[實用新型]一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統

有效

• 申請號: 201821655140.2
• 申請日: 2018-10-12
• 公開（公告）號: CN209167475U
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 李有財;劉震;湯平;鄧秉杰;謝威斌;陳言祥
• 申請（專利權）人: 福建星云電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 福州市鼓樓區京華專利事務所(普通合伙) 35212
• 代理人: 宋連梅

1.一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：包括一上位機、一MCU控制模塊、一ADC模塊、一DAC模塊、一電流采樣模塊、一電壓采樣模塊、一恒壓源控制模塊以及一恒流源控制模塊；所述電流采樣模塊和電壓采樣模塊均與所述ADC模塊相連接；所述恒壓源控制模塊和恒流源控制模塊均與所述DAC模塊相連接；所述ADC模塊和DAC模塊均與所述MCU控制模塊相連接；所述MCU控制模塊與所述上位機相連接；所述電流采樣模塊設有復數個電流采樣通道，所述電壓采樣模塊設有復數個電壓采樣通道；所述恒壓源控制模塊設有復數個電壓設定通道，所述恒流源控制模塊設有復數個電流限定通道。

2.根據權利要求1所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：還包括一反接告警模塊，所述反接告警模塊與所述MCU控制模塊相連接；所述反接告警模塊設有復數個告警通道。

3.根據權利要求2所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：所述電流采樣模塊設有四個電流采樣通道，所述電壓采樣模塊設有四個電壓采樣通道；所述恒壓源控制模塊設有四個電壓設定通道，所述恒流源控制模塊設有四個電流限定通道；所述反接告警模塊設有四個告警通道。

4.根據權利要求3所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：所述電流采樣模塊包括四個電流運算放大電路；每所述電流運算放大電路的采樣端均與一待檢測MOS管的漏極相連接，每所述電流運算放大電路的輸出端均與所述ADC模塊相連接，且通過各所述電流運算放大電路將采樣的待檢測MOS管的漏極的微小電流量轉換為對應的電壓量并傳送給所述ADC模塊。

5.根據權利要求3所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：所述電壓采樣模塊包括四個電壓運算放大電路，每所述電壓運算放大電路的采樣端均與一待檢測MOS管的漏極和源極相連接，每所述電壓運算放大電路的輸出端均與所述ADC模塊相連接，且通過所述電壓運算放大電路將采樣的待檢測MOS管的漏極與源極之間微小的電壓變化量轉換為高電壓量并傳送給所述ADC模塊。

6.根據權利要求1所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：所述恒壓源控制模塊包括一恒壓源運算放大電路，所述恒壓源運算放大電路的輸入端與所述DAC模塊相連接，所述恒壓源運算放大電路的輸出端分別與各個待檢測MOS管的柵極相連接，且通過所述恒壓源運算放大電路將所述DAC模塊提供的小電壓量轉換為高電壓量后輸出給各個待檢測MOS管的柵極。

7.根據權利要求1所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：所述恒流源控制模塊包括一比例積分調節電路，所述比例積分調節電路的輸入端與所述DAC模塊相連接，所述比例積分調節電路的輸入端分別與各個待檢測MOS管的柵極相連接，且由所述比例積分調節電路根據DAC模塊提供的電壓量轉換為對應的電流量后輸出給各個待檢測MOS管的柵極。

8.根據權利要求3所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：所述反接告警模塊包括四個發光二極管以及四個NPN型三極管；每所述發光二極管的正極均與一待檢測MOS管的漏極相連接，負極均與一所述NPN型三極管的漏極相連接；各所述NPN型三極管的柵極均與所述MCU控制模塊相連接，各所述NPN型三極管的源極均接地。

9.根據權利要求1所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：所述MCU控制模塊采用TM4C1294NCPDT芯片。

10.根據權利要求1所述的一種同時對多個MOS管進行配對的檢測系統，其特征在于：所述ADC模塊采用ADUCM360芯片，所述DAC模塊采用AD5689芯片。