[實用新型]功能測試系統有效
| 申請號: | 201821731239.6 | 申請日: | 2018-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN209803274U | 公開(公告)日: | 2019-12-17 |
| 發明(設計)人: | 周定環;許豪杰 | 申請(專利權)人: | 捷普電子(廣州)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 11283 北京潤平知識產權代理有限公司 | 代理人: | 王曉桐;林治辰 |
| 地址: | 510530 廣東省廣州*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 夾具裝置 承載盤 可調式輸送裝置 輸送口 測試設備 功能測試 接觸設備 推動裝置 止擋器 功能測試系統 方向間隔 間隔設置 性能測試 分段式 可更換 承載 移動 | ||
一種功能測試系統,包括功能測試機和用于承載產品的承載盤,所述功能測試機包括接觸設備及測試設備,所述接觸設備包括可更換的第一夾具裝置、可調式輸送裝置,及連接所述第一夾具裝置的推動裝置,所述第一夾具裝置與所述可調式輸送裝置相間隔設置并限定具有至少一個輸送口的通道,所述可調式輸送裝置包括兩沿個遠離所述輸送口方向間隔設置在所述通道中的止擋器,所述承載盤可由所述至少一個輸送口輸送至所述通道,并通過所述止擋器讓所述承載盤分段式地位于所述通道的不同處,所述推動裝置控制所述第一夾具裝置對所述承載盤移動,使所述第一夾具裝置與所述產品接觸,并通過所述測試設備進行性能測試。
技術領域
本實用新型涉及一種測試系統,特別是涉及一種能用于測試不同電子產品的功能測試系統
背景技術
現有電子產品制造完成后,一般會使用功能測試設備對電子產品的電路板進行功能的驗證測試,以提早發現組裝不良的電路板,避免后續拆掉組裝完成的產品來替換不良的電路板,造成工時浪費與材料的損失。然而,現有的功能測試設備只能測試特定產品,當要測試不同產品時,需使用不同的功能測試設備,且要測試多組產品時,須對應設置更多測試針板,造成設備的設置成本高昂。
實用新型內容
本實用新型的目的是在提供一種功能測試系統。
本實用新型的功能測試系統用于量測產品的性能,所述功能測試系統包含功能測試機和用于承載所述產品的承載盤,所述功能測試機包括接觸設備及測試設備,所述測試設備電連接所述接觸設備,所述接觸設備包括第一夾具裝置、可調式輸送裝置和連接所述第一夾具裝置的第一驅動單元,所述第一夾具裝置與所述可調式輸送裝置相間隔設置并共同限定通道,所述乘載盤在所述通道中沿輸送方向輸送,所述可調式輸送裝置包括兩個沿輸送方向間隔設置的止擋器,通過驅動所述止擋器伸入通道,止擋所述承載盤位于所述信道的不同位置,所述第一驅動單元控制所述第一夾具裝置鄰近所述承載盤,使所述第一夾具裝置與所述產品接觸,并通過所述測試設備進行性能測試。
優選地,所述接觸設備還包括與第一夾具裝置相間隔設置的第二夾具裝置,所述第一夾具裝置與所述第二夾具裝置分別具有與所述產品對應接觸的測試針板,當所述推動裝置控制所述第一夾具裝置對所述承載盤移動時,所述第一夾具裝置與所述第二夾具裝置的所述測試針板接觸所述待測試產品。
優選地,所述承載盤包括盤體和多個貫穿所述盤體的定位孔,所述第一夾具裝置具有多個朝向所述承載盤的定位件,所述定位件能夠分別與所述定位孔對應定位。
優選地,所述接觸設備還包括兩個相間隔設置的基座與支撐座,所述可調式輸送裝置設置在所述基座上,所述第一夾具裝置可更換地設置在支撐座上。
優選地,所述止擋器設置在所述基座上并位于所述側板之間,且每個止擋器包括頂升汽缸,及連接頂升汽缸的止擋件,通過頂升汽缸控制止擋件伸入通道,用于阻擋承載盤的行進。
優選地,所述可調式輸送裝置包括兩個相間隔設置于所述基座上的線性滑軌、兩個相間隔設置的側板、兩個分別設置于所述側板相對的內表面的輸送鏈、連接所述側板的調整桿和與所述調整桿其中一端連接的轉動件,其中一個所述側板設置于所述線性滑軌,當轉動所述轉動件時,可通過所述線性滑軌改變所述側板之間的距離。
優選地,所述接觸設備還包括設置于所述支撐座的第一卡合件以及設置于所述第一夾具裝置的第二卡合件,所述第一卡合件包括卡槽,所述第二卡合件包括凸柱,所述第一夾具裝置通過所述第二卡合件與所述第一卡合件卡合而可分離的接合于所述支撐座。
優選地,還包括循環傳送設備及緩沖設備,所述測試設備具有兩個相反的第一輸送口,所述接觸設備具有兩個相反的第二輸送口,且所述接觸設備設置于所述測試設備上方,所述接觸設備位于所述循環傳輸設備與所述緩沖設備之間,并對應所述測試設備及所述接觸設備的所述第一輸送口、所述第二輸送口設置,承載所述產品的所述承載盤可依序由所述循環傳送設備經所述測試設備及所述緩沖設備,而傳送至所述接觸設備中。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于捷普電子(廣州)有限公司,未經捷普電子(廣州)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821731239.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種飽和壓降測試電路
- 下一篇:一種印制電路板的檢測裝置





