[實(shí)用新型]一種具有自檢功能的集成電路測試板

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821840036.0
• 申請日: 2018-11-09
• 公開（公告）號: CN209280865U
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 程黎明;李明銘
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳潤信通科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實(shí)用新型公開了一種具有自檢功能的集成電路測試板，包括電路板模塊、供電模塊和顯示模塊，所述供電模塊搭載于所述電路板模塊表面，所述供電模塊用于為所述電路板模塊提供電力的支持，所述顯示模塊與所述電路板模塊電性連接，所述顯示模塊用于提示所述電路板模塊是否有損壞；通過在原有的自檢集成電路測試板上添加信號所述發(fā)送單元，可以將每次所述測試電路檢測后的結(jié)果發(fā)送給遠(yuǎn)處的所述接收單元，所述接收單元將接收的信號轉(zhuǎn)發(fā)給所述處理單元進(jìn)行簡單的處理，隨后通過所述提示單元進(jìn)行具體的顯示提示，由于所述顯示模塊以app的形式搭載于手機(jī)，手表以及計算機(jī)等，便于工作人員隨時以及及時的了解整個芯片自檢的結(jié)果，便于對芯片的及時處理。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于集成電路技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種具有自檢功能的集成電路測試板。

背景技術(shù)

在一個芯片由設(shè)計到最終成熟產(chǎn)品完成的過程中，為保證芯片的質(zhì)量和性能，集成電路芯片的研發(fā)企業(yè)及生產(chǎn)廠家則需要對大量的芯片進(jìn)行相關(guān)測試，當(dāng)前，多采用集成電路測試板來完成芯片的測試，而現(xiàn)有技術(shù)中，一旦集成電路測試板出現(xiàn)故障，難以對芯片進(jìn)行正常測試，并且沒有及時被發(fā)現(xiàn)，大量芯片的測試結(jié)果便可能會不準(zhǔn)確，從而導(dǎo)致批量性不良品的出現(xiàn)。

目前市場上進(jìn)行帶自檢功能的集成電路測試板對工作人員的通知采用的時傳統(tǒng)的量紅綠燈式，這種傳統(tǒng)的需要工作人員在工作臺附近，否則無法及時的了解到芯片檢測的信息，不利于對芯片的維修和再次檢測。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型提供一種具有自檢功能的集成電路測試板，旨在解決目前市場上進(jìn)行帶自檢功能的集成電路測試板對工作人員的通知采用的時傳統(tǒng)的量紅綠燈式，這種傳統(tǒng)的需要工作人員在工作臺附近，否則無法及時的了解到芯片檢測的信息，不利于對芯片的維修和再次檢測的問題。

本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種具有自檢功能的集成電路測試板，包括電路板模塊、供電模塊和顯示模塊，所述供電模塊搭載于所述電路板模塊表面，所述供電模塊用于為所述電路板模塊提供電力的支持，所述顯示模塊與所述電路板模塊電性連接，所述顯示模塊用于提示所述電路板模塊是否有損壞，其中：所述電路板模塊包括集成電路板、測試電路和發(fā)送單元，所述測試電路和所述發(fā)送單元均搭載于所述集成電路板，所述測試電路用于測試所述集成電路板的好壞，所述發(fā)送單元用于將整個電路板檢測好壞的信號的發(fā)送，所述供電模塊包括蓄電池和電源插口，所述蓄電池和所述電源插口均搭載于所述集成電路板，所述蓄電池用做所述測試電路和所述發(fā)送單元的備用電源，所述電源插口與外接電源相連接，用于為所述集成電路板進(jìn)行正常通電，所述顯示模塊包括接收單元、處理單元和提示單元，所述接收單元與所述發(fā)送單元相連接，所述接收單元用于接受所述發(fā)送單元發(fā)送的測試信息，所述處理單元與所述接收單元相連接，所述處理單元用于根據(jù)接收到的測試信號進(jìn)行解讀，所述提示單元與所述處理單元相連接，用于跟據(jù)所述處理單元的信號進(jìn)行對應(yīng)顯示。

優(yōu)選的，所述提示單元設(shè)置為顯示屏，所述顯示屏顯示數(shù)據(jù)為“正?！被蛘摺肮收稀?。

優(yōu)選的，所述處理單元包括處理器和內(nèi)存條，所述內(nèi)存條與所述處理器相連接，所述處理器用于根據(jù)所述接收單元中的信息調(diào)取所述內(nèi)存條中對的顯示消息。

優(yōu)選的，所述內(nèi)存條內(nèi)存儲有檢測為正常的“正?！敝噶?，以及檢測為損壞的“故障”指令。

優(yōu)選的，所述測試電路包括CPU和繼電器K1、K2、K3，所述CPU分別電性連接所述繼電器K1、K2、K3。

優(yōu)選的，所述發(fā)送單元的信號發(fā)送通路分為兩種情況，分別為正常時和損壞時。

優(yōu)選的，所述蓄電池、所述測試電路和所述發(fā)送單元作為所述集成電路板本身損壞時的信號發(fā)送的通路。

優(yōu)選的，所述電源插口、所述集成電路板、所述測試電路和所述發(fā)送單元作為正常時信號發(fā)送的通路。