[實(shí)用新型]一種晶圓檢測(cè)用輔助裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821719682.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN209000870U | 公開(公告)日: | 2019-06-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王昌華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鹽城盈信通科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/66 | 分類號(hào): | H01L21/66;H01L21/67 |
| 代理公司: | 常州市權(quán)航專利代理有限公司 32280 | 代理人: | 袁興隆 |
| 地址: | 224000 江蘇省鹽城市鹽城經(jīng)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 兩組 升降箱 檢測(cè) 通孔 底座頂部 輔助裝置 固定支架 固定座 升降腔 蝸桿 蝸輪 種晶 本實(shí)用新型 螺紋升降桿 電子芯片 附屬裝置 滑動(dòng)套筒 緩沖彈簧 檢測(cè)探針 連通設(shè)置 內(nèi)部設(shè)置 生產(chǎn)效率 升降滑塊 探頭本體 旋轉(zhuǎn)把手 固定桿 探頭 低端 底座 晶圓 探針 穿過 損害 生產(chǎn) | ||
1.一種晶圓檢測(cè)用輔助裝置,包括檢測(cè)探頭(1)本體,檢測(cè)探頭(1)底部設(shè)置有多組檢測(cè)探針,其特征在于,包括底座(2)、固定座(3)、兩組固定支架(4)、升降箱(5)、旋轉(zhuǎn)把手(6)、蝸桿(7)、蝸輪(8)、螺紋升降桿(9)、滑動(dòng)套筒(10)、兩組升降滑塊(11)、兩組緩沖彈簧(12)和兩組固定桿(13),固定座(3)安裝在底座(2)頂部中心,兩組固定支架(4)的低端分別固定在底座(2)頂部的左側(cè)和右側(cè),升降箱(5)內(nèi)部設(shè)置有升降腔,升降箱(5)左側(cè)和右側(cè)分別連通設(shè)置有兩組第一通孔,升降箱(5)頂部和底部分別設(shè)有兩組第二通孔,蝸輪(8)固定在升降腔內(nèi),蝸桿(7)的兩端分別穿過兩組第一通孔,蝸桿(7)中部的螺紋與蝸輪(8)外部的螺紋嚙合,螺紋升降桿(9)的兩端分別穿過兩組第二通孔,螺紋升降桿(9)的底端穿過蝸輪(8)中心并與蝸輪(8)內(nèi)部的螺紋嚙合,位于底座(2)左側(cè)的固定支架(4)的上部設(shè)置有旋轉(zhuǎn)通孔,位于底座(2)右側(cè)的固定支架(4)的上部左側(cè)設(shè)置有旋轉(zhuǎn)槽,蝸桿(7)的左端穿過旋轉(zhuǎn)通孔轉(zhuǎn)動(dòng)固定在旋轉(zhuǎn)通孔內(nèi),蝸桿(7)的右端轉(zhuǎn)動(dòng)固定在旋轉(zhuǎn)槽內(nèi),把手右側(cè)中部與蝸桿(7)的左端連接,滑動(dòng)套筒(10)中設(shè)置有滑動(dòng)通孔,兩組升降滑塊(11)均滑動(dòng)固定在滑動(dòng)通孔內(nèi),螺紋升降桿(9)的底端與位于滑動(dòng)套筒(10)上部的升降滑塊(11)的頂部相接觸,檢測(cè)探頭(1)的頂部與位于滑動(dòng)套筒(10)下部的升降滑塊(11)的底端連接,兩組固定桿(13)中的一組固定桿(13)的右端與滑動(dòng)套筒(10)左側(cè)連接,所述固定桿(13)的左端與位于底座(2)左側(cè)的固定支架(4)連接,兩組固定桿(13)中的另一組固定桿(13)的左端與滑動(dòng)套筒(10)右側(cè)連接,所述固定桿(13)的右端與位于底座(2)右側(cè)的固定支架(4)連接;兩組緩沖彈簧(12)的頂部均與位于滑動(dòng)套筒(10)上部的升降滑塊(11)的底部連接,兩組緩沖彈簧(12)的底部均與位于滑動(dòng)套筒(10)下部的升降滑塊(11)的頂端連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種晶圓檢測(cè)用輔助裝置,其特征在于,還包括兩組緊固桿(14)和兩組緊固膠條(15),兩組緊固桿(14)的底部均與底座(2)頂部連接,兩組緊固桿(14)分別位于固定座(3)的左側(cè)和右側(cè),兩組緊固膠條(15)分別安裝在兩組緊固桿(14)上。
3.如權(quán)利要求2所述的一種晶圓檢測(cè)用輔助裝置,其特征在于,還包括兩組移動(dòng)滑軌(16)和四組移動(dòng)滑塊(17),兩組移動(dòng)滑軌(16)分別固定在底座(2)頂部的前側(cè)和后側(cè),兩組移動(dòng)滑軌(16)分別位于固定座(3)的前方和后方,四組移動(dòng)滑塊(17)中的兩組移動(dòng)滑塊(17)均滑動(dòng)固定在位于底座(2)前側(cè)的移動(dòng)滑軌(16)上,四組移動(dòng)滑塊(17)中的另兩組移動(dòng)滑塊(17)均滑動(dòng)固定在位于底座(2)后側(cè)的移動(dòng)滑軌(16)上,兩組緊固桿(14)的兩端分別固定在四組移動(dòng)滑塊(17)上。
4.如權(quán)利要求3所述的一種晶圓檢測(cè)用輔助裝置,其特征在于,還包括螺紋調(diào)節(jié)桿(18),在底座(2)中部設(shè)置有調(diào)節(jié)螺紋孔,在固定座(3)底部設(shè)置有調(diào)節(jié)槽,調(diào)節(jié)槽底部與調(diào)節(jié)螺紋孔頂部連通,螺紋調(diào)節(jié)桿(18)頂部螺裝在調(diào)節(jié)螺紋孔的底部,螺紋調(diào)節(jié)桿(18)頂部穿過調(diào)節(jié)螺紋孔放置在調(diào)節(jié)槽內(nèi)。
5.如權(quán)利要求4所述的一種晶圓檢測(cè)用輔助裝置,其特征在于,還包括兩組緊固架(19),兩組緊固架(19)中的一組緊固架(19)的右端與升降箱(5)左側(cè)底部連接,所述緊固架(19)的左端與位于底座(2)左側(cè)的固定支架(4)的上部連接,兩組緊固架(19)中的另一組緊固架(19)的左端與升降箱(5)右側(cè)底部連接,所述緊固架(19)的右端與位于底座(2)左側(cè)的固定支架(4)的上部連接。
6.如權(quán)利要求5所述的一種晶圓檢測(cè)用輔助裝置,其特征在于,還包括四組腳桿(20)和四組自鎖滾輪(21),四組腳桿(20)的頂部分別固定在底座(2)底部的左前側(cè)、右前側(cè)、左后側(cè)和右后側(cè),四組自鎖滾輪(21)分別安裝在四組腳桿(20)的底端。
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- 同類專利
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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