[實用新型]一種原子熒光分光光度計專用進樣試管架

有效

• 申請號: 201821837114.1
• 申請日: 2018-11-08
• 公開（公告）號: CN209198298U
• 公開（公告）日: 2019-08-02
• 發明（設計）人: 尹超
• 申請（專利權）人: 山東驍然檢測有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 蘇友娟

本實用新型涉及一種原子熒光分光光度計專用進樣試管架，包括固定座和底座，所述底座頂部的一側水平設置有兩個凹槽，且凹槽的內部均勻豎直設置有立柱，所述凹槽位置處的底座內部設置有內置槽，所述內置槽的一端連接有出水管，所述底座頂部的另一側均勻設置有固定座，且固定座內部的中間位置處焊接有減震彈簧，所述減震彈簧兩側的固定座內部皆設置有滑槽，所述固定座的頂部套接有連接套，試管放置槽兩側的連接套頂部皆連接有伸縮桿，且伸縮桿遠離連接套的一端連接有防護架，本實用新型方便清洗過后的試管中水漬進行收集，便于二次使用，穩定性能好，防灑落，適用于不同高度的試管，使用方便。

技術領域

本實用新型涉及進樣試管架技術領域，具體為一種原子熒光分光光度計專用進樣試管架。

背景技術

原子熒光光譜分析(AFS)是20世紀60年代中期提出并發展起來的光譜分析技術，它是原子吸收和原子發射光譜的綜合與發展，是一種優良的痕量分析技術，常用來進行環境中重金屬元素含量的檢測。

但是在利用原子熒光分光光度計檢測的過程中，通常要測很多組樣品，每一組樣品中要加多種化學試劑；在將試管放置的過程中，無法根據試管的高度進行調節，在加試劑的過程中化學試劑的滴落會造成試驗臺的腐蝕；同時在使用的過程中，無法對以清洗的試管進行擺放，同時無法清洗過后的試管內部的水漬進行收集。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種原子熒光分光光度計專用進樣試管架，以解決上述背景技術中提出的在將試管放置的過程中，無法根據試管的高度進行調節，在加試劑的過程中化學試劑的滴落會造成試驗臺的腐蝕；同時在使用的過程中，無法對以清洗的試管進行擺放，同時無法清洗過后的試管內部的水漬進行收集問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：

一種原子熒光分光光度計專用進樣試管架，包括固定座和底座，所述底座頂部的一側水平設置有兩個凹槽，且凹槽的內部均勻豎直設置有立柱，所述立柱之間的凹槽內部皆設置有進水通孔，所述凹槽位置處的底座內部設置有內置槽，所述進水通孔的一端與內置槽連通，所述內置槽的一端連接有出水管，所述底座頂部的另一側均勻設置有固定座，且固定座內部的中間位置處焊接有減震彈簧，所述減震彈簧兩側的固定座內部皆設置有滑槽，所述減震彈簧頂部的兩側皆設置有與滑槽相互配合的滑塊，所述固定座的頂部套接有連接套，且連接套底部的中間位置處皆通過連接桿與減震彈簧的頂部連接，所述連接套頂部的中間位置處設置有試管放置槽，且試管放置槽兩側的連接套頂部皆連接有伸縮桿，且伸縮桿遠離連接套的一端連接有防護架，所述防護架的中間位置處豎直連通有連接通孔。

優選的，所述底座底部的四角位置處皆設置有支撐盤。

優選的，所述伸縮桿是由套筒與套桿相互組合而成，且伸縮桿上套筒一側的頂部連接有擰緊栓。

優選的，所述連接通孔位置處的防護架頂部鉸接有與連接通孔相互配合的橡膠塞。

優選的，所述出水管的一端延伸至底座一側的外部并連接有單向閥。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

一、本實用新型的原子熒光分光光度計專用進樣試管架，通過在底座頂部的一側水平設置兩個凹槽，且凹槽的內部均勻豎直設置立柱，并在立柱之間的凹槽內部皆設置進水通孔，并在凹槽位置處的底座內部設置內置槽，并將進水通孔的一端與內置槽連通，并在內置槽的一端連接出水管，便于對清洗過后的試管進行放置盒瀝干，同時方便對清洗過后的試管中水漬進行收集，方便二次使用。