[實(shí)用新型]便攜式常用芯片檢測(cè)儀

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201821743145.0
• 申請(qǐng)日: 2018-10-26
• 公開（公告）號(hào): CN208953668U
• 公開（公告）日: 2019-06-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 戴明哲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)計(jì)量大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/3167
• 分類號(hào): G01R31/3167
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實(shí)用新型公開了一種便攜式常用芯片檢測(cè)儀，其包括微處理器IAP15F2K61S2，數(shù)字芯片檢測(cè)模塊，模擬芯片檢測(cè)模塊，時(shí)基芯片檢測(cè)模塊，三端穩(wěn)壓芯片檢測(cè)模塊，顯示模塊，檢測(cè)運(yùn)行模塊，報(bào)警提醒模塊和電源模塊。微處理器IAP15F2K61S2通過控制檢測(cè)與數(shù)字芯片檢測(cè)模塊連接的IO口，根據(jù)其芯片的真值表來判斷芯片好壞；通過與模擬芯片檢測(cè)模塊和三端穩(wěn)壓芯片檢測(cè)模塊連接的IO口電平大小來判斷芯片好壞；通過對(duì)時(shí)基芯片檢測(cè)模塊輸出信號(hào)頻率來檢測(cè)芯片好壞；通過程序中IO口高低電平變化的相對(duì)映射來實(shí)現(xiàn)對(duì)反插芯片的檢測(cè)，并及時(shí)提醒使用者，防止裝置被損壞，提高了檢測(cè)儀的可靠性和安全性；微處理器IO口均可編程，使后期增加芯片種類變得方便，增加了其擴(kuò)展性。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及芯片檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種便攜式常用芯片檢測(cè)儀。

背景技術(shù)

在模電類和數(shù)電類實(shí)驗(yàn)室中，經(jīng)常需要使用數(shù)字芯片和模擬芯片進(jìn)行實(shí)驗(yàn)或設(shè)計(jì)，實(shí)驗(yàn)中經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)芯片型號(hào)字體模糊無法識(shí)別或不能正常使用的情況，因此，需要一臺(tái)便攜式常用芯片檢測(cè)儀實(shí)現(xiàn)芯片型號(hào)識(shí)別和質(zhì)量測(cè)試。目前，市場(chǎng)上現(xiàn)存的集成芯片測(cè)試儀，可以完成芯片的識(shí)別和測(cè)試，但是普遍存在體積大、不方便攜帶，成本高，價(jià)格昂貴等缺點(diǎn)。

鑒于上述缺陷，設(shè)計(jì)了一種新型的便攜式常用芯片檢測(cè)儀，降低成本，并提高實(shí)驗(yàn)效率和芯片利用率。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于提供一種便攜式常用芯片檢測(cè)儀，用以克服上述技術(shù)缺陷。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種便攜式常用芯片檢測(cè)儀，其包括微處理器IAP15F2K61S2，以及數(shù)字芯片檢測(cè)模塊、模擬芯片檢測(cè)模塊、時(shí)基芯片檢測(cè)模塊、三端穩(wěn)壓芯片模塊，顯示模塊，檢測(cè)運(yùn)行模塊，報(bào)警提醒模塊和能產(chǎn)生多種電壓的電源模塊。

所述的顯示模塊，由LCD1602組成，來顯示開機(jī)初始界面，芯片檢測(cè)情況和對(duì)未知芯片的型號(hào)檢測(cè)，同時(shí)能夠提醒芯片是否插反，及時(shí)矯正。

所述的檢測(cè)運(yùn)行模塊，用來運(yùn)行常用芯片檢測(cè)儀的程序，實(shí)現(xiàn)檢測(cè)儀的功能。

所述的電源模塊，用來產(chǎn)生GND(0V),+5V,+12V,+18V,-12V,-18V等多種電壓，供給微處理器，芯片檢測(cè)模塊，顯示模塊等。

所述的芯片檢測(cè)模塊，分為數(shù)字芯片檢測(cè)模塊、模擬芯片檢測(cè)模塊、時(shí)基芯片檢測(cè)模塊、三端穩(wěn)壓芯片模塊，由多個(gè)16P鎖緊座與微處理器IAP15F2K61S2連接，用來放置待測(cè)芯片，放置好芯片后，按下鎖緊座的桿，再按一下檢測(cè)運(yùn)行模塊，然后會(huì)在顯示模塊顯示檢測(cè)結(jié)果，本檢測(cè)儀能檢測(cè)16腳及以下的實(shí)驗(yàn)室常用數(shù)字芯片，常見的模擬芯片、常見的時(shí)基芯片和常見的三端穩(wěn)壓芯片，能夠檢測(cè)的芯片有74HC/LS00、74HC/LS04、74HC/LS20、74HC/LS54、 74HC/LS74、74HC/LS76、74HC/LS86、74HC/LS138、74HC/LS151、74HC/LS153、74HC/LS161、 74HC/LS192、74HC/LS194、CD4511、CD4001、CD40106、LM324、OP07、UA741、NE555、7905、 7912、7915、7805、7812、7815。

本實(shí)用新型的有益效果：

1.可靠性高：支持待測(cè)芯片反插測(cè)試，并且在顯示模塊上有所提示，防止檢測(cè)裝置被損壞。

2.擴(kuò)展性好：所述的微處理器為IAP15F2K61S2，擁有大容量的ROM和RAM，內(nèi)置ADC、定時(shí)器等模塊，所有的輸入輸出口都可以編程，可以增加更多型號(hào)的芯片的檢測(cè)能力。

3.提示方式多：除了LCD顯示，還有不同聲音的提示。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型一種便攜式常用芯片檢測(cè)儀的總體結(jié)構(gòu)示意圖。