[實用新型]數據通道老化電路及存儲器

有效

• 申請號: 201821678022.3
• 申請日: 2018-10-16
• 公開（公告）號: CN208834751U
• 公開（公告）日: 2019-05-07
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G11C29/50
• 分類號: G11C29/50;G11C29/56
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 袁禮君;闞梓瑄

本公開提供一種數據通道老化電路及存儲器。本公開實施例中的數據通道老化電路包括存儲單元，所述存儲單元中存儲有用于為所述集成電路中的各個數據通道提供目標電壓狀態的電壓切換信號；控制單元，用于產生電壓控制信號，并將所述電壓控制信號發送至所述各個數據通道；選通單元，基于所述電壓切換信號切換所述各個數據通道的導通狀態，利用所述電壓控制信號調整所述各個數據通道的電壓位準以產生電壓應力老化。本公開實施例提供的數據通道老化電路可以提高老化測試結果的可靠性，改善經過老化測試后的集成電路產品的工作穩定性。

技術領域

本公開涉及電學技術領域，具體涉及一種數據通道老化電路及存儲器。

背景技術

作為集成電路生產過程中的一個重要環節，老化測試是通過一段時間連續性或者周期性的超負荷工作使得集成電路的缺陷能夠在測試階段便盡早地暴露出來，從而降低集成電路產品在使用初期發生故障的幾率，提高集成電路產品的穩定性和可靠性。

對集成電路進行老化測試通常會用到集成電路老化機臺，集成電路老化機臺可以在一定的外部測試條件下(例如高溫、偏壓等等)通過測試通道向待測試的集成電路傳輸數據以加快集成電路在工作狀態下的老化速度。由于測試通道有限，能夠同時進行老化測試的集成電路的數量也將受到限制。因此，為了增加集成電路的同測數量，可以僅選用集成電路中的一部分數據通道在數據壓縮模式下進行數據傳輸，從而可以提高集成電路的老化測試效率。

但是，在數據壓縮模式下進行的老化測試僅能對集成電路的部分數據通道達到測試目的，而對于未經老化測試的數據通道是否存在缺陷則無法被檢測到，即便是通過老化測試的集成電路也仍然存在一定的隱患。因此，如何能夠在不影響測試效率的前提下提高老化測試的可靠性是目前亟待解決的問題。

需要說明的是，在上述背景技術部分公開的信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

本公開的目的在于提供一種數據通道老化電路及存儲器，進而至少在一定程度上克服由于相關技術的限制而導致的老化測試結果可靠性差的技術問題。

根據本公開的一個方面，提供一種數據通道老化電路，用于對集成電路進行老化測試，其特殊之處在于，所述數據通道老化電路包括：

存儲單元，所述存儲單元中存儲有用于為所述集成電路中的各個數據通道提供目標電壓狀態的電壓切換信號；

控制單元，用于產生電壓控制信號，并將所述電壓控制信號發送至所述各個數據通道；

選通單元，基于所述電壓切換信號切換所述各個數據通道的導通狀態，利用所述電壓控制信號調整所述各個數據通道的電壓位準以產生電壓應力老化。

在本公開的一種示例性實施方式中，所述控制單元包括：

信號輸入端，用于接收一老化控制信號；

電壓變換器，對所述老化控制信號進行電壓變換后產生所述電壓控制信號；

信號輸出端，用于向所述各個數據通道發送所述電壓控制信號。

在本公開的一種示例性實施方式中，所述電壓變換器包括：

第一電容，所述第一電容的一端與所述信號輸入端相連，另一端與一中間節點相連；

第一半導體開關，所述第一半導體開關的第一極與所述中間節點相連，第二極和柵極與第一電壓端相連；

第二半導體開關，所述第二半導體開關的第一極與所述信號輸出端相連，第二極和柵極與所述中間節點相連；

第二電容，所述第二電容的一端與第二電壓端相連，另一端與所述信號輸出端相連。

在本公開的一種示例性實施方式中，所述電壓變換器還包括：