[實用新型]一種自動測試裝置

有效

• 申請號: 201821737657.6
• 申請日: 2018-10-25
• 公開（公告）號: CN209167332U
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 郭洪江;張健;吳亞軍;夏曉東
• 申請（專利權）人: 深圳市長榮科機電設備有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 深圳市中科創為專利代理有限公司 44384
• 代理人: 譚雪婷;高早紅

1.一種自動測試裝置，其特征在于，包括：機臺、設于機臺一端的入料流道、設于所述入料流道上方的第一定位CCD模組、設于入料流道尾端的機械手、設于所述機械手一側的第二定位CCD模組、設于所述機械手另一側的分度盤模組、設于所述分度盤模組旁側的射頻測試模組、設于分度盤模組旁側的物料分類搬運模組、以及設于所述機臺另一端的出料流道。

2.根據權利要求1所述的自動測試裝置，其特征在于，還包括設于所述分度盤模組旁側的阻抗測試模組。

3.根據權利要求1所述的自動測試裝置，其特征在于，還包括設于所述分度盤模組旁側的第三定位CCD模組。

4.根據權利要求1所述的自動測試裝置，其特征在于，所述機械手上設有用于吸取產品的真空吸盤。

5.根據權利要求1所述的自動測試裝置，其特征在于，所述分度盤模組包括：分度盤、驅動所述分度盤旋轉的驅動裝置、以及設于所述分度盤上的若干治具，所述機械手將產品送入該治具內。

6.根據權利要求5所述的自動測試裝置，其特征在于，所述分度盤上設有6個治具。

7.根據權利要求1所述的自動測試裝置，其特征在于，所述物料分類搬運模組下方設有第一放置框、第二放置框以及第三放置框。

8.根據權利要求1所述的自動測試裝置，其特征在于，所述射頻測試模組上設有第一升降氣缸，所述第一升降氣缸上設有第一測試探針，所述第一升降氣缸向下運動，驅動第一測試探針與待測產品上的測試點接觸，以對產品進行射頻測試。

9.根據權利要求2所述的自動測試裝置，其特征在于，所述阻抗測試模組上設有第二升降氣缸，所述第二升降氣缸上設有第二測試探針，所述第二升降氣缸向下運動，驅動第二測試探針與待測產品上的測試點接觸以對產品進行阻抗測試。