[實(shí)用新型]一種檢驗(yàn)產(chǎn)品引腳接合質(zhì)量的檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201821629810.3 | 申請(qǐng)日: | 2018-10-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN209327227U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭朝暉;黃武超;劉武林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 太康精密(中山)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 李旭亮 |
| 地址: | 528400 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 圖像數(shù)據(jù) 引腳 待測(cè)產(chǎn)品 處理單元 接合 本實(shí)用新型 攝像頭 檢測(cè)裝置 陰影 支架 底座 檢驗(yàn) 攝像頭采集 電性連接 分析處理 基準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) 人工成本 人工檢測(cè) 細(xì)小結(jié)構(gòu) 熱熔膠 引腳處 準(zhǔn)確率 工位 置物 斷裂 采集 分析 發(fā)現(xiàn) | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種檢驗(yàn)產(chǎn)品引腳接合質(zhì)量的檢測(cè)裝置,包括:底座以及支架;置物工位,設(shè)置在底座上并且能夠放置待測(cè)產(chǎn)品;攝像頭,設(shè)置在支架上并且能夠采集待測(cè)產(chǎn)品引腳的圖像數(shù)據(jù);處理單元,與攝像頭電性連接以獲取待測(cè)產(chǎn)品引腳的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理。攝像頭采集待測(cè)產(chǎn)品的圖像數(shù)據(jù)并輸送至處理單元,處理單元根據(jù)圖像數(shù)據(jù)中引腳處陰影是否存在斷裂、缺失,或者熱熔膠處陰影面積是否過(guò)大、是否存在氣泡陰影的問(wèn)題進(jìn)行分析,便可判斷產(chǎn)品引腳的接合質(zhì)量是否合格。通過(guò)本實(shí)用新型代替人工檢測(cè)不僅可省去人工成本,而且由于采用圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷,檢驗(yàn)基準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、細(xì)小結(jié)構(gòu)存在的問(wèn)題也能夠發(fā)現(xiàn)并且判斷準(zhǔn)確率大大提升。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及檢測(cè)裝置領(lǐng)域,尤其設(shè)計(jì)一種檢驗(yàn)產(chǎn)品引腳接合質(zhì)量的檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
接口、芯片等帶有引腳的產(chǎn)品,產(chǎn)品引腳的接合質(zhì)量會(huì)直接影響整個(gè)產(chǎn)品的性能,一個(gè)引腳接合出現(xiàn)問(wèn)題會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品無(wú)法正常工作。為了提高產(chǎn)品穩(wěn)定性,引腳可通過(guò)焊接后滴熱熔膠對(duì)焊接處進(jìn)行保護(hù)。在生產(chǎn)過(guò)程中,因跌落、可能會(huì)出現(xiàn)引腳斷裂、引腳缺失的情況,熱熔膠也可能會(huì)出現(xiàn)滴下量過(guò)多或者產(chǎn)生氣泡的現(xiàn)象,進(jìn)而影響產(chǎn)品質(zhì)量。
一般產(chǎn)品生產(chǎn)線會(huì)對(duì)產(chǎn)品引腳的接合質(zhì)量設(shè)置人工檢測(cè)的程序,然而人工檢測(cè)不僅存在因主觀因素造成檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)不統(tǒng)一、長(zhǎng)時(shí)間觀察造成疲憊,導(dǎo)致準(zhǔn)確率下降的問(wèn)題,而且產(chǎn)品引腳的結(jié)構(gòu)比較細(xì)小,可能存在肉眼難以發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題。
實(shí)用新型內(nèi)容
為了解決上述問(wèn)題,本實(shí)用新型提供一種檢驗(yàn)產(chǎn)品引腳接合質(zhì)量的檢測(cè)裝置,其可以代替人工檢測(cè),并且準(zhǔn)確檢驗(yàn)產(chǎn)品引腳的接合質(zhì)量。
本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:一種檢驗(yàn)產(chǎn)品引腳接合質(zhì)量的檢測(cè)裝置,包括:
底座以及支架;
置物工位,設(shè)置在底座上并且能夠放置待測(cè)產(chǎn)品;
攝像頭,設(shè)置在支架上并且能夠采集待測(cè)產(chǎn)品引腳的圖像數(shù)據(jù);
處理單元,與攝像頭電性連接以獲取待測(cè)產(chǎn)品引腳的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理。
進(jìn)一步地,所述置物工位包括底板以及設(shè)置在底板上的限制塊,限制塊位于待測(cè)產(chǎn)品的兩側(cè)或四周以限制待測(cè)產(chǎn)品移動(dòng)。
進(jìn)一步地,還包括設(shè)置于底座上的發(fā)光元件,發(fā)光元件位于底板下方并且朝向底板,所述底板設(shè)置有開(kāi)孔或?yàn)橥该鞑馁|(zhì)以使發(fā)光元件能夠照亮產(chǎn)品。
進(jìn)一步地,還包括與支架連接的遮光罩,所述遮光罩全包圍或半包圍攝像頭。
進(jìn)一步地,還包括設(shè)置于底座或支架上的非接觸式探測(cè)器,所述非接觸式探測(cè)器用于檢測(cè)置物工位是否有待測(cè)產(chǎn)品放置,并且非接觸式探測(cè)器與處理單元電性連接以將檢測(cè)結(jié)果傳輸至處理單元。
進(jìn)一步地,所述非接觸式探測(cè)器位于置物工位的一側(cè)。
本實(shí)用新型的有益效果是:攝像頭采集待測(cè)產(chǎn)品引腳的圖像數(shù)據(jù)并輸送至處理單元,處理單元根據(jù)圖像數(shù)據(jù)中引腳處陰影是否存在斷裂、缺失,或者熱熔膠處陰影面積是否過(guò)大、是否存在氣泡陰影的問(wèn)題進(jìn)行分析,便可判斷產(chǎn)品引腳的接合質(zhì)量是否合格。通過(guò)本實(shí)用新型代替人工檢測(cè)不僅可省去人工成本,而且由于采用圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷,檢驗(yàn)基準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、細(xì)小結(jié)構(gòu)存在的問(wèn)題也能夠發(fā)現(xiàn)并且判斷準(zhǔn)確率大大提升。
附圖說(shuō)明
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明:
圖1是本實(shí)用新型的剖面圖;
圖2是本實(shí)用新型的底座立體圖。
具體實(shí)施方式
參照?qǐng)D1至圖2,一種檢驗(yàn)產(chǎn)品引腳接合質(zhì)量的檢測(cè)裝置,包括:
底座11以及支架20;
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G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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