[實用新型]一種手機鏡頭品質自動檢測機有效
| 申請號: | 201821759159.1 | 申請日: | 2018-10-29 |
| 公開(公告)號: | CN209349089U | 公開(公告)日: | 2019-09-06 |
| 發明(設計)人: | 王錦平 | 申請(專利權)人: | 江西省長益光電有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/34 | 分類號: | B07C5/34;B07C5/36 |
| 代理公司: | 東莞市冠誠知識產權代理有限公司 44272 | 代理人: | 劉花 |
| 地址: | 337000 江*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 手機鏡頭 移動架 移動臺 吸盤 本實用新型 自動檢測機 擺料機構 分料機構 檢測 檢測芯片 旋轉電機 自動分料 自動檢測 不良品 檢測盤 上料盤 燈板 分料 良品 自動化 | ||
本實用新型提供了一種手機鏡頭品質自動檢測機,包括有擺料機構、檢測機構、分料機構、上料盤、檢測盤、良品盤以及不良品盤;所述擺料機構包括有第一移動臺、CCD相機、擺料吸盤、旋轉電機以及第一移動架;所述檢測機構包括有第二移動臺、檢測芯片、燈板以及第二移動架;所述分料機構包括有第三移動臺、分料吸盤以及第三移動架。本實用新型中,通過對手機鏡頭的自動擺料、自動檢測以及自動分料,實現了手機鏡頭批量自動化檢測功能,不僅提高了檢測效率和檢測精度,還能降低工人的勞動強度。
技術領域
本實用新型涉及光學制品檢測設備技術領域,尤其涉及一種手機鏡頭品質自動檢測機的擺料機構。
背景技術
手機鏡頭在出廠前需要進行品質檢測,其中主要是對前焦距進行檢測。前焦距(FFD),又叫前焦長(FFL),是系統前方的焦點至待擺個光學表面頂點(焦點)的距離。
傳統的檢測方法是人工將鏡頭逐個擺放在檢測芯片上方進行檢測,檢測完成后再根據檢測結果把合格品和不合格品進行分料。由于人工擺料的緣故,鏡頭擺放的角度會參差不齊,影響檢測的精度。同時,工人不斷地將手機鏡頭進行擺放和取下,其檢測效率低下。并且,由于長時間處于強光下工作,對工人眼部造成的傷害較大。
實用新型內容
本實用新型要解決的技術問題是根據上述現有技術的不足,提供一種手機鏡頭品質自動檢測機,其可以實現對手機鏡頭批量自動化檢測,不僅提高了檢測效率和檢測精度,還能降低工人的勞動強度。
本實用新型的技術方案如下:
一種手機鏡頭品質自動檢測機,包括有擺料機構、檢測機構、分料機構、上料盤、檢測盤、良品盤以及不良品盤;
所述擺料機構包括有第一移動臺、CCD相機、擺料吸盤、旋轉電機以及第一移動架;所述上料盤和檢測盤可拆卸安裝于所述第一移動臺上,所述第一移動臺帶動所述上料盤、檢測盤沿X軸移動;所述第一移動架帶動所述CCD相機在所述上料盤、檢測盤上方沿Y軸、Z軸移動;所述旋轉電機帶動所述擺料吸盤繞Z軸自轉,所述第一移動架帶動所述擺料吸盤在所述上料盤、檢測盤上方沿Y軸、Z軸移動;
所述檢測機構包括有第二移動臺、檢測芯片、燈板以及第二移動架;所述檢測盤可拆卸安裝于所述第二移動臺上,所述第二移動臺帶動所述檢測盤沿X軸、Y軸移動;所述檢測芯片位于所述檢測盤下方;所述第二移動架帶動所述燈板在所述檢測盤上方沿Z軸移動;
所述分料機構包括有第三移動臺、分料吸盤以及第三移動架;所述檢測盤、良品盤以及不良品盤可拆卸安裝于所述第三移動臺上,所述第三移動臺帶動所述檢測盤、良品盤以及不良品盤沿X軸移動;所述第三移動架帶動所述分料吸盤在所述檢測盤、良品盤以及不良品盤上方沿Y軸、Z軸移動。
進一步地,所述上料盤、檢測盤、良品盤以及不良品盤均設置有上下貫穿的鏡頭容置孔,多個所述鏡頭容置孔矩形陣列分布。
進一步地,所述第一移動臺包括有兩X軸平移組件,所述上料盤和檢測盤分別可拆卸安裝于兩所述X軸平移組件上。
進一步地,所述第一移動架包括有兩Y軸平移組件和一Z軸平移組件;所述CCD相機安裝于一所述Y軸平移組件上;所述旋轉電機安裝于Z軸平移組件上,所述Z軸平移組件安裝于另一所述Y軸平移組件上。
進一步地,所述第二移動臺包括有下框、上框、X軸平移組件以及Y軸平移組件;所述下框安裝于所述X軸平移組件上,所述上框安裝于所述下框上表面且與所述Y軸平移組件裝配;所述檢測盤可拆卸安裝于所述上框上,所述檢測芯片設置于所述下框和上框內。
進一步地,所述第二移動架包括有Z軸平移組件,所述燈板安裝于所述Z軸平移組件上。
進一步地,所述第三移動臺包括有 X軸平移組件,所述檢測盤、良品盤以及不良品盤可拆卸安裝于所述X軸平移組件上。
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