[實用新型]光譜儀及水質檢測裝置有效
| 申請號: | 201821744271.8 | 申請日: | 2018-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN209132155U | 公開(公告)日: | 2019-07-19 |
| 發明(設計)人: | 王翰林;付秋玥 | 申請(專利權)人: | 廣州市怡文環境科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/39 | 分類號: | G01N21/39 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 劉培培 |
| 地址: | 510730 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光柵 準直鏡 光譜儀 水質檢測裝置 成像反射鏡 陣列探測器 光入射口 光束入射 依次設置 光路 殼體 光譜 本實用新型 生產成本低 光束檢測 角度可調 光譜圖 準確率 生產成本 體內 檢測 | ||
本實用新型涉及一種光譜儀及一種水質檢測裝置,上述光譜儀包括:殼體、第一準直鏡、第一光柵、第二準直鏡、第二光柵、成像反射鏡和陣列探測器,第一準直鏡、第一光柵、第二準直鏡和第二光柵分別角度可調地安裝在殼體內,殼體上設有用于第一光束入射的第一光入射口和用于第二光束入射的第二光入射口,第一準直鏡、第一光柵和成像反射鏡沿第一光束的光路依次設置,以使第一光束在陣列探測器上形成第一光譜;第二準直鏡、第二光柵和成像反射鏡沿第二光束的光路依次設置,以使第二光束在陣列探測器上形成第二光譜,上述光譜儀可有效將對各路光束檢測所形成的各光譜圖分離且生產成本低,上述水質檢測裝置具有較高的檢測準確率且生產成本較低。
技術領域
本實用新型涉及光學設備技術領域,特別是涉及一種光譜儀及一種水質檢測裝置。
背景技術
目前,光譜儀可分為單通道光譜儀和雙通道光譜儀,單通道光譜儀每次只能對單路光束進行檢測,如需對雙路光束進行檢測,則需分開兩次進行,這導致單通道光譜儀對每路光束的對比檢測容易出現誤差,而雙通道光譜儀則可克服單通道光譜儀的上述缺陷,但傳統的雙通道光譜儀對各路光束檢測所形成的各光譜圖容易發生重合,導致難以準確地對各光譜圖進行對比分析,為此,傳統的雙通道光譜儀需要設置柱面鏡將各光譜圖相互分離,才能清晰地對各光譜圖進行對比分析,但這無疑會導致傳統的雙通道光譜儀的生產成本較高。
實用新型內容
基于此,有必要針對傳統的雙通道光譜儀的生產成本高的技術問題,提供一種光譜儀和一種水質檢測裝置。上述光譜儀可同時對至少兩路光束進行檢測,且有效將對各路光束檢測所形成的各光譜圖分離,從而能清晰地對各光譜圖進行對比分析,有效提高測量結果的準確性,且上述光譜儀的生產成本較低;上述水質檢測裝置具有較高的檢測準確率且生產成本較低。
為實現上述目的,本實用新型提供一種光譜儀,所述的光譜儀包括:殼體、第一準直鏡、第一光柵、第二準直鏡、第二光柵、成像反射鏡和陣列探測器,所述第一準直鏡、所述第一光柵、所述第二準直鏡和所述第二光柵分別角度可調地安裝在所述殼體內,所述殼體上設有用于第一光束入射的第一光入射口和用于第二光束入射的第二光入射口,所述第一準直鏡、所述第一光柵和所述成像反射鏡沿所述第一光束的光路依次設置,以使所述第一光束在所述陣列探測器上形成第一光譜;所述第二準直鏡、所述第二光柵和所述成像反射鏡沿所述第二光束的光路依次設置,以使所述第二光束在所述陣列探測器上形成第二光譜。
上述光譜儀與背景技術相比,至少具有以下有益效果:第一光束從第一光入射口進入殼體內,以后依次經過第一準直鏡、第一光柵和成像反射鏡形成第一光路,最后在陣列探測器上形成第一光譜;第二光束從第二光入射口進入殼體內,以后依次經過第二準直鏡、第二光柵和成像反射鏡形成第二光路,最后在陣列探測器上形成第二光譜;第一光路和第二光路相互分離,從而使第一光路和第二光路不會發生干涉,同時通過調節第一準直鏡、第一光柵、第二準直鏡和第二光柵的角度,可實現第一光譜和第二光譜完全分離,以使第一光譜和第二光譜之間沒有串擾,從而能清晰地對第一光譜和第二光譜進行對比分析,有效提高測量結果的準確性;再者,上述光譜儀不需使用柱面鏡即可將第一光譜和第二光譜分離,有效節省上述光譜儀生產成本。
在其中一實施例中,所述第一準直鏡與所述第二準直鏡以所述成像反射鏡的中垂面為對稱中心相互對稱布置,所述第一光柵與所述第二光柵以所述成像反射鏡的中垂面為對稱中心相互對稱布置。上述設置更便于通過調節第一準直鏡、第一光柵、第二準直鏡和第二光柵的角度,使第一光譜和第二光譜完全分離。
在其中一實施例中,所述第一光入射口和所述第二光入射口上分別安裝狹縫片。可通過改變狹縫片的縫寬以使所形成的第一光譜和第二光譜的分辨率達到所需要求。
在其中一實施例中,所述陣列探測器上設有用于將所述第一光譜與所述第二光譜分隔的擋光板。上述擋光板避免了第一光譜和第二光譜的串擾與混疊,從而進一步保證能清晰地對第一光譜和第二光譜進行對比分析,進而進一步提高測量結果的準確性。
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