[實用新型]一種用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821762344.6
• 申請日: 2018-10-29
• 公開（公告）號: CN208860246U
• 公開（公告）日: 2019-05-14
• 發(fā)明（設計）人: 張寧寧;陳耿郎;王友鑫;楊平;蔣淑戀;鄭鵬
• 申請（專利權）人: 廈門市計量檢定測試院
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00;G01B5/14;B29C64/118;B29C64/386;B33Y50/00
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務所 44275
• 代理人: 張明

本實用新型提供了一種可以有效測試3D打印機重復定位性能的用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)。所述用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)包括基板和至少兩個的定位塊，至少兩個的所述定位塊分別設于基板的一側的表面上，至少兩個的定位塊呈矩形陣列分布。

技術領域

本實用新型涉及計量技術領域，特別涉及一種用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)。

背景技術

3D打印機現在已經越來越多的應用在各個場合，因此越來越需要對每個3D打印機的打印性能做出評價。3D打印機在打印時，打印頭根據計算機中輸入的坐標值沿X軸和Y軸移動到預定位置后進行打印，這就有可能產生誤差。尤其是當打印頭需要連續(xù)打印多個間距相同的部件時，越在后的物體其位置出現誤差的可能性越大。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是：提供一種可以有效測試3D打印機重復定位性能的用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)。

為了解決上述技術問題，本實用新型采用的技術方案為：一種用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)，包括基板和至少兩個的定位塊，至少兩個的所述定位塊分別設于基板的一側的表面上，至少兩個的定位塊呈矩形陣列分布。

進一步的，所述定位塊的形狀為正方形，正方形的所述定位塊的邊長與相鄰定位塊之間的距離大小相等。

進一步的，所述基板為長方體結構，呈矩形陣列分布的定位塊形成的矩形區(qū)域的四個側邊與基板的設有定位塊的一面的四個側邊分別一一對應位于同一平面內。

本實用新型的有益效果在于：基板上的至少兩個的定位塊間距相同且形狀大小一致，利用3D打印機打印出基板與基板上的定位塊后，測量定位塊的大小參數及間距，就可以獲知3D打印機在重復打印間距相同的物體的精度。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例的用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)的俯視圖；

圖2為本實用新型實施例的用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)的側視圖；

標號說明：

1、基板；

2、定位塊。

具體實施方式

為詳細說明本實用新型的技術內容、所實現目的及效果，以下結合實施方式并配合附圖予以說明。

本實用新型最關鍵的構思在于：在基板上設置了形狀與大小都相同的定位塊，且相鄰的定位塊之間大小相同。

請參照圖1以及圖2，一種用于測試熔融沉積3D打印品重復定位精度的量規(guī)，包括基板1和至少兩個的定位塊2，至少兩個的所述定位塊2分別設于基板1的一側的表面上，至少兩個的定位塊2呈矩形陣列分布。

從上述描述可知，本實用新型的有益效果在于：基板上的至少兩個的定位塊間距相同且形狀大小一致，利用3D打印機打印出基板與基板上的定位塊后，測量定位塊的大小參數及間距，就可以獲知3D打印機在重復打印間距相同的物體的精度。

進一步的，所述定位塊2的形狀為正方形，正方形的所述定位塊2的邊長與相鄰定位塊2之間的距離大小相等。

由上述描述可知，在比較相鄰定位塊2之間的間距是否相等及定位塊2的大小是否相等后，還可以測量定位塊2的邊長與相鄰定位塊2之間的距離是否相等來判斷3D打印機的精度。

進一步的，所述基板1為長方體結構，呈矩形陣列分布的定位塊2形成的矩形區(qū)域的四個側邊與基板1的設有定位塊2的一面的四個側邊分別一一對應位于同一平面內。

由上述描述可知，量規(guī)的形狀更加規(guī)則，符合3D打印機的工作原理。