[實(shí)用新型]盆式絕緣子表面電荷快速測(cè)量裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201821617297.6
• 申請(qǐng)日: 2018-09-30
• 公開（公告）號(hào): CN209264842U
• 公開（公告）日: 2019-08-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳勉之;李曉;高春嘉;齊波;王偉;龐志開;蔡漢賢;張夢(mèng)慧;郭倩雯;盧學(xué)容;羅偉良;黃飛強(qiáng);鄭方晴
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣州供電局有限公司
• 主分類號(hào): G01R29/24
• 分類號(hào): G01R29/24
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 劉艷麗

本實(shí)用新型公開了盆式絕緣子表面電荷快速測(cè)量裝置，包括弧面探頭，斜面探頭和探頭操控機(jī)構(gòu)，所述弧面探頭用于沿弧面部分徑向測(cè)量路徑移動(dòng)完成既定路徑測(cè)量點(diǎn)位置處表面電荷測(cè)量；所述斜面探頭用于沿斜面部分徑向測(cè)量路徑移動(dòng)完成既定路徑測(cè)量點(diǎn)位置處表面電荷測(cè)量；當(dāng)完成一條路徑的電荷測(cè)量后，所述探頭操控機(jī)構(gòu)用于同時(shí)移動(dòng)弧面探頭和斜面探頭沿圓周方向運(yùn)動(dòng)預(yù)設(shè)角度，定位到下一測(cè)量路徑。采用該技術(shù)方案能夠完成盆式絕緣子等大面積不規(guī)則形狀結(jié)構(gòu)表面電荷的快速測(cè)量。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及高電壓設(shè)備、絕緣材料和靜電測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種盆式絕緣子表面電荷快速測(cè)量裝置。

背景技術(shù)

絕緣材料表面電荷的測(cè)量屬于靜電測(cè)量的范疇，不能用傳統(tǒng)的電工儀表進(jìn)行測(cè)量。目前，表面電荷的測(cè)量方法主要包括粉塵圖法，基于Pockels效應(yīng)的光學(xué)測(cè)量方法和靜電探頭法。粉塵圖法最初由Lichtenberg于1778年提出，其原理是利用某些帶電的有色固體(如帶正電的紅色的Pb3O4，帶負(fù)電的白黃色的S)，會(huì)與絕緣子表面的電荷發(fā)生吸附效應(yīng)，比如負(fù)電荷會(huì)吸附帶正電的Pb3O4，正電荷會(huì)吸附帶負(fù)電的S。當(dāng)將這些特殊的固體粉末噴灑在介質(zhì)表面時(shí)，可以根據(jù)介質(zhì)表面的這些固體粉末的顏色分布來(lái)判斷介質(zhì)表面的電荷極性及電荷分布。其優(yōu)點(diǎn)是方便、直觀，缺點(diǎn)是不能定量表征表面電荷，且在噴灑粉塵過(guò)程中，可能改變介質(zhì)表面的電荷分布。Pockels效應(yīng)光學(xué)測(cè)量方法即線性電光效應(yīng)法，對(duì)于不具有對(duì)稱中心的晶體來(lái)說(shuō)，當(dāng)其處在電場(chǎng)中時(shí)，其折射率的變化與所加的電場(chǎng)強(qiáng)度成正比關(guān)系，即在電場(chǎng)不太強(qiáng)時(shí)已經(jīng)表現(xiàn)得比較明顯,因而可以通過(guò)測(cè)量電場(chǎng)作用下晶體折射率的變化來(lái)反映電場(chǎng)的變化，但此方法只適用于透明薄膜，對(duì)盆式絕緣子固體表面并不適合。

GIS盆式絕緣子表面為不規(guī)則形狀，包括弧面部分與斜面部分，需設(shè)置兩個(gè)探頭進(jìn)行表面電荷的測(cè)量。盆式絕緣子表面積較大，如果進(jìn)行逐一電荷測(cè)量，短時(shí)間內(nèi)難以完成，而表面電荷在長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量過(guò)程中的電荷消散亦會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性帶來(lái)影響。

綜上所述，對(duì)GIS盆式絕緣子等大面積不規(guī)則形狀來(lái)說(shuō)，亟待提出一種表面電荷的快速測(cè)量方法，降低表面電荷的測(cè)量時(shí)間，減小電荷消散對(duì)于表面電荷測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確性的影響。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型實(shí)施例的目的在于提供盆式絕緣子表面電荷快速測(cè)量裝置，能夠完成盆式絕緣子等大面積不規(guī)則形狀結(jié)構(gòu)表面電荷的快速測(cè)量。

本實(shí)用新型提供了盆式絕緣子表面電荷快速測(cè)量裝置，包括弧面探頭，斜面探頭和探頭操控機(jī)構(gòu)，所述弧面探頭用于沿弧面部分徑向測(cè)量路徑移動(dòng)完成既定路徑測(cè)量點(diǎn)位置處表面電荷測(cè)量；所述斜面探頭用于沿斜面部分徑向測(cè)量路徑移動(dòng)完成既定路徑測(cè)量點(diǎn)位置處表面電荷測(cè)量；當(dāng)完成一條路徑的電荷測(cè)量后，所述探頭操控機(jī)構(gòu)用于同時(shí)移動(dòng)弧面探頭和斜面探頭沿圓周方向運(yùn)動(dòng)預(yù)設(shè)角度，定位到下一測(cè)量路徑。

可選地，所述弧面部分及斜面部分的起始測(cè)量點(diǎn)為弧面部分和斜面部分距離高壓電極最遠(yuǎn)的測(cè)量點(diǎn)。

可選地，所述弧面探頭與斜面探頭之間相對(duì)位置為180°。

可選地，所述斜面探頭與弧面探頭沿絕緣子徑向方向運(yùn)動(dòng)為分時(shí)運(yùn)動(dòng)，沿絕緣子表面圓周方向運(yùn)動(dòng)預(yù)設(shè)角度為同時(shí)運(yùn)動(dòng)。

可選地，還包括，根據(jù)所述盆式絕緣子的形狀、尺寸，確定表面徑向電荷測(cè)量路徑及各個(gè)路徑之間的預(yù)設(shè)角度間隔。

可選地，在每一條徑向測(cè)量路徑上設(shè)置測(cè)量點(diǎn)，并確定各個(gè)徑向測(cè)量點(diǎn)之間的間距，形成測(cè)量點(diǎn)矩陣。

由上可見，應(yīng)用本實(shí)施例技術(shù)方案，由于采用表面電荷的測(cè)量起始點(diǎn)為距離高壓電極距離最遠(yuǎn)的位置，有效的避免了該位置表面電荷消散過(guò)快對(duì)于測(cè)量結(jié)果帶來(lái)的影響。同時(shí)采用圓周方向表面電荷感應(yīng)探頭的運(yùn)動(dòng)形式為同步運(yùn)動(dòng)，沿絕緣子徑向探頭測(cè)量軌跡為“S型”，能夠有效的減小探頭移動(dòng)帶來(lái)的額外的測(cè)量時(shí)間。

附圖說(shuō)明