[實用新型]一種磁力吸附式定位及回轉機構、檢測設備

有效

• 申請號: 201821627780.2
• 申請日: 2018-10-08
• 公開（公告）號: CN208736380U
• 公開（公告）日: 2019-04-12
• 發明（設計）人: 王斌;齊鐵城;黃運忠;李超;張靜辰;殷紅秋;楊建華
• 申請（專利權）人: 中核新科（天津）精密機械制造有限公司
• 主分類號: G01B21/04
• 分類號: G01B21/04;G01B21/00
• 代理公司: 天津創智天誠知識產權代理事務所(普通合伙) 12214
• 代理人: 周慶路;田陽

本實用新型公開了一種磁力吸附式定位及回轉機構、檢測設備，包括固定連接并形成同步回轉整體的定位機構和回轉機構。本實用新型可實現帶錐面的環形薄盤的快速裝卡定位，軸向定位采用磁力吸附的方式，吸附力通過改變強力磁柱在導向孔中的軸向位置調節，避免檢測定位過程中二次變形，同時可保證形位公差參數的準確檢測；回轉機構的回轉精度達到0.003mm，在不同轉速下，精度誤差在±0.001mm以內，最大限度減小了傳動系統的系統誤差；實現了回轉軸系與工件定位臺的一體化設計，避免了傳動機構和定位機構之間配合誤差的出現；還具有摩擦矩小、載荷大、可靠性高等優點，可有效避免因回轉軸系旋轉精度低而帶來的系統誤差，滿足帶錐面的環形薄盤快速檢測的采點需要。

技術領域

本實用新型涉及機械產品精密檢測技術領域，具體涉及一種磁力吸附式定位及回轉機構、檢測設備。

背景技術

帶錐面的環形薄盤是一種薄壁金屬件，軸向及徑向檢測項目多，包括厚度、壁厚均勻度、同軸度等重要幾何尺寸及形位公差，三坐標測量機檢測方法是典型的精密測試方法，雖然可達到較高的測量精度，但檢測效率較低，而且對人員的技術水平要求較高，故無法適應批量檢測的要求。因此，必須開發可滿足批量制造背景下的在線檢測方法，研制可實現快速、精確測量的專用檢測設備，該設備應可實現對帶錐面的環形薄盤的眾多參數同時檢測，從而提高檢測效率。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術的不足，提供一種用于檢測帶錐面的環形薄盤的重要幾何尺寸及形位公差的磁力吸附式定位及回轉機構，該機構不僅可實現對帶錐面的環形薄盤的精確測量定位，還可以帶動其精密回轉，從而完成精確的測量采點，進而實現對帶錐面的環形薄盤的快速、精確測量，提高了檢測效率，適應了批量檢測的要求。

本實用新型的另一個目的是提供一種帶有磁力吸附式定位及回轉機構的檢測設備。

本實用新型是通過以下技術方案實現的：

一種磁力吸附式定位及回轉機構，包括固定連接并形成同步回轉整體的定位機構和回轉機構；

所述的定位機構包括定位臺，所述的定位臺頂端設置有用于吸附帶錐面的環形薄盤的強力磁柱；

所述的回轉機構包括固定連接在所述定位臺底端并能夠沿軸向旋轉的主軸以及套設在所述主軸外的軸套，所述軸套與所述主軸同軸設置并與所述主軸之間形成相對轉動。

在上述技術方案中，所述的回轉機構包括上止推蓋、下止推蓋和螺母，所述上止推蓋與所述的主軸頂端固定連接，所述上止推蓋的底面與所述軸套頂面之間能夠相對轉動，所述的下止推蓋套設在所述主軸外且所述下止推蓋的頂面與所述軸套底面之間能夠相對轉動，所述螺母與所述主軸的底端通過螺紋連接。

在上述技術方案中，所述上止推蓋與所述定位臺一體制成或者通過螺釘固定連接。

在上述技術方案中，所述軸套的兩端均設置有相同的環形凸沿，所述主軸與所述軸套之間設置有滾珠架，該滾珠架與所述軸套的形狀相同，所述滾珠架內嵌置有能夠在所述滾珠架內自由滾動的滾珠，所述滾珠均布于所述上止推蓋與所述軸套之間、所述軸套與所述下止推蓋之間以及所述軸套與所述主軸之間用于實現所述主軸的軸系回轉。

在上述技術方案中，位于所述軸套與所述主軸之間的滾珠呈螺旋線形排列。

在上述技術方案中，所述的定位臺豎直設置，為階梯軸結構，自上而下依次為第一軸段、第二軸段、第三軸段和第四軸段，所述第一軸段的軸徑依照帶錐面的環形薄盤的中心孔配做且二者間隙配合；所述第二軸段的軸徑大于所述第一軸段的軸徑，其靠近所述第一軸段的端面為錐角呈0°-180°的凹面，該凹面靠近外沿處開設有豎直貫穿所述第二軸段且呈圓周陣列均布的3-6個強力磁柱導向孔，所述強力磁柱設置在所述的強力磁柱導向孔內且其端面低于所述強力磁柱導向孔的頂端；所述第三軸段的軸徑小于所述第二軸段的軸徑；所述第四軸段靠近外沿處開設有呈圓周陣列均布的3-6個軸向通孔。