[實用新型]一種EMC傳導測試輔助裝置及系統

有效

• 申請號: 201821852438.2
• 申請日: 2018-11-09
• 公開（公告）號: CN209417167U
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 曹紫龍
• 申請（專利權）人: 寶沃汽車（中國）有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立;陳振玉

本實用新型涉及電子元器件技術領域，尤其涉及一種EMC傳導測試輔助裝置及系統，包括：同向繞組和反向繞組，其中，同向繞組的第一線圈和第二線圈在第一磁環內的繞行方向相同，且兩線圈的一端作為第一輸入端；反向繞組的第三線圈和第四線圈在第二磁環內的繞行方向相反，且兩線圈的一端作為第二輸入端；第一線圈的另一端和第三線圈的另一端相接，且第二線圈的另一端和第四線圈的另一端相接作為輸出端，將該輔助裝置接入到EMC傳導測試系統的電路中時，若將第一輸入端接入電路，則去差模干擾，干擾源為共模干擾；若將第二輸入端接入電路，則去共模干擾，干擾源為差模干擾，由此區分干擾源的傳輸方式，快速定位檢測電路中的主要干擾源，降低測試成本。

技術領域

本實用新型涉及電子元器件技術領域，尤其涉及一種EMC(Electro MagneticCompatibility，電磁兼容性)傳導測試輔助裝置及系統。

背景技術

傳導干擾主要是電子設備產生的干擾信號通過導電介質或公共電源線互相產生的干擾，按傳輸方式分為共模干擾和差模干擾。由于干擾信號中共模干擾和差模干擾是同時存在的，從測試波形中不能直接區分，導致無法快速定位主要干擾源。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是針對現有技術的不足，提供一種EMC 傳導測試輔助裝置及系統。

本實用新型解決上述技術問題的技術方案如下：一種EMC傳導測試輔助裝置，包括：同向繞組和反向繞組，其中，

所述同向繞組的第一線圈和第二線圈在第一磁環內的繞行方向相同；

所述反向繞組的第三線圈和第四線圈在第二磁環內的繞行方向相反；

所述同向繞組的第一線圈的一端和第二線圈的一端作為第一輸入端；

所述反向繞組的第三線圈的一端和第四線圈的一端作為第二輸入端；

所述第一線圈的另一端和所述第三線圈的另一端相接，且所述第二線圈的另一端和所述第四線圈的另一端相接作為輸出端。

本實用新型的有益效果是：提供一種EMC傳導測試輔助裝置包括同向繞組和反向繞組，將該輔助裝置接入到EMC傳導測試系統的電路中時，由于該輔助裝置具有兩個輸入端，若將同向繞組的兩個線圈的一端作為輸入端接入電路時，可以實現去差模干擾，則干擾源為共模干擾，若將反向繞組的兩個線圈的一端作為輸入端接入電路時，可以實現去共模干擾，則干擾源為差模干擾，由此可以區分干擾源的傳輸方式，快速定位檢測電路中的主要干擾源，從而降低測試成本。

在上述技術方案的基礎上，本實用新型還可以做如下改進。

進一步地，所述同向繞組和所述反向繞組并排放置。

采用上述進一步方案的有益效果是：將同向繞組和反向繞組并排放置，可以方便各線圈繞行以及輸出端和2個輸入端的引出，進而方便將輔助裝置接入測試電路中。

進一步地，各線圈的匝數為1～3。

采用上述進一步方案的有益效果是：由于本實用新型中的輔助裝置是利用繞組的磁環內部的磁場抵消來實現去干擾的目的，線圈匝數少，即可以保證磁環內部的磁場夠強也可以避免對磁環內部的磁場產生影響，引入外來干擾。

進一步地，所述同向繞組的第一磁環和所述反向繞組的第二磁環為性能參數和尺寸均相同的吸收磁環，且相互之間具有空隙間隔。

采用上述進一步方案的有益效果是：同向繞組的磁環和方向繞組的磁環采用相同性能參數和尺寸的吸收磁環，可以更好的確保去干擾的效果，且能最大限度的降低外來干擾因素的影響。另外，兩個磁環之間具有空隙間隔可以避免相互之間造成干擾，影響測試效果。

進一步地，所述第一磁環和所述第二磁環與各線圈間的相對位置固定不變。