[實用新型]一種自動螺紋檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821755384.8
• 申請日: 2018-10-26
• 公開（公告）號: CN208780066U
• 公開（公告）日: 2019-04-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 郭天定;郭天水
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫海菲焊接設(shè)備有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32260
• 代理人: 王闖;葛莉華

本實用新型涉及螺紋檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種自動螺紋檢測裝置，包括機架，所述機架上部依次設(shè)有取料機械手和檢料機構(gòu)，下部設(shè)有移料機構(gòu)，所述移料機構(gòu)頂部設(shè)置有夾料機構(gòu)且下部形成有料倉；所述取料機械手用于抓取被檢測工件并放置于夾料機構(gòu)上；所述夾料機構(gòu)用于夾緊被檢測工件；所述移料機構(gòu)用于帶動夾料機構(gòu)在取料機械手下方和檢料機構(gòu)下方之間移動；所述檢料機構(gòu)用于將絲攻旋入被檢測工件的螺紋孔，對螺紋進行檢測；所述料倉用于存放檢測后的工件；本實用新型能夠?qū)崿F(xiàn)對工件螺紋孔的自動檢測，不僅檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單，易于操作，檢測效率高，而且不會由于人為原因在檢測過程中導(dǎo)致工件報損，且檢測準(zhǔn)確率高。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及螺紋檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種自動螺紋檢測裝置。

背景技術(shù)

對于帶有螺紋孔的工件，在進行焊接加工后，有可能出現(xiàn)螺紋孔不通暢的情況，這是因為在進行焊接加工時會有焊渣飛濺，焊渣容易粘附在螺紋上，導(dǎo)致螺紋孔出現(xiàn)異常。現(xiàn)在普遍的做法是人工對焊接后的工件進行檢查，排除工件的螺紋孔異常情況，不僅效率低下，而且檢測準(zhǔn)確率低。

實用新型內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本實用新型提供一種自動螺紋檢測裝置。

為實現(xiàn)以上技術(shù)目的，本實用新型的技術(shù)方案是：

一種自動螺紋檢測裝置，包括機架，所述機架上部依次設(shè)有取料機械手和檢料機構(gòu)，下部設(shè)有移料機構(gòu)，所述移料機構(gòu)頂部設(shè)置有夾料機構(gòu)且下部形成有料倉；

所述取料機械手用于抓取被檢測工件并放置于夾料機構(gòu)上；

所述夾料機構(gòu)用于夾緊被檢測工件；

所述移料機構(gòu)用于帶動夾料機構(gòu)在取料機械手下方和檢料機構(gòu)下方之間移動；

所述檢料機構(gòu)用于將絲攻旋入被檢測工件的螺紋孔，對螺紋進行檢測；

所述料倉用于存放檢測后的工件。

作為優(yōu)選，所述機架包括第一豎直安裝板、水平底板和第二豎直安裝板，所述取料機械手安裝于第一豎直安裝板上，所述檢料機構(gòu)安裝于第二豎直安裝板上，所述移料機構(gòu)安裝于水平底板上.

作為優(yōu)選，所述取料機械手包括無桿氣缸、滑臺氣缸和手指氣缸，所述無桿氣缸水平移動且缸體固定于第一豎直安裝板上部，所述滑臺氣缸上下移動且缸體固定于無桿氣缸的移動體上，所述手指氣缸用于夾取被檢測的工件且缸體固定于滑臺氣缸的滑臺上。

作為優(yōu)選，所述移料機構(gòu)包括第一直線導(dǎo)軌、第二直線導(dǎo)軌、第一固定臺、第二固定臺和移動氣缸，所述第一直線導(dǎo)軌和第二直線導(dǎo)軌相對設(shè)置，且分別通過第一固定臺和第二固定臺固定于水平底板上，第一固定臺和第二固定臺之間的空間形成為料倉，所述第一直線導(dǎo)軌上匹配設(shè)置有第一滑塊，所述第二直線導(dǎo)軌上匹配設(shè)置有第二滑塊，所述第一滑塊和第二滑塊位于相同側(cè)的一面通過連接片連接，所述移動氣缸驅(qū)動第一滑塊和第二滑塊同步運動進而帶動夾料機構(gòu)在在取料機械手下方和檢料機構(gòu)下方之間移動。

作為優(yōu)選，所述夾料機構(gòu)包括工件定位塊和2個夾爪氣缸，所述工件定位塊包括相對設(shè)置的左半塊和右半塊，所述左半塊和右半塊中部均具有缺口，兩個缺口對接后形成用于放置被檢測工件的工件定位槽，所述2個夾爪氣缸的缸體分別設(shè)于第一滑塊和第二滑塊上，一個夾爪氣缸的兩個夾爪用于夾緊位于一側(cè)的左半塊的端部和右半塊的端部，另一個夾爪氣缸的兩個夾爪用于夾緊位于另一側(cè)的左半塊的端部和右半塊的端部。

作為改進，還包括油壓緩沖器，所述油壓緩沖器設(shè)置于第二滑塊的行進路徑上，用于限定第二滑塊行進到檢料機構(gòu)下方的位置。