[實用新型]相移掩膜版及相移掩模光刻設備有效
| 申請號: | 201821631386.6 | 申請日: | 2018-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN208737211U | 公開(公告)日: | 2019-04-12 |
| 發明(設計)人: | 不公告發明人 | 申請(專利權)人: | 長鑫存儲技術有限公司 |
| 主分類號: | G03F1/26 | 分類號: | G03F1/26 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明偉 |
| 地址: | 230601 安徽省合肥市合肥*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 預定方向 出射光束 相移掩膜 第二相 第三相 光刻板 透光區 基板 光刻設備 間隔交替 晶圓表面 相移掩模 暗區 本實用新型 圖像分辨率 光刻圖形 交替排列 透明 不透光 上表面 圖形區 下表面 相位差 相移區 延伸 遮蔽 圖案 | ||
1.一種用于制備柱狀結構的相移掩膜版,其特征在于,包括:
透明光刻板基板;
所述透明光刻板基板的上表面包括多個沿預定方向延伸的第一透光區和第二透光區,所述第一透光區和第二透光區交替排列;各所述第一透光區包括沿所述預定方向依次間隔交替排列的第一相移區和第二相移區,各所述第二透光區包括沿所述預定方向依次間隔交替排列的第四相移區和第三相移區;
所述透明光刻板基板的下表面包括多個沿所述預定方向延伸的不透光圖形區,各所述不透光圖形區同時部分遮蔽各所述第一透光區中的所述第一相移區和所述第二相移區,并同時部分遮蔽各所述第二透光區中的所述第四相移區和所述第三相移區;
其中,透過所述第一相移區的出射光束與透過所述第二相移區的出射光束之間具有90度的相位差,透過所述第一相移區的出射光束與透過所述第三相移區的出射光束之間具有180度的相位差,透過所述第一相移區的出射光束與透過所述第四相移區的出射光束之間具有270度的相位差。
2.如權利要求1所述的相移掩膜版,其特征在于,所述第一相移區具有第一厚度,所述第二相移區具有第二厚度,所述第三相移區具有第三厚度,所述第四相移區具有第四厚度,所述第一厚度大于所述第二厚度,所述第二厚度大于所述第三厚度,所述第三厚度大于所述第四厚度,所述第一厚度等于所述透明光刻板基板的厚度。
3.如權利要求2所述的相移掩膜版,其特征在于,所述第一厚度與所述第二厚度存在厚度差H1,所述第一厚度與所述第三厚度存在厚度差H2,所述第一厚度與所述第四厚度存在厚度差H3,所述H1:H2:H3=1/2:1:3/2。
4.如權利要求1所述的相移掩膜版,其特征在于,所述不透光圖形區由遮光膜構成。
5.如權利要求4所述的相移掩膜版,其特征在于,所述遮光膜包括鉻膜。
6.一種用于制備柱狀結構的相移掩模光刻設備,其特征在于,包括:
如權利要求1-5任一項所述的相移掩膜版;
曝光裝置,所述曝光裝置用于利用所述相移掩膜版對晶圓表面的光刻膠進行曝光。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于長鑫存儲技術有限公司,未經長鑫存儲技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201821631386.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學臨近校正(OPC)設計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





