[實用新型]一種MT插芯藕合測試輔助套件

有效

• 申請號: 201821655346.5
• 申請日: 2018-10-12
• 公開（公告）號: CN209069557U
• 公開（公告）日: 2019-07-05
• 發明（設計）人: 梁小聰;盧慧;陳斌
• 申請（專利權）人: 匯聚科技（惠州）有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳衛;譚映華

一種MT插芯藕合測試輔助套件，包括MT公頭插芯、公框套、母框套和MT母頭插芯，所述的MT公頭插芯、公框套、母框套和MT母頭插芯依次可拆卸連接，在MT公頭插芯的一端設有MT公頭插芯導針，所述的公框套一端套設在帶MT公頭插芯導針一端的MT公頭插芯上，所述的公框套另一端與母框套的一端連接，所述母框套的另一端套設有在MT母頭插芯上，所述公框套和母框套連接處設有隔離墊片，解決了目前技術MT插芯測試成本高的問題，現有技術此款測試輔助裝置擁有結構簡易，組合拆卸方便，通用適配性強的特性，有效的降低了MT插芯的光纖產品的測花不良率，降低了返磨率，提升了測試直通率，綜合降低了測試成本。

技術領域

本實用新型涉及MT插芯測試技術領域，特別涉及一種MT插芯藕合測試輔助套件。

背景技術

隨5G時代來臨,國內外各大BAT公司數據中心的建設熱潮持續不減,具有高密度,高速率的MT類型產品市場需求日益擴大，業內MT類年產量也呈現100%以上的增長，但隨著產能的不斷擴充,MT插芯測試成本問題成為一個亟待改善的問題，并且測試機構復雜、容易測花產品，返磨率高。

實用新型內容

為了解決上述技術問題，本實用提供的具體方案如下：一種MT插芯耦合測試輔助套件，包括MT公頭插芯、公框套、母框套和MT母頭插芯，MT公頭插芯、公框套、母框套和MT母頭插芯依次可拆卸連接，在MT公頭插芯的一端設有MT公頭插芯導針，公框套一端套設在帶MT公頭插芯導針一端的MT公頭插芯上，公框套另一端與母框套的一端連接，母框套的另一端套設有在MT母頭插芯上，公框套和母框套連接處設有隔離墊片。

優選的，公框套上設有凸扣，母套框上設有與公框套上凸扣相匹配的凹扣位，母套框扣合在公套框上。

優選的，隔離墊片包括用于公框套上凸扣穿過的扣合凹槽位、用于MT公頭插芯導針穿過的弧形半凹區和中空區，扣合凹槽位設在隔離墊片兩側的長邊，中空區設在隔離墊片中間，弧形半凹區設在隔離墊片兩側的短邊。

優選的，隔離墊片扣合凹槽位大小與公框套上的凸扣大小相匹配。

優選的，隔離墊片由表面光滑的基材制成，厚度為0.02mm。

優選的，隔離墊片由玻璃或金屬或高分子聚合物制成。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果在于：解決了目前技術MT插芯測試成本高的問題，現有技術此款測試輔助裝置擁有結構簡易，組合拆卸方便，通用適配性強的特性，有效的降低了MT插芯的光纖產品的測花不良率，降低了返磨率，提升了測試直通率，綜合降低了測試成本。

附圖說明

圖1為本實用新型的整體結構圖；

圖2為本實用新型的局部結構示意圖；

圖3為本實用新型的局部結構示意圖。

具體實施方式

為了詳細說明本實用新型的技術方案，下面將結合本實用新型實施例的附圖，對本實用新型實施例的技術方案進行清楚、完整的描述。顯然，所描述的實施例是本實用新型的一部分實施例，而不是全部的實施例。基于所描述的本實用新型的實施例，本領域普通技術人員在無需創造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

如圖1至圖3，一種MT插芯耦合測試輔助套件，包括MT公頭插芯1、公框套2、母框套3和MT母頭插芯4，MT公頭插芯1、公框套2、母框套3和MT母頭插芯4依次可拆卸連接，在MT公頭插芯1的一端設有MT公頭插芯導針5，公框套2一端套設在帶MT公頭插芯導針5一端的MT公頭插芯1上，公框套2另一端與母框套3的一端連接，所述母框套3的另一端套設有在MT母頭插芯4上，公框套2和母框套3連接處設有隔離墊片6。