[實(shí)用新型]一種提升運(yùn)放測試時的輔助運(yùn)放環(huán)路穩(wěn)定性電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201821669756.5
• 申請日: 2018-10-16
• 公開（公告）號: CN209044019U
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 姜祎春;袁琰
• 申請（專利權(quán)）人: 北京華峰測控技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京國林貿(mào)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11001
• 代理人: 李桂玲;杜國慶

本實(shí)用新型公開了一種提升運(yùn)放測試時的輔助運(yùn)放環(huán)路穩(wěn)定性電路，包括被測運(yùn)算放大器，被測運(yùn)算放大器的輸出與測試輸出端之間設(shè)置有一個輔助測試運(yùn)算放大器，輔助測試運(yùn)算放大器的輸出連接測試輸出端，在輔助測試運(yùn)算放大器負(fù)輸入端與輔助測試運(yùn)算放大器輸出端之間跨接有積分電容；在積分電容兩端跨接有一個電阻，所述電阻與輔助測試運(yùn)算放大器負(fù)輸入端之間設(shè)置有第一開關(guān)，所述積分電容與輔助測試運(yùn)算放大器負(fù)輸入端之間設(shè)置有第二開關(guān)，在測試中，所述第一開關(guān)和第二開關(guān)交替打開與閉合。通過本實(shí)用新型不會出現(xiàn)開環(huán)不確定狀態(tài)。會獲得更穩(wěn)定測試結(jié)果，而更短的測試時間在量產(chǎn)測試時，將會帶來更大的效益。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于分立器件電路測試領(lǐng)域，具體涉及一種提升運(yùn)放測試時的輔助運(yùn)放環(huán)路穩(wěn)定性電路。

背景技術(shù)

在進(jìn)行運(yùn)放的主要電氣參數(shù)測試時需要借助輔助運(yùn)放環(huán)路來完成，運(yùn)放的其他電氣參數(shù)，如偏置電流、共模抑制比和開環(huán)增益等的測試電路，均是以上述電路為基礎(chǔ)，通過繼電器的切換，改變環(huán)路的搭接方式變換而來。助輔助運(yùn)放環(huán)路中的運(yùn)放電路稱為輔助運(yùn)放，在測試時需要通過電容構(gòu)成積分器與被測運(yùn)放組成閉環(huán)系統(tǒng)，環(huán)路建立并達(dá)到穩(wěn)定后，在相應(yīng)的測試點(diǎn)通過源表測得電壓，進(jìn)而計(jì)算出被測運(yùn)放的相應(yīng)電氣參數(shù)，當(dāng)輔助運(yùn)放只有積分電容切換環(huán)節(jié)時，完成被測運(yùn)放的測試后，輔助運(yùn)放會進(jìn)入開環(huán)的狀態(tài)，輔助運(yùn)放的輸出電壓將會是一個不確定狀態(tài)。而當(dāng)再次進(jìn)行參數(shù)測試時，輔助運(yùn)放由開環(huán)的不確定狀態(tài)再次變?yōu)殚]環(huán)狀態(tài)，此時環(huán)路的穩(wěn)定時間就會有所增加。由于測試需要等到環(huán)路穩(wěn)定后才能進(jìn)行，穩(wěn)定時間的增加就會導(dǎo)致測試時間的增加。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是提出一種提升運(yùn)放測試時的輔助運(yùn)放環(huán)路穩(wěn)定性電路，在輔助運(yùn)放的積分電容兩端并聯(lián)一個電阻，通過開關(guān)與積分電容交替接入輔助運(yùn)放，可以有效地提升運(yùn)放測試時的輔助運(yùn)放環(huán)路穩(wěn)定性。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是：一種提升運(yùn)放測試時的輔助運(yùn)放環(huán)路穩(wěn)定性電路，是運(yùn)算放大器失調(diào)電壓測試時的運(yùn)放環(huán)路穩(wěn)定性電路，包括被測運(yùn)算放大器，被測運(yùn)算放大器的輸出與測試輸出端之間設(shè)置有一個輔助測試運(yùn)算放大器，輔助測試運(yùn)算放大器的輸出連接測試輸出端，在輔助測試運(yùn)算放大器負(fù)輸入端與輔助測試運(yùn)算放大器輸出端之間跨接有積分電容；其中，在輔助測試運(yùn)算放大器負(fù)輸入端與輔助測試運(yùn)算放大器輸出端之間同時跨接有一個電阻，所述電阻與輔助測試運(yùn)算放大器負(fù)輸入端之間，或者所述電阻與輔助測試運(yùn)算放大器輸出端之間設(shè)置有第一開關(guān)，所述積分電容與輔助測試運(yùn)算放大器負(fù)輸入端之間，或者所述積分電容與輔助測試運(yùn)算放大器輸出端之間設(shè)置有第二開關(guān)，在測試中，所述第一開關(guān)和第二開關(guān)交替打開與閉合。

方案進(jìn)一步是：所述積分電容有多個，多個積分電容相互并聯(lián)連接，多個積分電容與輔助測試運(yùn)算放大器負(fù)輸入端之間，或者多個積分電容與輔助測試運(yùn)算放大器輸出端之間分別設(shè)置有第二開關(guān)，所述多個積分電容的參數(shù)值各不相同。

方案進(jìn)一步是：所述第一開關(guān)和第二開關(guān)是通過按鈕控制的電磁式開關(guān)。

方案進(jìn)一步是：所述第一開關(guān)和第二開關(guān)是電子開關(guān)，一個程控電路連接控制所述電子開關(guān)。

通過本實(shí)用新型通在測試完成后，將連接輔助運(yùn)放積分電容的開關(guān)斷開，并迅速接通連接電阻的開關(guān)，輔助運(yùn)放便進(jìn)入了自身閉環(huán)的狀態(tài)，而不會出現(xiàn)開環(huán)不確定狀態(tài)。此時再次進(jìn)行參數(shù)測試時，輔助運(yùn)放由一種閉環(huán)狀態(tài)變?yōu)榱硪环N閉環(huán)狀態(tài)，環(huán)路是一種短暫的穩(wěn)定狀態(tài)，會獲得更穩(wěn)定測試結(jié)果，而更短的測試時間在量產(chǎn)測試時，將會帶來更大的效益。

下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型作一詳細(xì)描述。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型運(yùn)算放大器失調(diào)電壓測試電路示意圖；

圖2為本實(shí)用新型程控開關(guān)控制電路示意圖；

圖3為本實(shí)用新型不同參考電壓接入的程控開關(guān)控制電路示意圖；

圖4為未使用本實(shí)用新型的測試結(jié)果波形；