[實用新型]屏幕面板偏壓芯片測試探針卡有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201821769582.X | 申請日: | 2018-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN209086294U | 公開(公告)日: | 2019-07-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙永昌;魯斌;谷陳鵬;宋旭 | 申請(專利權(quán))人: | 嘉興鵬武電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司: | 嘉興啟帆專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33253 | 代理人: | 王大國 |
| 地址: | 314000 浙江省嘉興市南湖區(qū)*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 屏幕面板 芯片測試模塊 探針 芯片測試 探針卡 本實用新型 多工位并行測試 接口電路板 測量電路 待測器件 電源儀表 分析儀表 信號發(fā)生 直接安裝 測試機 座子 芯片 測試 | ||
本實用新型公開了一種屏幕面板偏壓芯片測試探針卡,包括與待測器件對接的探針、與探針相連的探針座子和至少一個屏幕面板偏壓芯片測試模塊,各個屏幕面板偏壓芯片測試模塊直接安裝于接口電路板,各個屏幕面板偏壓芯片測試模塊同時與探針相連。所述屏幕面板偏壓芯片測試模塊包括第一至第四開關(guān)K1~K4和測量電路。本實用新型公開的屏幕面板偏壓芯片測試探針卡,基于測試廠現(xiàn)有測試機電源儀表與信號發(fā)生及分析儀表,并加入高精度的屏幕面板偏壓芯片測試模塊,以便實現(xiàn)屏幕面板偏壓芯片多工位并行測試。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于半導(dǎo)體生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種屏幕面板偏壓芯片測試探針卡。
背景技術(shù)
屏幕面板偏壓芯片可分為通用和專用兩種,通用芯片一般用在低端屏幕面板,每路最大可輸出35mA電流,且不是恒流。一般的IC廠商都可以生產(chǎn)。由于LED是電流特性器件,在飽和導(dǎo)通情況下,其亮度隨著電流大小的變化而變化,不是隨著其兩端電壓的變化而變化。因此,專用芯片的一個最大特點是提供恒流源。恒流源可保證LED的穩(wěn)定驅(qū)動,消除LED的閃爍現(xiàn)象。
參見附圖的圖1,在手機上,屏幕是非常重要的部件之一,屏幕顯示的效果,直接影響著用戶的直觀感受。而屏幕偏壓驅(qū)動芯片,也是具有影響的其中一個因素。性能好的屏幕偏壓驅(qū)動芯片,可以使屏幕顯示清晰,亮度均勻,沒有閃爍等問題,并且高效率的驅(qū)動芯片增加手機的待機時間,所以選擇一款合適的,性能優(yōu)異的屏幕偏壓驅(qū)動芯片是非常重要的。根據(jù)LCD屏幕內(nèi)的LED連接方式,來決定要選擇的背光驅(qū)動芯片。目前常用的背光驅(qū)動芯片有幾種:boost DC/DC(inductor)型,charge pump(capacitor)型,Linear型的。我們現(xiàn)在研發(fā)的探針卡就是測試charge pump型偏壓芯片。由于該類型芯片在使用時有著較寬電壓范圍,需恒定提供大電流,保證很小的漏電,且升壓速度快等特點,所以探針卡的PCB layout和生產(chǎn)加工時同樣需要考慮這些重要因素。
該測試方案存在著如下不足:
1.基于各種獨立儀表集成,系統(tǒng)通訊開銷大,導(dǎo)致測試時間長;
2.需要系統(tǒng)集成和二次開發(fā)工作,成本高;
3.因為需要集成各種儀表,安裝配置麻煩,可靠性差;
4.受獨立儀表資源限制,多工位并行測試困難;
5.測試廠需要引入新的儀表,無法利用現(xiàn)有設(shè)備,增加成本。
實用新型內(nèi)容
本實用新型針對現(xiàn)有技術(shù)的狀況,克服上述缺陷,提供一種屏幕面板偏壓芯片測試探針卡。
本實用新型采用以下技術(shù)方案,所述屏幕面板偏壓芯片測試探針卡用于獲取并且共享來自測試機臺的現(xiàn)有設(shè)備的輸入信息,上述測試機臺的現(xiàn)有設(shè)備包括第一電源通道模塊、第二電源通道模塊、信號發(fā)生模塊、DSP計算模塊和信號采集模塊,其特征在于,所述屏幕面板偏壓芯片測試探針卡包括與待測器件對接的探針、與探針相連的探針座子和至少一個屏幕面板偏壓芯片測試模塊,各個屏幕面板偏壓芯片測試模塊直接安裝于接口電路板,各個屏幕面板偏壓芯片測試模塊同時與探針相連,所述屏幕面板偏壓芯片測試模塊包括:
第一開關(guān)K1,所述第一開關(guān)K1用于導(dǎo)通或者關(guān)斷第一電源通道與待測器件之間的通路;
第二開關(guān)K2,所述第二開關(guān)K2用于導(dǎo)通或者關(guān)斷第二電源通道與待測器件之間的通路;
第三開關(guān)K3,所述第三開關(guān)K3用于導(dǎo)通或者關(guān)斷信號發(fā)生模塊與待測器件之間的通路;
第四開關(guān)K4和測量電路,所述第四開關(guān)K4用于導(dǎo)通或者關(guān)斷信號采集模塊與待測器件之間的通路,所述測量電路位于第四開關(guān)K4與信號采集模塊的一端之間,上述信號采集模塊的另一端外接于DSP計算模塊。
根據(jù)上述技術(shù)方案,所述測量電路包括芯片U1,其中:
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