引腳與+5V電源連接，所述芯片U14的第6引腳分兩路，一路經電阻R39與所述芯片U14的第2引腳相接，另一路經電阻R44與所述芯片U15的第3引腳連接；所述芯片U15的第2引腳經電阻R40接地，另一路，所述芯片U15的第7引腳與+5V電源連接，所述芯片U15的第6引腳分兩路，一路經電阻R41與所述芯片U15的第2引腳連接，另一路與電容C60的一端連接，電容C60的另一端分兩路，一路經電阻R45接地，另一路為主放大器(4)的信號輸出端。