[實用新型]一種光器件測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821675603.1
• 申請日: 2018-10-16
• 公開（公告）號: CN208902776U
• 公開（公告）日: 2019-05-24
• 發(fā)明（設計）人: 賴人銘
• 申請（專利權）人: 成都英思嘉半導體技術有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/44
• 代理公司: 四川力久律師事務所 51221
• 代理人: 韓洋

1.一種光器件測試裝置，其特征在于，包括：

測試插座(1)，用于可拆卸連接被測試的光器件(3)，所述測試插座(1)包括絕緣殼體(11)，所述絕緣殼體(11)上設有散熱塊(13)和若干個插針(12)，每個所述插針(12)用于可拆卸連接所述光器件(3)上對應的針腳(31)；

測試電路板(2)，其上設有若干個測試觸點(24)，所述測試插座(1)連接于所述測試電路板(2)的正面(21)，所述測試電路板(2)的背面(22)設有散熱板(23)，所述散熱塊(13)和所有所述插針(12)貫穿所述測試電路板(2)，所述散熱塊(13)連接所述散熱板(23)，所有所述插針(12)連接對應的所述測試觸點(24)。

2.根據權利要求1所述的光器件測試裝置，其特征在于，所述散熱塊(13)貫穿所述絕緣殼體(11)。

3.根據權利要求1所述的光器件測試裝置，其特征在于，所述散熱塊(13)與所有所述插針(12)平行設置。

4.根據權利要求3所述的光器件測試裝置，其特征在于，所有所述插針(12)環(huán)繞所述散熱塊(13)設置。

5.根據權利要求1所述的光器件測試裝置，其特征在于，所有所述插針(12)在所述背面(22)走線焊接于對應的所述測試觸點(24)。

6.根據權利要求1所述的光器件測試裝置，其特征在于，所述散熱塊(13)和所述散熱板(23)均為銅結構件，所述散熱塊(13)焊接于所述散熱板(23)上。

7.根據權利要求1所述的光器件測試裝置，其特征在于，所述絕緣殼體(11)為塑料殼體。

8.根據權利要求1所述的光器件測試裝置，其特征在于，所述絕緣殼體(11)和所述散熱塊(13)均呈圓柱體，所述絕緣殼體(11)的高度小于所述散熱塊(13)的高度，所述絕緣殼體(11)的直徑大于所述散熱塊(13)的直徑。

9.根據權利要求1-8任一項所述的光器件測試裝置，其特征在于，每個所述插針(12)為變徑圓柱體，其連接所述針腳(31)的一端大于另一端。

10.根據權利要求9所述的光器件測試裝置，其特征在于，所述插針(12)連接所述針腳(31)的一端內設有凹槽，所述針腳(31)能夠插入所述凹槽中。