[實用新型]一種集成電路測試的檢測平臺

有效

• 申請號: 201821791929.0
• 申請日: 2018-11-01
• 公開（公告）號: CN209102315U
• 公開（公告）日: 2019-07-12
• 發明（設計）人: 鄒德順;王麗娜
• 申請（專利權）人: 廣州樹陽電子科技有限公司
• 主分類號: G01M7/02
• 分類號: G01M7/02;G01R31/28
• 代理公司: 六安市新圖匠心專利代理事務所(普通合伙) 34139
• 代理人: 陳斌

1.一種集成電路測試的檢測平臺，包括底板（1）和位于其上方的活動板（8），其特征在于，所述底板（1）的頂端四角均安裝有伸縮柱（6），伸縮柱（6）的頂端連接有活動板（8），底板（1）的頂端中間位置轉動連接有垂直設置的第一螺紋桿（2），第一螺紋桿（2）的側壁底端安裝有第一轉動手柄（3），第一螺紋桿（2）上螺紋連接有連接環（4），連接環（4）的兩側側壁上均鉸接有連接桿（5），連接桿（5）的頂端鉸接在活動板（8）的底端側壁上，所述活動板（8）的頂端兩側均焊接有垂直設置的側板（10），兩個側板（10）之間滑動連接有水平設置的安裝板（13），安裝板（13）的頂端設有多個固定機構（14），安裝板（13）的下方設有位于活動板（8）上的振動機構。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路測試的檢測平臺，其特征在于，所述振動機構包括焊接在活動板（8）上的垂直設置的固定板（7），固定板（7）的側壁上通過螺釘安裝有驅動電機，驅動電機的輸出軸穿過固定板（7）連接有垂直設置的轉動盤（9），轉動盤（9）上活動安裝有連接柱（91），所述活動板（8）靠近轉動盤（9）的側壁上焊接有轉軸（17），轉軸（17）上轉動連接有擺動桿（16），擺動桿（16）位于轉動盤（9）的一側，擺動桿（16）的一端開有活動孔（161），連接柱（91）滑動連接在活動孔（161）內，擺動桿（16）的另一端側壁上安裝有擺動塊（15）。

3.根據權利要求2所述的一種集成電路測試的檢測平臺，其特征在于，所述轉動盤（9）的側壁上開有朝向圓心的第一滑槽，第一滑槽內轉動連接有第二螺紋桿（92），第二螺紋桿（92）上螺紋連接有滑動連接在第一滑槽內的第一滑塊（93），第一滑塊（93）的側壁上固定有連接柱（91），第二螺紋桿（92）的一端連接有第二轉動手柄。

4.根據權利要求1所述的一種集成電路測試的檢測平臺，其特征在于，所述固定機構（14）包括固定在安裝板（13）上的固定夾持塊（141），固定夾持塊（141）的一側設有對稱設置的活動夾持塊（143），活動夾持塊（143）遠離固定夾持塊（141）一側設有安裝在安裝板（13）的固定塊（144），固定塊（144）上螺紋連接有第三螺紋桿（145），第三螺紋桿（145）的一端轉動連接在活動夾持塊（143）上，第三螺紋桿（145）的另一端連接有第三轉動手柄。

5.根據權利要求4所述的一種集成電路測試的檢測平臺，其特征在于，所述活動夾持塊（143）的底端兩側均設有限位塊，安裝板（13）的頂端開有多個限位槽（142），限位塊滑動連接在限位槽（142）內。

6.根據權利要求1所述的一種集成電路測試的檢測平臺，其特征在于，所述安裝板（13）的兩側均設有兩個第二滑塊（11），兩個側板（10）相互靠近的一側均開有兩個第二滑槽（12），第二滑塊（11）滑動連接在第二滑槽（12）內。

7.根據權利要求1所述的一種集成電路測試的檢測平臺，其特征在于，所述伸縮柱（6）包括固定在底板（1）上的套筒，套筒內滑動連接有活動桿，活動桿的頂端連接有活動板（8）。

8.根據權利要求4所述的一種集成電路測試的檢測平臺，其特征在于，所述活動夾持塊（143）和固定夾持塊（141）的豎切面為L形。